AtomExplorer AFM: میکروسکوپ نیروی اتمی یکپارچه MFM، EFM و KFM برای آنالیز مواد

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه، یک ابزار پیشرفته است که برای ارائه عملکرد و تطبیق پذیری استثنایی برای طیف گسترده ای از کاربردهای آنالیز سطح طراحی شده است. این میکروسکوپ AFM که با فناوری پیشرفته مهندسی شده است، قابلیت های AFM با وضوح زیر نانومتر را ارائه می دهد و محققان و مهندسان را قادر می سازد تا توپوگرافی و خواص سطح را با دقت بی نظیری مشاهده و اندازه گیری کنند. سطح نویز محور Z برجسته آن تنها 0.04 نانومتر تضمین می کند که حتی ظریف ترین ویژگی های سطح را می توان با دقت تشخیص و تجزیه و تحلیل کرد و آن را به ابزاری ضروری در نانوتکنولوژی، علم مواد و تحقیقات نیمه هادی تبدیل می کند.

یکی از ویژگی های برجسته میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه، قابلیت های اندازه گیری چند منظوره آن است. این دستگاه از انواع تکنیک های پیشرفته کاوشگر اسکن، از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ نیروی کاوشگر کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) پشتیبانی می کند. این اندازه گیری های چند منظوره به کاربران اجازه می دهد تا نه تنها مورفولوژی سطح، بلکه خواص الکتریکی، پیزوالکتریک و مغناطیسی نمونه ها را با حساسیت و وضوح فضایی بالا بررسی کنند. این تطبیق پذیری، AFM را برای مشخصه یابی جامع در مقیاس نانو در چندین رشته علمی ایده آل می کند.

این ابزار در چندین حالت برای تطبیق انواع نمونه ها و نیازهای اندازه گیری کار می کند. این دستگاه از حالت Tap، حالت تماس، حالت Lift و حالت تصویربرداری فاز پشتیبانی می کند و انعطاف پذیری را برای کاربران فراهم می کند تا رویکرد اسکن بهینه را انتخاب کنند. حالت Tap به کاهش آسیب نمونه و سایش نوک با تماس متناوب با سطح نمونه کمک می کند، در حالی که حالت تماس امکان تعامل مداوم با سطح را فراهم می کند که برای نمونه های سخت مفید است. حالت Lift به ویژه برای اندازه گیری های نیروی مغناطیسی و الکتریکی مفید است و حالت تصویربرداری فاز بینش هایی را در مورد ترکیب مواد و خواص مکانیکی با تشخیص تغییرات فاز در حین اسکن ارائه می دهد.

AFM از نوع پایه دارای طیف وسیعی از نقاط نمونه برداری تصویر، از حداقل 32*32 نقطه تا حداکثر 4096*4096 نقطه است. این طیف گسترده از وضوح نمونه برداری، کاربران را قادر می سازد تا بین سرعت اسکن و جزئیات تصویر با توجه به نیازهای آزمایشگاهی خاص خود تعادل برقرار کنند. نقاط نمونه برداری بالاتر منجر به تصاویر دقیق تری می شود و ساختارهای پیچیده سطح و ویژگی های مقیاس نانو را با وضوح استثنایی نشان می دهد.

برای اطمینان از تجزیه و تحلیل جامع سطح، میکروسکوپ از روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ استفاده می کند. این تکنیک اسکن، حرکت و موقعیت یابی سه بعدی کامل صفحه نمونه را فراهم می کند و امکان کنترل دقیق در جهت های جانبی (محورهای X و Y) و عمودی (محور Z) را فراهم می کند. قابلیت اسکن سه محوره، بررسی هندسه های پیچیده نمونه و مناطق وسیع سطح را تسهیل می کند و تطبیق پذیری و قابلیت استفاده از ابزار را در تنظیمات تحقیقاتی متنوع افزایش می دهد.

به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه، یک ابزار قدرتمند و همه کاره است که تصویربرداری AFM با وضوح زیر نانومتر را با قابلیت های اندازه گیری چند منظوره، از جمله میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) و سایر تکنیک های پیشرفته ترکیب می کند. سطح نویز کم، حالت های عملیاتی متعدد، قابلیت نمونه برداری تصویر بالا و سیستم اسکن سه محوره XYZ آن، آن را به انتخابی ایده آل برای محققانی تبدیل می کند که به دنبال مشخصه یابی سطح با دقت بالا هستند. این میکروسکوپ AFM، چه در حال بررسی خواص الکتریکی، پیزوالکتریک، مغناطیسی یا توپوگرافی باشد، داده های قابل اعتماد و دقیقی را ارائه می دهد و از پیشرفت ها در علوم نانو و تحقیقات مواد پیشرفته پشتیبانی می کند.

