AtomExplorer AFM: MFM, EFM et KFM intégrés pour l'analyse des matériaux

Description du produit:

Le microscope de force atomique de type Basic (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir des performances et une polyvalence exceptionnelles pour un large éventail d'applications d'analyse de surface.Conçu avec une technologie avancée, ce microscope AFM offre des capacités AFM à résolution inférieure aux nanomètres, permettant aux chercheurs et aux ingénieurs d'observer et de mesurer la topographie et les propriétés de surface avec une précision inégalée.Son niveau de bruit exceptionnel sur l'axe Z de seulement 0.04 nanomètres permet de détecter et d'analyser avec précision même les caractéristiques de surface les plus subtiles, ce qui en fait un outil indispensable en nanotechnologie, en sciences des matériaux,et la recherche sur les semi-conducteurs.

L'une des caractéristiques les plus remarquables du microscope de force atomique de type Basic est sa capacité de mesure multifonctionnelle.y compris la microscopie par force électrostatique (EFM), la microscopie par sonde à scanner Kelvin (KPFM), la microscopie par force piézoélectrique (PFM) et la microscopie par force magnétique (MFM).Ces mesures multifonctionnelles permettent aux utilisateurs d'étudier non seulement la morphologie de la surface, mais aussi la, les propriétés piézoélectriques et magnétiques d'échantillons à haute sensibilité et résolution spatiale.Cette polyvalence rend l'AFM idéal pour une caractérisation complète à l'échelle nanométrique dans plusieurs disciplines scientifiques.

L'instrument fonctionne en plusieurs modes pour s'adapter à différents types d'échantillons et besoins de mesure.offrant aux utilisateurs une flexibilité pour choisir l'approche de numérisation optimale. Le mode Tap aide à réduire les dommages aux échantillons et l'usure de la pointe en contactant intermittemment la surface de l'échantillon, tandis que le mode Contact permet une interaction continue avec la surface, utile pour les échantillons durs.Le mode élévation est particulièrement bénéfique pour les mesures de force magnétique et électrique, et le mode d'imagerie de phase offre des informations sur la composition du matériau et les propriétés mécaniques en détectant les changements de phase pendant le balayage.

L'AFM de type Basic dispose d'une large plage de points d'échantillonnage d'image, allant d'un minimum de 32*32 points à un maximum de 4096*4096 points.Cette large gamme de résolutions d'échantillonnage permet aux utilisateurs d'équilibrer la vitesse de balayage et le détail de l'image selon leurs besoins expérimentaux spécifiquesDes points d'échantillonnage plus élevés donnent des images plus détaillées, révélant des structures de surface complexes et des caractéristiques à l'échelle nanométrique avec une clarté exceptionnelle.

Pour assurer une analyse complète de la surface, le microscope utilise une méthode de balayage à échantillon complet à trois axes XYZ.Cette technique de numérisation permet un mouvement tridimensionnel complet et le positionnement de l'échantillon, permettant un contrôle précis des directions latérales (axes X et Y) et verticales (axe Z).La capacité de balayage à trois axes facilite l'examen de géométries d'échantillons complexes et de grandes surfaces, améliorant la polyvalence et l'utilisabilité de l'instrument dans divers contextes de recherche.

En résumé, le microscope de force atomique de type Basic est un outil puissant et polyvalent qui combine l'imagerie AFM à résolution inférieure aux nanomètres avec des capacités de mesure multifonctionnelles.y compris la microscopie par force magnétique (MFM) et autres techniques avancéesSon faible niveau de bruit, ses multiples modes de fonctionnement, sa grande capacité d'échantillonnage d'image,et le système de balayage à trois axes XYZ en font un choix idéal pour les chercheurs qui recherchent une caractérisation de surface de haute précisionQu'il s'agisse d'étudier des propriétés électriques, piézoélectriques, magnétiques ou topographiques, ce microscope AFM fournit des données fiables et détaillées.soutien aux percées dans les domaines des nanosciences et de la recherche avancée sur les matériaux.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique de type de base
• Méthode de numérisation: numérisation complète à trois axes XYZ pour une imagerie topographique à l'échelle nanométrique précise
• Mesures multifonctionnelles: comprenant le microscope à force électrostatique (EFM), le microscope à sonde Kelvin à balayage (KPFM), le microscope à force piézoélectrique (PFM),et les capacités du microscope à force magnétique (MFM)
• Plage de numérisation: 100 μm * 100 μm * 10 μm et 30 μm * 30 μm * 5 μm options disponibles
• Niveau sonore de l'axe Z: un niveau sonore ultra-faible de 0,04 nm assure une image haute résolution
• Mode de fonctionnement: Prend en charge le mode Tap, le mode Contact, le mode Lift et le mode d'imagerie de phase pour les applications polyvalentes du microscope AFM
• Conçu comme un microscope de base de la force atomique adapté à l'imagerie topographique détaillée à l'échelle nanométrique

Paramètres techniques:

Applications:

Le Truth Instruments AtomExplorer, un microscope de force atomique de type basique (AFM) fabriqué en Chine,est un microscope à l'échelle nanométrique avancé conçu pour fournir une analyse détaillée de la texture de surface avec des capacités AFM à résolution inférieure aux nanomètresCet instrument polyvalent est idéal pour un large éventail d'occasions et de scénarios d'application de produits dans les milieux de recherche et industriels.

Dans les laboratoires universitaires et de recherche, l'AtomExplorer est largement utilisé pour les études en sciences des matériaux où la caractérisation précise de la surface est essentielle.Sa capacité à fonctionner en plusieurs modes, y compris le mode TapLe mode de contact, le mode de levage et le mode d'imagerie de phase permettent aux chercheurs d'étudier les propriétés physiques et chimiques de divers échantillons avec une précision exceptionnelle.La résolution AFM sous nanomètre permet d'observer et d'analyser même les plus petites caractéristiques de surfaceIl est indispensable pour la recherche en nanotechnologie, l'inspection des semi-conducteurs et les études biomoléculaires.

Dans l'industrie des semi-conducteurs, l'AtomExplorer joue un rôle crucial dans le contrôle de la qualité et l'analyse des défaillances.fournissant une analyse complète de la texture de surface des wafersLes points d'échantillonnage d'image élevés vont de 32*32 à 4096*4096, ce qui permet une imagerie détaillée et une cartographie des irrégularités de surface à l'échelle nanométrique.qui sont essentiels pour les performances et la fiabilité du dispositif.

Pour les applications industrielles, le faible niveau de bruit de l'axe Z de l'AtomExplorer de 0,04 nm assure des mesures stables et précises même dans des environnements difficiles.Cela le rend approprié pour une utilisation dans des domaines tels que les revêtementsLe prix est négociable, ce qui permet aux entreprises d'adapter l'investissement en fonction de leurs besoins spécifiques et de leur échelle.

En outre, l'AtomExplorer est un excellent outil à des fins éducatives, offrant aux étudiants et aux stagiaires une expérience pratique de la technologie de pointe de l'AFM.Sa conception robuste et sa facilité d'utilisation le rendent accessible à la formation en techniques de caractérisation de surface à l'échelle nanométriqueDans l'ensemble, l'AtomExplorer de Truth Instruments est fiable,microscope nanométrique haute performance qui répond aux exigences de divers scénarios d'application nécessitant une analyse précise de la texture de surface et une imagerie AFM à résolution inférieure aux nanomètres.