AtomExplorer AFM: Integrasi MFM, EFM & KFM Untuk Analisis Bahan

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic (AFM) adalah instrumen mutakhir yang dirancang untuk memberikan kinerja dan fleksibilitas yang luar biasa untuk berbagai aplikasi analisis permukaan.Dirancang dengan teknologi canggih, mikroskop AFM ini menawarkan kemampuan AFM resolusi sub-nanometer, memungkinkan peneliti dan insinyur untuk mengamati dan mengukur topografi permukaan dan sifat dengan presisi yang tak tertandingi.Tingkat kebisingan sumbu Z yang luar biasa hanya 0.04 nanometer memastikan bahwa bahkan fitur permukaan yang paling halus dapat dideteksi dan dianalisis dengan akurat, menjadikannya alat yang sangat diperlukan dalam nanoteknologi, ilmu material,dan penelitian semikonduktor.

Salah satu fitur yang menonjol dari Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic adalah kemampuan pengukuran multifungsi.termasuk Elektrostatik Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM), dan Magnetic Force Microscopy (MFM).Pengukuran multifungsi ini memungkinkan pengguna untuk menyelidiki tidak hanya morfologi permukaan tetapi juga, sifat piezoelektrik, dan magnetik dari sampel dengan sensitivitas tinggi dan resolusi spasial.Versatilitas ini membuat AFM ideal untuk karakteristik nanoscale komprehensif di berbagai disiplin ilmu.

Instrumen ini beroperasi dalam beberapa mode untuk mengakomodasi berbagai jenis sampel dan kebutuhan pengukuran.memberikan fleksibilitas bagi pengguna untuk memilih pendekatan pemindaian yang optimal. Mode Tap membantu mengurangi kerusakan sampel dan keausan ujung dengan secara intermiten menghubungi permukaan sampel, sementara Mode Kontak memungkinkan interaksi terus menerus dengan permukaan, berguna untuk sampel keras.Lift Mode sangat bermanfaat untuk pengukuran gaya magnetik dan listrik, dan Mode Pencitraan Fase menawarkan wawasan tentang komposisi material dan sifat mekanik dengan mendeteksi pergeseran fase selama pemindaian.

AFM tipe Basic memiliki rentang titik pengambilan sampel gambar yang luas, dari minimal 32*32 poin hingga maksimum 4096*4096 poin.Rentang resolusi pengambilan sampel yang luas ini memungkinkan pengguna untuk menyeimbangkan antara kecepatan pemindaian dan detail gambar sesuai dengan kebutuhan eksperimen khusus merekaTitik pengambilan sampel yang lebih tinggi menghasilkan gambar yang lebih rinci, mengungkapkan struktur permukaan yang rumit dan fitur nanoscale dengan kejelasan yang luar biasa.

Untuk memastikan analisis permukaan yang komprehensif, mikroskop menggunakan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ.Teknik pemindaian ini menyediakan gerakan tiga dimensi lengkap dan posisi tahap sampel, memungkinkan kontrol yang tepat pada arah lateral (sumbu X dan Y) dan vertikal (sumbu Z).Kemampuan pemindaian tiga sumbu memfasilitasi pemeriksaan geometri sampel yang kompleks dan luas permukaan yang besar, meningkatkan fleksibilitas dan kegunaan instrumen dalam berbagai pengaturan penelitian.

