AtomExplorer AFM: MFM, EFM e KFM integrati per l'analisi dei materiali

Descrizione del prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Base è uno strumento all'avanguardia progettato per offrire prestazioni e versatilità eccezionali per un'ampia gamma di applicazioni di analisi delle superfici. Progettato con tecnologia avanzata, questo microscopio AFM offre capacità AFM con risoluzione sub-nanometrica, consentendo a ricercatori e ingegneri di osservare e misurare la topografia e le proprietà delle superfici con una precisione senza pari. Il suo eccezionale livello di rumore sull'asse Z di soli 0,04 nanometri assicura che anche le caratteristiche superficiali più sottili possano essere rilevate e analizzate accuratamente, rendendolo uno strumento indispensabile nella nanotecnologia, nella scienza dei materiali e nella ricerca sui semiconduttori.

Una delle caratteristiche principali del Microscopio a Forza Atomica di tipo Base sono le sue capacità di misurazione multifunzionali. Supporta una varietà di tecniche avanzate di sonda a scansione, tra cui Microscopia a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopia a Forza a Sonda Kelvin (KPFM), Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM) e Microscopia a Forza Magnetica (MFM). Queste misurazioni multifunzionali consentono agli utenti di indagare non solo la morfologia della superficie, ma anche le proprietà elettriche, piezoelettriche e magnetiche dei campioni con elevata sensibilità e risoluzione spaziale. Questa versatilità rende l'AFM ideale per la caratterizzazione nanoscopica completa in più discipline scientifiche.

Lo strumento opera in diverse modalità per adattarsi a diversi tipi di campioni e alle esigenze di misurazione. Supporta la Modalità Tap, la Modalità Contact, la Modalità Lift e la Modalità Phase Imaging, offrendo flessibilità agli utenti per scegliere l'approccio di scansione ottimale. La Modalità Tap aiuta a ridurre i danni al campione e l'usura della punta contattando in modo intermittente la superficie del campione, mentre la Modalità Contact consente l'interazione continua con la superficie, utile per campioni duri. La Modalità Lift è particolarmente utile per le misurazioni della forza magnetica ed elettrica, e la Modalità Phase Imaging offre informazioni sulla composizione del materiale e sulle proprietà meccaniche rilevando gli sfasamenti durante la scansione.

L'AFM di tipo Base presenta un'ampia gamma di punti di campionamento delle immagini, da un minimo di 32*32 punti fino a un massimo di 4096*4096 punti. Questa ampia gamma di risoluzioni di campionamento consente agli utenti di bilanciare tra velocità di scansione e dettaglio dell'immagine in base alle loro specifiche esigenze sperimentali. Punti di campionamento più elevati si traducono in immagini più dettagliate, rivelando strutture superficiali complesse e caratteristiche nanoscopiche con eccezionale chiarezza.

Per garantire un'analisi completa della superficie, il microscopio utilizza un metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ. Questa tecnica di scansione fornisce un movimento e un posizionamento tridimensionali completi del tavolino porta-campioni, consentendo un controllo preciso delle direzioni laterali (assi X e Y) e verticali (asse Z). La capacità di scansione a tre assi facilita l'esame di geometrie di campioni complesse e ampie aree superficiali, migliorando la versatilità e l'usabilità dello strumento in diversi contesti di ricerca.

