AtomExplorer AFM: مجهر القوة الذرية المتكامل (MFM, EFM & KFM) لتحليل المواد

وصف المنتج:

المجهر القوة الذرية (AFM) من النوع الأساسي هو أداة متطورة مصممة لتقديم أداء ومرونة استثنائيين لمجموعة واسعة من تطبيقات تحليل السطح. تم تصميمه بتقنية متقدمة، يوفر مجهر AFM هذا إمكانات AFM بدقة دون النانومتر، مما يمكّن الباحثين والمهندسين من مراقبة وقياس طبوغرافيا السطح وخصائصه بدقة لا مثيل لها. يضمن مستوى ضوضاء المحور Z المتميز الذي يبلغ 0.04 نانومتر فقط أنه يمكن اكتشاف وتحليل حتى أدق ميزات السطح بدقة، مما يجعله أداة لا غنى عنها في تكنولوجيا النانو وعلوم المواد وأبحاث أشباه الموصلات.

إحدى الميزات البارزة للمجهر القوة الذرية من النوع الأساسي هي قدراته القياس متعددة الوظائف. وهو يدعم مجموعة متنوعة من تقنيات المسح المتقدمة، بما في ذلك مجهر القوة الكهروستاتيكية (EFM) ومجهر القوة المسح الضوئي لكلفن (KPFM) ومجهر القوة الكهروضغطية (PFM) ومجهر القوة المغناطيسية (MFM). تسمح هذه القياسات متعددة الوظائف للمستخدمين بالتحقيق ليس فقط في مورفولوجيا السطح ولكن أيضًا في الخصائص الكهربائية والكهروضغطية والمغناطيسية للعينات بدقة وحساسية مكانية عالية. هذه القدرة على التكيف تجعل AFM مثاليًا للوصف النانوي الشامل عبر العديد من التخصصات العلمية.

تعمل الأداة في عدة أوضاع لاستيعاب أنواع العينات المختلفة واحتياجات القياس. وهو يدعم وضع النقر، ووضع التلامس، ووضع الرفع، ووضع التصوير الطوري، مما يوفر المرونة للمستخدمين لاختيار نهج المسح الأمثل. يساعد وضع النقر على تقليل تلف العينة وتآكل الطرف عن طريق الاتصال المتقطع بسطح العينة، بينما يسمح وضع التلامس بالتفاعل المستمر مع السطح، وهو مفيد للعينات الصلبة. يعتبر وضع الرفع مفيدًا بشكل خاص لقياسات القوة المغناطيسية والكهربائية، ويوفر وضع التصوير الطوري رؤى حول تكوين المواد وخصائصها الميكانيكية عن طريق اكتشاف تحولات الطور أثناء المسح.

يتميز AFM من النوع الأساسي بنطاق واسع من نقاط أخذ العينات للصور، بدءًا من 32*32 نقطة كحد أدنى وصولاً إلى 4096*4096 نقطة كحد أقصى. يتيح هذا النطاق الواسع من دقة أخذ العينات للمستخدمين تحقيق التوازن بين سرعة المسح وتفاصيل الصورة وفقًا لمتطلباتهم التجريبية المحددة. تؤدي نقاط أخذ العينات الأعلى إلى صور أكثر تفصيلاً، مما يكشف عن هياكل سطحية معقدة وميزات نانوية بوضوح استثنائي.

لضمان تحليل شامل للسطح، يستخدم المجهر طريقة مسح كاملة للعينة ثلاثية المحاور XYZ. توفر تقنية المسح هذه حركة وتحديد موضع ثلاثي الأبعاد كامل لمنصة العينة، مما يسمح بالتحكم الدقيق في الاتجاهات الجانبية (محوري X و Y) والرأسية (المحور Z). تسهل إمكانية المسح ثلاثي المحاور فحص أشكال العينات المعقدة ومساحات السطح الكبيرة، مما يعزز تنوع الأداة وقابليتها للاستخدام في إعدادات بحثية متنوعة.

باختصار، يعد المجهر القوة الذرية من النوع الأساسي أداة قوية ومتعددة الاستخدامات تجمع بين تصوير AFM بدقة دون النانومتر مع إمكانات القياس متعددة الوظائف، بما في ذلك مجهر القوة المغناطيسية (MFM) والتقنيات المتقدمة الأخرى. إن مستوى الضوضاء المنخفض، وأوضاع التشغيل المتعددة، وقدرة أخذ العينات العالية للصور، ونظام المسح ثلاثي المحاور XYZ يجعله خيارًا مثاليًا للباحثين الذين يبحثون عن توصيف سطحي عالي الدقة. سواء كان التحقيق في الخصائص الكهربائية أو الكهروضغطية أو المغناطيسية أو الطبوغرافية، فإن مجهر AFM هذا يوفر بيانات موثوقة ومفصلة، مما يدعم التطورات في علوم النانو وأبحاث المواد المتقدمة.

