AtomExplorer AFM: MFM, EFM e KFM integrados para análise de materiais

Descrição do Produto:

O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um instrumento de ponta projetado para oferecer desempenho e versatilidade excepcionais para uma ampla gama de aplicações de análise de superfície. Projetado com tecnologia avançada, este microscópio AFM oferece capacidades de AFM com resolução sub-nanométrica, permitindo que pesquisadores e engenheiros observem e meçam a topografia e as propriedades da superfície com precisão incomparável. Seu notável nível de ruído no eixo Z de apenas 0,04 nanômetros garante que mesmo as características de superfície mais sutis possam ser detectadas e analisadas com precisão, tornando-o uma ferramenta indispensável em nanotecnologia, ciência dos materiais e pesquisa de semicondutores.

Uma das características de destaque do Microscópio de Força Atômica do tipo Básico são suas capacidades de medição multifuncionais. Ele suporta uma variedade de técnicas avançadas de sonda de varredura, incluindo Microscopia de Força Eletrostática (EFM), Microscopia de Força de Sonda Kelvin de Varredura (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) e Microscopia de Força Magnética (MFM). Essas medições multifuncionais permitem que os usuários investiguem não apenas a morfologia da superfície, mas também as propriedades elétricas, piezoelétricas e magnéticas das amostras com alta sensibilidade e resolução espacial. Essa versatilidade torna o AFM ideal para caracterização em nanoescala abrangente em múltiplas disciplinas científicas.

O instrumento opera em vários modos para acomodar diferentes tipos de amostras e necessidades de medição. Ele suporta o Modo Tap, Modo Contato, Modo Lift e Modo de Imagem de Fase, proporcionando flexibilidade para que os usuários escolham a abordagem de varredura ideal. O Modo Tap ajuda a reduzir os danos à amostra e o desgaste da ponta, entrando em contato intermitente com a superfície da amostra, enquanto o Modo Contato permite a interação contínua com a superfície, útil para amostras duras. O Modo Lift é particularmente benéfico para medições de força magnética e elétrica, e o Modo de Imagem de Fase oferece informações sobre a composição do material e as propriedades mecânicas, detectando mudanças de fase durante a varredura.

O AFM do tipo Básico apresenta uma ampla faixa de pontos de amostragem de imagem, de um mínimo de 32*32 pontos até um máximo de 4096*4096 pontos. Essa ampla gama de resoluções de amostragem permite que os usuários equilibrem a velocidade de varredura e os detalhes da imagem de acordo com seus requisitos experimentais específicos. Pontos de amostragem mais altos resultam em imagens mais detalhadas, revelando estruturas de superfície intrincadas e características em nanoescala com clareza excepcional.

Para garantir uma análise de superfície abrangente, o microscópio utiliza um método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ. Essa técnica de varredura fornece movimento e posicionamento tridimensionais completos da plataforma da amostra, permitindo o controle preciso sobre as direções lateral (eixos X e Y) e vertical (eixo Z). A capacidade de varredura de três eixos facilita o exame de geometrias de amostra complexas e grandes áreas de superfície, aprimorando a versatilidade e a usabilidade do instrumento em diversos ambientes de pesquisa.

Em resumo, o Microscópio de Força Atômica do tipo Básico é uma ferramenta poderosa e versátil que combina imagem AFM com resolução sub-nanométrica com capacidades de medição multifuncionais, incluindo Microscopia de Força Magnética (MFM) e outras técnicas avançadas. Seu baixo nível de ruído, múltiplos modos de operação, alta capacidade de amostragem de imagem e sistema de varredura de três eixos XYZ o tornam uma escolha ideal para pesquisadores que buscam caracterização de superfície de alta precisão. Seja investigando propriedades elétricas, piezoelétricas, magnéticas ou topográficas, este microscópio AFM oferece dados confiáveis e detalhados, apoiando avanços em nanociência e pesquisa de materiais avançados.

Características:

• Nome do Produto: Microscópio de Força Atômica do tipo Básico
• Método de Varredura: Varredura de Amostra Completa de Três Eixos XYZ para imagem de topografia em nanoescala precisa
• Medições Multifuncionais: Inclui Microscópio de Força Eletrostática (EFM), Microscópio de Sonda Kelvin de Varredura (KPFM), Microscópio de Força Piezoelétrica (PFM) e capacidades de Microscópio de Força Magnética (MFM)
• Faixa de Varredura: Opções de 100 μm * 100 μm * 10 μm e 30 μm * 30 μm * 5 μm disponíveis
• Nível de Ruído do Eixo Z: Nível de ruído ultrabaixo de 0,04 nm garante imagem de alta resolução
• Modos de Operação: Suporta Modo Tap, Modo Contato, Modo Lift e Modo de Imagem de Fase para aplicações versáteis de Microscópio AFM
• Projetado como um Microscópio de Força Atômica Básico adequado para imagem de topografia em nanoescala detalhada

Parâmetros Técnicos:

Aplicações:

O Truth Instruments AtomExplorer, um Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico fabricado na China, é um microscópio em nanoescala avançado projetado para fornecer análise detalhada da textura da superfície com capacidades de AFM com resolução sub-nanométrica. Este instrumento versátil é ideal para uma ampla gama de ocasiões e cenários de aplicação de produtos em ambientes de pesquisa e industriais.

Em laboratórios acadêmicos e de pesquisa, o AtomExplorer é amplamente utilizado para estudos de ciência dos materiais, onde a caracterização precisa da superfície é fundamental. Sua capacidade de operar em vários modos—incluindo Modo Tap, Modo Contato, Modo Lift e Modo de Imagem de Fase—permite que os pesquisadores investiguem as propriedades físicas e químicas de várias amostras com precisão excepcional. A resolução AFM sub-nanométrica garante que mesmo as menores características da superfície possam ser observadas e analisadas, tornando-o indispensável para pesquisa em nanotecnologia, inspeção de semicondutores e estudos biomoleculares.

Na indústria de semicondutores, o AtomExplorer desempenha um papel crucial no controle de qualidade e na análise de falhas. Seu método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ cobre amostras de até Φ 25 mm, fornecendo análise abrangente da textura da superfície para wafers, filmes finos e componentes microeletrônicos. A alta faixa de pontos de amostragem de imagem de 32*32 a 4096*4096, permitindo a imagem detalhada e o mapeamento de irregularidades de superfície em nanoescala, que são críticas para o desempenho e a confiabilidade do dispositivo.

Para aplicações industriais, o baixo nível de ruído do eixo Z do AtomExplorer de 0,04 nm garante medições estáveis e precisas, mesmo em ambientes desafiadores. Isso o torna adequado para uso em áreas como revestimentos, polímeros e nanocompósitos, onde a morfologia da superfície afeta a qualidade do produto. O preço é negociável, permitindo que as empresas adaptem o investimento de acordo com suas necessidades e escala específicas.

Além disso, o AtomExplorer é uma excelente ferramenta para fins educacionais, proporcionando aos alunos e estagiários experiência prática com tecnologia AFM de ponta. Seu design robusto e facilidade de operação o tornam acessível para treinamento em técnicas de caracterização de superfície em nanoescala. No geral, o Truth Instruments AtomExplorer é um microscópio em nanoescala confiável e de alto desempenho que atende às demandas de diversos cenários de aplicação que exigem análise precisa da textura da superfície e imagem AFM com resolução sub-nanométrica.