In sintesi, il Microscopio a Forza Atomica di tipo Base è uno strumento potente e versatile che combina l'imaging AFM con risoluzione sub-nanometrica con capacità di misurazione multifunzionali, tra cui la Microscopia a Forza Magnetica (MFM) e altre tecniche avanzate. Il suo basso livello di rumore, le molteplici modalità operative, l'elevata capacità di campionamento delle immagini e il sistema di scansione a tre assi XYZ lo rendono la scelta ideale per i ricercatori che cercano una caratterizzazione delle superfici di alta precisione. Che si tratti di indagare proprietà elettriche, piezoelettriche, magnetiche o topografiche, questo microscopio AFM fornisce dati affidabili e dettagliati, supportando scoperte nella nanoscienza e nella ricerca sui materiali avanzati.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica di tipo Base
• Metodo di scansione: Scansione completa del campione a tre assi XYZ per un'imaging topografico nanoscopico preciso
• Misurazioni multifunzionali: Include capacità di Microscopio a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopio a Sonda Kelvin (KPFM), Microscopio a Forza Piezoelettrica (PFM) e Microscopio a Forza Magnetica (MFM)
• Gamma di scansione: Opzioni disponibili 100 μm * 100 μm * 10 μm e 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Livello di rumore sull'asse Z: Il livello di rumore ultra-basso di 0,04 nm garantisce un'imaging ad alta risoluzione
• Modalità operative: Supporta la Modalità Tap, la Modalità Contact, la Modalità Lift e la Modalità Phase Imaging per applicazioni versatili del Microscopio AFM
• Progettato come un Microscopio a Forza Atomica di base adatto per un imaging topografico nanoscopico dettagliato

Parametri tecnici:

Applicazioni:

L'AtomExplorer di Truth Instruments, un Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Base prodotto in Cina, è un microscopio nanoscopico avanzato progettato per fornire un'analisi dettagliata della texture superficiale con capacità AFM con risoluzione sub-nanometrica. Questo strumento versatile è ideale per un'ampia gamma di occasioni e scenari di applicazione del prodotto sia in ambienti di ricerca che industriali.

Nei laboratori accademici e di ricerca, l'AtomExplorer è ampiamente utilizzato per studi sulla scienza dei materiali in cui la caratterizzazione precisa della superficie è fondamentale. La sua capacità di operare in più modalità—tra cui la Modalità Tap, la Modalità Contact, la Modalità Lift e la Modalità Phase Imaging—consente ai ricercatori di indagare le proprietà fisiche e chimiche di vari campioni con eccezionale accuratezza. La risoluzione AFM sub-nanometrica assicura che anche le più piccole caratteristiche superficiali possano essere osservate e analizzate, rendendolo indispensabile per la ricerca sulla nanotecnologia, l'ispezione dei semiconduttori e gli studi biomolecolari.

Nell'industria dei semiconduttori, l'AtomExplorer svolge un ruolo cruciale nel controllo qualità e nell'analisi dei guasti. Il suo metodo di scansione completo del campione a tre assi XYZ copre campioni fino a Φ 25 mm, fornendo un'analisi completa della texture superficiale per wafer, film sottili e componenti microelettronici. L'elevata gamma di punti di campionamento delle immagini, da 32*32 a 4096*4096, consente un'imaging dettagliato e la mappatura delle irregolarità superficiali nanoscopiche, che sono fondamentali per le prestazioni e l'affidabilità dei dispositivi.

Per le applicazioni industriali, il basso livello di rumore sull'asse Z di 0,04 nm dell'AtomExplorer garantisce misurazioni stabili e precise anche in ambienti difficili. Questo lo rende adatto per l'uso in settori come rivestimenti, polimeri e nanocompositi, dove la morfologia della superficie influisce sulla qualità del prodotto. Il prezzo è negoziabile, consentendo alle aziende di adattare l'investimento in base alle loro specifiche esigenze e dimensioni.

Inoltre, l'AtomExplorer è uno strumento eccellente per scopi didattici, fornendo a studenti e tirocinanti un'esperienza pratica con la tecnologia AFM all'avanguardia. Il suo design robusto e la facilità d'uso lo rendono accessibile per la formazione sulle tecniche di caratterizzazione delle superfici nanoscopiche. Nel complesso, l'AtomExplorer di Truth Instruments è un microscopio nanoscopico affidabile e ad alte prestazioni che soddisfa le esigenze di diversi scenari applicativi che richiedono un'analisi precisa della texture superficiale e un'imaging AFM con risoluzione sub-nanometrica.