ویژگی ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه
• روش اسکن: اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ برای تصویربرداری دقیق توپوگرافی در مقیاس نانو
• اندازه گیری های چند منظوره: شامل میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ کاوشگر کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و قابلیت های میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)
• محدوده اسکن: گزینه های 100 میکرومتر * 100 میکرومتر * 10 میکرومتر و 30 میکرومتر * 30 میکرومتر * 5 میکرومتر موجود است
• سطح نویز محور Z: سطح نویز فوق العاده کم 0.04 نانومتر، تصویربرداری با وضوح بالا را تضمین می کند
• حالت های عملیاتی: از حالت Tap، حالت تماس، حالت Lift و حالت تصویربرداری فاز برای کاربردهای همه کاره میکروسکوپ AFM پشتیبانی می کند
• به عنوان یک میکروسکوپ نیروی اتمی پایه مناسب برای تصویربرداری دقیق توپوگرافی در مقیاس نانو طراحی شده است

پارامترهای فنی:

کاربردها:

AtomExplorer از Truth Instruments، یک میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه که در چین تولید می شود، یک میکروسکوپ پیشرفته در مقیاس نانو است که برای ارائه تجزیه و تحلیل دقیق بافت سطح با قابلیت های AFM با وضوح زیر نانومتر طراحی شده است. این ابزار همه کاره برای طیف گسترده ای از موارد و سناریوهای کاربرد محصول در محیط های تحقیقاتی و صنعتی ایده آل است.

در آزمایشگاه های دانشگاهی و تحقیقاتی، AtomExplorer به طور گسترده برای مطالعات علوم مواد استفاده می شود که در آن مشخصه یابی دقیق سطح بسیار مهم است. توانایی آن در کار در حالت های متعدد—از جمله حالت Tap، حالت تماس، حالت Lift و حالت تصویربرداری فاز—به محققان اجازه می دهد تا خواص فیزیکی و شیمیایی نمونه های مختلف را با دقت استثنایی بررسی کنند. AFM با وضوح زیر نانومتر تضمین می کند که حتی کوچکترین ویژگی های سطح را می توان مشاهده و تجزیه و تحلیل کرد و آن را برای تحقیقات نانوتکنولوژی، بازرسی نیمه هادی ها و مطالعات بیومولکولی ضروری می کند.

در صنعت نیمه هادی ها، AtomExplorer نقش مهمی در کنترل کیفیت و تجزیه و تحلیل خرابی دارد. روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ آن، نمونه هایی تا Φ 25 میلی متر را پوشش می دهد و تجزیه و تحلیل جامع بافت سطح را برای ویفرها، لایه های نازک و اجزای میکروالکترونیکی ارائه می دهد. محدوده نقاط نمونه برداری تصویر بالا از 32*32 تا 4096*4096، تصویربرداری دقیق و نقشه برداری از بی نظمی های سطح در مقیاس نانو را امکان پذیر می کند که برای عملکرد و قابلیت اطمینان دستگاه بسیار مهم است.

برای کاربردهای صنعتی، سطح نویز کم محور Z AtomExplorer به میزان 0.04 نانومتر، اندازه گیری های پایدار و دقیقی را حتی در محیط های چالش برانگیز تضمین می کند. این امر آن را برای استفاده در زمینه هایی مانند پوشش ها، پلیمرها و نانوکامپوزیت ها مناسب می کند، جایی که مورفولوژی سطح بر کیفیت محصول تأثیر می گذارد. قیمت قابل مذاکره است و به کسب و کارها اجازه می دهد تا سرمایه گذاری را با توجه به نیازها و مقیاس خاص خود تنظیم کنند.

علاوه بر این، AtomExplorer یک ابزار عالی برای اهداف آموزشی است و به دانش آموزان و کارآموزان تجربه عملی با فناوری پیشرفته AFM می دهد. طراحی قوی و سهولت عملکرد آن، دسترسی به آموزش در تکنیک های مشخصه یابی سطح در مقیاس نانو را فراهم می کند. به طور کلی، AtomExplorer از Truth Instruments یک میکروسکوپ مقیاس نانو قابل اعتماد و با کارایی بالا است که نیازهای سناریوهای کاربردی متنوع را که نیاز به تجزیه و تحلیل دقیق بافت سطح و تصویربرداری AFM با وضوح زیر نانومتر دارند، برآورده می کند.