الميزات:

• اسم المنتج: مجهر القوة الذرية من النوع الأساسي
• طريقة المسح: مسح كامل للعينة ثلاثي المحاور XYZ لتصوير طبوغرافيا نانوية دقيقة
• قياسات متعددة الوظائف: تتضمن مجهر القوة الكهروستاتيكية (EFM) ومجهر المسح الضوئي لكلفن (KPFM) ومجهر القوة الكهروضغطية (PFM) وإمكانات مجهر القوة المغناطيسية (MFM)
• نطاق المسح: تتوفر خيارات 100 ميكرومتر * 100 ميكرومتر * 10 ميكرومتر و 30 ميكرومتر * 30 ميكرومتر * 5 ميكرومتر
• مستوى ضوضاء المحور Z: يضمن مستوى الضوضاء المنخفض للغاية البالغ 0.04 نانومتر تصويرًا عالي الدقة
• أوضاع التشغيل: يدعم وضع النقر، ووضع التلامس، ووضع الرفع، ووضع التصوير الطوري لتطبيقات مجهر AFM متعددة الاستخدامات
• مصمم كمجهر قوة ذرية أساسي مناسب لتصوير طبوغرافيا نانوية مفصلة

المعايير الفنية:

التطبيقات:

إن Truth Instruments AtomExplorer، وهو مجهر القوة الذرية (AFM) من النوع الأساسي المصنع في الصين، هو مجهر نانوي متقدم مصمم لتوفير تحليل مفصل لنسيج السطح مع إمكانات AFM بدقة دون النانومتر. هذه الأداة متعددة الاستخدامات مثالية لمجموعة واسعة من مناسبات وسيناريوهات تطبيق المنتج في كل من البيئات البحثية والصناعية.

في المختبرات الأكاديمية والبحثية، يتم استخدام AtomExplorer على نطاق واسع لدراسات علوم المواد حيث يكون توصيف السطح الدقيق أمرًا بالغ الأهمية. تتيح قدرته على العمل في أوضاع متعددة — بما في ذلك وضع النقر، ووضع التلامس، ووضع الرفع، ووضع التصوير الطوري — للباحثين التحقيق في الخصائص الفيزيائية والكيميائية لمختلف العينات بدقة استثنائية. يضمن AFM بدقة دون النانومتر أنه يمكن ملاحظة وتحليل حتى أصغر ميزات السطح، مما يجعله ضروريًا لأبحاث تكنولوجيا النانو وفحص أشباه الموصلات والدراسات الجزيئية الحيوية.

في صناعة أشباه الموصلات، يلعب AtomExplorer دورًا حاسمًا في مراقبة الجودة وتحليل الأعطال. تغطي طريقة المسح الكامل للعينة ثلاثية المحاور XYZ عينات تصل إلى Φ 25 مم، مما يوفر تحليلًا شاملاً لنسيج السطح للرقائق والأغشية الرقيقة والمكونات الإلكترونية الدقيقة. يتراوح نطاق نقاط أخذ عينات الصور المرتفعة من 32*32 إلى 4096*4096، مما يتيح التصوير التفصيلي ورسم خرائط لعدم انتظام السطح النانوي، وهو أمر بالغ الأهمية لأداء الجهاز وموثوقيته.

بالنسبة للتطبيقات الصناعية، يضمن مستوى ضوضاء المحور Z المنخفض لـ AtomExplorer البالغ 0.04 نانومتر قياسات مستقرة ودقيقة حتى في البيئات الصعبة. هذا يجعله مناسبًا للاستخدام في مجالات مثل الطلاء والبوليمرات والمركبات النانوية، حيث تؤثر مورفولوجيا السطح على جودة المنتج. السعر قابل للتفاوض، مما يسمح للشركات بتخصيص الاستثمار وفقًا لاحتياجاتها وحجمها المحدد.

بالإضافة إلى ذلك، يعد AtomExplorer أداة ممتازة للأغراض التعليمية، حيث يوفر للطلاب والمتدربين خبرة عملية في أحدث تقنيات AFM. إن تصميمه القوي وسهولة تشغيله يجعله في متناول التدريب على تقنيات توصيف السطح النانوي. بشكل عام، يعد Truth Instruments AtomExplorer مجهرًا نانويًا موثوقًا وعالي الأداء يلبي متطلبات سيناريوهات التطبيقات المتنوعة التي تتطلب تحليلًا دقيقًا لنسيج السطح وتصوير AFM بدقة دون النانومتر.