AtomExplorer AFM: Zintegrowany MFM, EFM i KFM do analizy materiałów

Opis produktu:

Mikroskop sił atomowych (AFM) typu Basic to najnowocześniejsze urządzenie zaprojektowane w celu zapewnienia wyjątkowej wydajności i wszechstronności dla szerokiego zakresu zastosowań w analizie powierzchni. Zaprojektowany z wykorzystaniem zaawansowanej technologii, ten mikroskop AFM oferuje możliwości AFM o rozdzielczości subnanometrowej, umożliwiając naukowcom i inżynierom obserwację i pomiar topografii i właściwości powierzchni z niezrównaną precyzją. Jego wyjątkowy poziom szumów w osi Z wynoszący zaledwie 0,04 nanometra zapewnia, że nawet najbardziej subtelne cechy powierzchni mogą być wykrywane i analizowane z dużą dokładnością, co czyni go niezbędnym narzędziem w nanotechnologii, nauce o materiałach i badaniach nad półprzewodnikami.

Jedną z wyróżniających cech mikroskopu sił atomowych typu Basic są jego wielofunkcyjne możliwości pomiarowe. Obsługuje on szereg zaawansowanych technik skanowania sondą, w tym mikroskopię sił elektrostatycznych (EFM), mikroskopię sił skaningowych sondą Kelvina (KPFM), mikroskopię sił piezoelektrycznych (PFM) i mikroskopię sił magnetycznych (MFM). Te wielofunkcyjne pomiary pozwalają użytkownikom badać nie tylko morfologię powierzchni, ale także właściwości elektryczne, piezoelektryczne i magnetyczne próbek z dużą czułością i rozdzielczością przestrzenną. Ta wszechstronność sprawia, że AFM jest idealny do kompleksowej charakteryzacji w nanoskali w wielu dyscyplinach naukowych.

Urządzenie działa w kilku trybach, aby dostosować się do różnych typów próbek i potrzeb pomiarowych. Obsługuje tryb Tap, tryb Contact, tryb Lift i tryb Phase Imaging, zapewniając użytkownikom elastyczność w wyborze optymalnego podejścia do skanowania. Tryb Tap pomaga zmniejszyć uszkodzenia próbki i zużycie końcówki poprzez przerywany kontakt z powierzchnią próbki, podczas gdy tryb Contact umożliwia ciągłą interakcję z powierzchnią, przydatną w przypadku twardych próbek. Tryb Lift jest szczególnie korzystny w przypadku pomiarów sił magnetycznych i elektrycznych, a tryb Phase Imaging oferuje wgląd w skład materiału i właściwości mechaniczne poprzez wykrywanie przesunięć fazowych podczas skanowania.

Mikroskop AFM typu Basic charakteryzuje się szerokim zakresem punktów próbkowania obrazu, od minimum 32*32 punktów do maksimum 4096*4096 punktów. Ten szeroki zakres rozdzielczości próbkowania umożliwia użytkownikom równoważenie między prędkością skanowania a szczegółowością obrazu zgodnie z ich specyficznymi wymaganiami eksperymentalnymi. Większa liczba punktów próbkowania skutkuje bardziej szczegółowymi obrazami, ujawniając skomplikowane struktury powierzchni i cechy w nanoskali z wyjątkową przejrzystością.

Aby zapewnić kompleksową analizę powierzchni, mikroskop wykorzystuje metodę skanowania pełnej próbki w trzech osiach XYZ. Ta technika skanowania zapewnia pełny trójwymiarowy ruch i pozycjonowanie stolika próbki, umożliwiając precyzyjną kontrolę nad kierunkami bocznymi (osie X i Y) i pionowymi (oś Z). Możliwość skanowania w trzech osiach ułatwia badanie złożonych geometrii próbek i dużych powierzchni, zwiększając wszechstronność i użyteczność instrumentu w różnych warunkach badawczych.

Podsumowując, mikroskop sił atomowych typu Basic to potężne i wszechstronne narzędzie, które łączy w sobie obrazowanie AFM o rozdzielczości subnanometrowej z wielofunkcyjnymi możliwościami pomiarowymi, w tym mikroskopię sił magnetycznych (MFM) i inne zaawansowane techniki. Niski poziom szumów, wiele trybów pracy, wysoka zdolność próbkowania obrazu i system skanowania w trzech osiach XYZ sprawiają, że jest to idealny wybór dla naukowców poszukujących precyzyjnej charakteryzacji powierzchni. Niezależnie od tego, czy badane są właściwości elektryczne, piezoelektryczne, magnetyczne czy topograficzne, ten mikroskop AFM dostarcza wiarygodnych i szczegółowych danych, wspierając przełomy w nanonauce i zaawansowanych badaniach materiałowych.