Singkatnya, Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic adalah alat yang kuat dan serbaguna yang menggabungkan pencitraan AFM dengan resolusi sub-nanometer dengan kemampuan pengukuran multifungsi,termasuk Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM) dan teknik canggih lainnyaTingkat kebisingan yang rendah, beberapa mode operasi, kemampuan pengambilan sampel gambar yang tinggi,dan sistem pemindaian tiga sumbu XYZ menjadikannya pilihan yang ideal bagi peneliti yang mencari karakteristik permukaan presisi tinggiApakah menyelidiki sifat listrik, piezoelectric, magnet, atau topografi, mikroskop AFM ini memberikan data yang dapat diandalkan dan rinci,Mendukung terobosan dalam nanosains dan penelitian bahan canggih.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar
• Metode pemindaian: XYZ Pemindaian Sampel Penuh Tiga sumbu untuk pencitraan topografi nanoscale yang tepat
• Pengukuran multifungsi: Termasuk Elektrostatik Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM),dan kemampuan mikroskop kekuatan magnetik (MFM)
• Jangkauan pemindaian: 100 μm * 100 μm * 10 μm dan 30 μm * 30 μm * 5 μm pilihan tersedia
• Tingkat kebisingan sumbu Z: Tingkat kebisingan ultra rendah 0,04 nm memastikan pencitraan resolusi tinggi
• Mode Operasi: Mendukung Mode Tap, Mode Kontak, Mode Lift, dan Mode Pencitraan Fase untuk aplikasi Mikroskop AFM serbaguna
• Dirancang sebagai Mikroskop Kekuatan Atom Dasar yang cocok untuk pencitraan topografi nanoscale rinci

Parameter teknis:

Aplikasi:

The Truth Instruments AtomExplorer, Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar (AFM) yang diproduksi di Cina,adalah mikroskop nanoskala canggih yang dirancang untuk memberikan analisis tekstur permukaan yang rinci dengan kemampuan AFM resolusi sub-nanometerInstrumen serbaguna ini sangat ideal untuk berbagai kesempatan dan skenario aplikasi produk di lingkungan penelitian dan industri.

Dalam laboratorium akademik dan penelitian, AtomExplorer banyak digunakan untuk studi ilmu material di mana karakteristik permukaan yang tepat sangat penting.Kemampuannya untuk beroperasi dalam beberapa mode termasuk Mode Tap, Mode Kontak, Mode Angkat, dan Mode Pencitraan Fase memungkinkan peneliti untuk menyelidiki sifat fisik dan kimia dari berbagai sampel dengan akurasi yang luar biasa.Resolusi sub-nanometer AFM memastikan bahwa bahkan fitur permukaan terkecil dapat diamati dan dianalisis, sehingga sangat diperlukan untuk penelitian nanoteknologi, inspeksi semikonduktor, dan studi biomolekuler.

Dalam industri semikonduktor, AtomExplorer memainkan peran penting dalam kontrol kualitas dan analisis kegagalan.memberikan analisis tekstur permukaan yang komprehensif untuk wafer, film tipis, dan komponen mikroelektronik. titik pengambilan sampel gambar yang tinggi berkisar dari 32*32 sampai 4096*4096, memungkinkan pencitraan dan pemetaan yang terperinci dari ketidakaturan permukaan nanoscale,yang penting untuk kinerja dan keandalan perangkat.

Untuk aplikasi industri, tingkat kebisingan sumbu Z AtomExplorer yang rendah 0,04 nm memastikan pengukuran yang stabil dan tepat bahkan di lingkungan yang menantang.Hal ini membuatnya cocok untuk digunakan di bidang seperti pelapis, polimer, dan nanocomposites, di mana morfologi permukaan mempengaruhi kualitas produk.

Selain itu, AtomExplorer adalah alat yang sangat baik untuk tujuan pendidikan, memberikan siswa dan pelatih pengalaman langsung dengan teknologi AFM mutakhir.Desainnya yang kuat dan mudah dioperasikan membuatnya dapat diakses untuk pelatihan dalam teknik karakterisasi permukaan nanoscaleSecara keseluruhan, Instrumen Kebenaran AtomExplorer adalah yang dapat diandalkan,Mikroskop nanoskala berkinerja tinggi yang memenuhi permintaan skenario aplikasi yang beragam yang membutuhkan analisis tekstur permukaan yang tepat dan pencitraan AFM resolusi sub-nanometer.