AtomExplorer AFM: MFM, EFM y KFM integrados para el análisis de materiales

Descripción del Producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de tipo Básico es un instrumento de vanguardia diseñado para ofrecer un rendimiento y una versatilidad excepcionales para una amplia gama de aplicaciones de análisis de superficies. Diseñado con tecnología avanzada, este microscopio AFM ofrece capacidades AFM con resolución subnanométrica, lo que permite a investigadores e ingenieros observar y medir la topografía y las propiedades de la superficie con una precisión sin igual. Su excepcional nivel de ruido en el eje Z de solo 0,04 nanómetros garantiza que incluso las características de superficie más sutiles puedan detectarse y analizarse con precisión, lo que lo convierte en una herramienta indispensable en nanotecnología, ciencia de materiales e investigación de semiconductores.

Una de las características destacadas del Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico son sus capacidades de medición multifuncionales. Admite una variedad de técnicas avanzadas de sonda de barrido, incluyendo Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Fuerza de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM). Estas mediciones multifuncionales permiten a los usuarios investigar no solo la morfología de la superficie, sino también las propiedades eléctricas, piezoeléctricas y magnéticas de las muestras con alta sensibilidad y resolución espacial. Esta versatilidad hace que el AFM sea ideal para la caracterización a nanoescala integral en múltiples disciplinas científicas.

El instrumento opera en varios modos para adaptarse a diferentes tipos de muestras y necesidades de medición. Admite el Modo Tap, el Modo Contacto, el Modo Lift y el Modo de Imagen de Fase, lo que brinda flexibilidad a los usuarios para elegir el enfoque de escaneo óptimo. El Modo Tap ayuda a reducir el daño a la muestra y el desgaste de la punta al contactar intermitentemente la superficie de la muestra, mientras que el Modo Contacto permite la interacción continua con la superficie, útil para muestras duras. El Modo Lift es particularmente beneficioso para mediciones de fuerza magnética y eléctrica, y el Modo de Imagen de Fase ofrece información sobre la composición del material y las propiedades mecánicas al detectar cambios de fase durante el escaneo.

El AFM de tipo Básico presenta un amplio rango de puntos de muestreo de imagen, desde un mínimo de 32*32 puntos hasta un máximo de 4096*4096 puntos. Este amplio rango de resoluciones de muestreo permite a los usuarios equilibrar la velocidad de escaneo y el detalle de la imagen de acuerdo con sus requisitos experimentales específicos. Los puntos de muestreo más altos dan como resultado imágenes más detalladas, revelando estructuras de superficie intrincadas y características a nanoescala con una claridad excepcional.

Para garantizar un análisis completo de la superficie, el microscopio utiliza un método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ. Esta técnica de escaneo proporciona un movimiento y posicionamiento tridimensionales completos de la platina de la muestra, lo que permite un control preciso sobre las direcciones lateral (ejes X e Y) y vertical (eje Z). La capacidad de escaneo de tres ejes facilita el examen de geometrías de muestra complejas y áreas de superficie grandes, lo que mejora la versatilidad y la usabilidad del instrumento en diversos entornos de investigación.

En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico es una herramienta potente y versátil que combina la imagen AFM con resolución subnanométrica con capacidades de medición multifuncionales, incluyendo la Microscopía de Fuerza Magnética (MFM) y otras técnicas avanzadas. Su bajo nivel de ruido, múltiples modos de funcionamiento, alta capacidad de muestreo de imágenes y sistema de escaneo de tres ejes XYZ lo convierten en una opción ideal para los investigadores que buscan una caracterización de superficies de alta precisión. Ya sea que se investiguen propiedades eléctricas, piezoeléctricas, magnéticas o topográficas, este microscopio AFM ofrece datos confiables y detallados, lo que respalda los avances en nanociencia e investigación de materiales avanzados.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico
• Método de escaneo: Escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ para una imagen de topografía a nanoescala precisa
• Mediciones multifuncionales: Incluye capacidades de Microscopio de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopio de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopio de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) y Microscopio de Fuerza Magnética (MFM)
• Rango de escaneo: Opciones disponibles de 100 μm * 100 μm * 10 μm y 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Nivel de ruido del eje Z: El nivel de ruido ultrabajo de 0,04 nm garantiza una imagen de alta resolución
• Modos de funcionamiento: Admite el Modo Tap, el Modo Contacto, el Modo Lift y el Modo de Imagen de Fase para aplicaciones versátiles de Microscopio AFM
• Diseñado como un Microscopio de Fuerza Atómica Básico adecuado para imágenes de topografía a nanoescala detalladas

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El AtomExplorer de Truth Instruments, un Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de tipo Básico fabricado en China, es un microscopio a nanoescala avanzado diseñado para proporcionar un análisis detallado de la textura de la superficie con capacidades AFM de resolución subnanométrica. Este instrumento versátil es ideal para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación de productos tanto en entornos de investigación como industriales.

En laboratorios académicos y de investigación, el AtomExplorer se utiliza ampliamente para estudios de ciencia de materiales donde la caracterización precisa de la superficie es fundamental. Su capacidad para operar en múltiples modos, incluyendo el Modo Tap, el Modo Contacto, el Modo Lift y el Modo de Imagen de Fase, permite a los investigadores investigar las propiedades físicas y químicas de varias muestras con una precisión excepcional. La resolución AFM subnanométrica garantiza que incluso las características de superficie más pequeñas puedan ser observadas y analizadas, lo que lo hace indispensable para la investigación en nanotecnología, la inspección de semiconductores y los estudios biomoleculares.

En la industria de los semiconductores, el AtomExplorer juega un papel crucial en el control de calidad y el análisis de fallas. Su método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ cubre muestras de hasta Φ 25 mm, proporcionando un análisis completo de la textura de la superficie para obleas, películas delgadas y componentes microelectrónicos. El alto rango de puntos de muestreo de imagen, de 32*32 a 4096*4096, permite la obtención de imágenes detalladas y el mapeo de irregularidades de la superficie a nanoescala, que son críticos para el rendimiento y la fiabilidad del dispositivo.

Para aplicaciones industriales, el bajo nivel de ruido del eje Z del AtomExplorer de 0,04 nm garantiza mediciones estables y precisas incluso en entornos desafiantes. Esto lo hace adecuado para su uso en campos como recubrimientos, polímeros y nanocompuestos, donde la morfología de la superficie afecta la calidad del producto. El precio es negociable, lo que permite a las empresas adaptar la inversión de acuerdo con sus necesidades y escala específicas.

Además, el AtomExplorer es una excelente herramienta para fines educativos, ya que proporciona a los estudiantes y aprendices experiencia práctica con la tecnología AFM de vanguardia. Su diseño robusto y facilidad de operación lo hacen accesible para la capacitación en técnicas de caracterización de superficies a nanoescala. En general, el AtomExplorer de Truth Instruments es un microscopio a nanoescala confiable y de alto rendimiento que satisface las demandas de diversos escenarios de aplicación que requieren un análisis preciso de la textura de la superficie e imágenes AFM con resolución subnanométrica.