Cechy:

• Nazwa produktu: Mikroskop sił atomowych typu Basic
• Metoda skanowania: Skanowanie pełnej próbki w trzech osiach XYZ dla precyzyjnego obrazowania topografii w nanoskali
• Pomiary wielofunkcyjne: Obejmuje mikroskop sił elektrostatycznych (EFM), mikroskop skaningowy sondą Kelvina (KPFM), mikroskop sił piezoelektrycznych (PFM) i możliwości mikroskopu sił magnetycznych (MFM)
• Zakres skanowania: Dostępne opcje 100 μm * 100 μm * 10 μm i 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Poziom szumów w osi Z: Bardzo niski poziom szumów 0,04 nm zapewnia obrazowanie o wysokiej rozdzielczości
• Tryby pracy: Obsługuje tryb Tap, tryb Contact, tryb Lift i tryb Phase Imaging dla wszechstronnych zastosowań mikroskopu AFM
• Zaprojektowany jako podstawowy mikroskop sił atomowych odpowiedni do szczegółowego obrazowania topografii w nanoskali

Parametry techniczne:

Zastosowania:

AtomExplorer firmy Truth Instruments, mikroskop sił atomowych (AFM) typu Basic wyprodukowany w Chinach, to zaawansowany mikroskop w nanoskali zaprojektowany w celu zapewnienia szczegółowej analizy tekstury powierzchni z możliwościami AFM o rozdzielczości subnanometrowej. To wszechstronne urządzenie jest idealne do szerokiego zakresu zastosowań produktowych i scenariuszy zarówno w środowiskach badawczych, jak i przemysłowych.

W laboratoriach akademickich i badawczych AtomExplorer jest szeroko stosowany do badań nad materiałami, w których precyzyjna charakteryzacja powierzchni ma kluczowe znaczenie. Jego zdolność do pracy w wielu trybach — w tym w trybie Tap, trybie Contact, trybie Lift i trybie Phase Imaging — pozwala naukowcom na badanie właściwości fizycznych i chemicznych różnych próbek z wyjątkową dokładnością. Rozdzielczość AFM subnanometrowa zapewnia, że nawet najmniejsze cechy powierzchni mogą być obserwowane i analizowane, co czyni go niezbędnym w badaniach nanotechnologii, inspekcji półprzewodników i badaniach biomolekularnych.

W przemyśle półprzewodników AtomExplorer odgrywa kluczową rolę w kontroli jakości i analizie awarii. Jego metoda skanowania pełnej próbki w trzech osiach XYZ obejmuje próbki o średnicy do Φ 25 mm, zapewniając kompleksową analizę tekstury powierzchni dla płytek, cienkich warstw i komponentów mikroelektronicznych. Wysoki zakres punktów próbkowania obrazu od 32*32 do 4096*4096 umożliwia szczegółowe obrazowanie i mapowanie nieregularności powierzchni w nanoskali, które mają kluczowe znaczenie dla wydajności i niezawodności urządzenia.

W zastosowaniach przemysłowych niski poziom szumów w osi Z AtomExplorera wynoszący 0,04 nm zapewnia stabilne i precyzyjne pomiary nawet w trudnych warunkach. Dzięki temu nadaje się do stosowania w takich dziedzinach, jak powłoki, polimery i nanokompozyty, gdzie morfologia powierzchni wpływa na jakość produktu. Cena jest do negocjacji, co pozwala firmom dostosować inwestycję do ich specyficznych potrzeb i skali.

Ponadto AtomExplorer jest doskonałym narzędziem do celów edukacyjnych, zapewniając studentom i stażystom praktyczne doświadczenie z najnowocześniejszą technologią AFM. Jego solidna konstrukcja i łatwość obsługi sprawiają, że jest dostępny do szkolenia w zakresie technik charakteryzacji powierzchni w nanoskali. Ogólnie rzecz biorąc, Truth Instruments AtomExplorer to niezawodny, wysokowydajny mikroskop w nanoskali, który spełnia wymagania różnych scenariuszy zastosowań wymagających precyzyjnej analizy tekstury powierzchni i obrazowania AFM o rozdzielczości subnanometrowej.