AtomExplorer AFM: MFM tích hợp, EFM & KFM cho phân tích vật liệu

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) loại Cơ bản là một thiết bị tiên tiến được thiết kế để mang lại hiệu suất và tính linh hoạt vượt trội cho nhiều ứng dụng phân tích bề mặt. Được thiết kế với công nghệ tiên tiến, kính hiển vi AFM này cung cấp khả năng AFM với độ phân giải dưới nanomet, cho phép các nhà nghiên cứu và kỹ sư quan sát và đo đạc địa hình và các đặc tính bề mặt với độ chính xác vô song. Mức nhiễu trục Z vượt trội chỉ 0,04 nanomet đảm bảo rằng ngay cả các đặc điểm bề mặt tinh tế nhất cũng có thể được phát hiện và phân tích chính xác, khiến nó trở thành một công cụ không thể thiếu trong công nghệ nano, khoa học vật liệu và nghiên cứu chất bán dẫn.

Một trong những tính năng nổi bật của Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản là khả năng đo lường đa chức năng của nó. Nó hỗ trợ nhiều kỹ thuật thăm dò quét tiên tiến, bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực thăm dò Kelvin (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM) và Kính hiển vi lực từ (MFM). Các phép đo đa chức năng này cho phép người dùng không chỉ điều tra hình thái bề mặt mà còn cả các đặc tính điện, áp điện và từ tính của các mẫu với độ nhạy và độ phân giải không gian cao. Tính linh hoạt này làm cho AFM trở nên lý tưởng để đặc trưng quy mô nano toàn diện trên nhiều lĩnh vực khoa học.

Thiết bị hoạt động ở một số chế độ để phù hợp với các loại mẫu và nhu cầu đo lường khác nhau. Nó hỗ trợ Chế độ Chạm, Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Nâng và Chế độ Chụp ảnh Pha, mang lại sự linh hoạt cho người dùng để chọn phương pháp quét tối ưu. Chế độ Chạm giúp giảm hư hỏng mẫu và mòn đầu bằng cách tiếp xúc không liên tục với bề mặt mẫu, trong khi Chế độ Tiếp xúc cho phép tương tác liên tục với bề mặt, hữu ích cho các mẫu cứng. Chế độ Nâng đặc biệt có lợi cho các phép đo lực từ và điện, và Chế độ Chụp ảnh Pha cung cấp thông tin chi tiết về thành phần vật liệu và các đặc tính cơ học bằng cách phát hiện sự thay đổi pha trong quá trình quét.

AFM loại Cơ bản có phạm vi điểm lấy mẫu hình ảnh rộng, từ tối thiểu 32*32 điểm đến tối đa 4096*4096 điểm. Phạm vi độ phân giải lấy mẫu rộng này cho phép người dùng cân bằng giữa tốc độ quét và chi tiết hình ảnh theo yêu cầu thử nghiệm cụ thể của họ. Các điểm lấy mẫu cao hơn dẫn đến hình ảnh chi tiết hơn, tiết lộ các cấu trúc bề mặt phức tạp và các đặc điểm ở quy mô nano với độ rõ nét đặc biệt.

Để đảm bảo phân tích bề mặt toàn diện, kính hiển vi sử dụng phương pháp quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ. Kỹ thuật quét này cung cấp chuyển động và định vị ba chiều hoàn chỉnh của bàn mẫu, cho phép kiểm soát chính xác các hướng ngang (trục X và Y) và dọc (trục Z). Khả năng quét ba trục tạo điều kiện cho việc kiểm tra các hình dạng mẫu phức tạp và các khu vực bề mặt lớn, tăng cường tính linh hoạt và khả năng sử dụng của thiết bị trong các môi trường nghiên cứu đa dạng.

Tóm lại, Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản là một công cụ mạnh mẽ và linh hoạt, kết hợp khả năng chụp ảnh AFM với độ phân giải dưới nanomet với khả năng đo lường đa chức năng, bao gồm Kính hiển vi lực từ (MFM) và các kỹ thuật tiên tiến khác. Mức nhiễu thấp, nhiều chế độ hoạt động, khả năng lấy mẫu hình ảnh cao và hệ thống quét ba trục XYZ khiến nó trở thành một lựa chọn lý tưởng cho các nhà nghiên cứu đang tìm kiếm sự đặc trưng bề mặt có độ chính xác cao. Cho dù điều tra các đặc tính điện, áp điện, từ tính hay địa hình, kính hiển vi AFM này đều cung cấp dữ liệu đáng tin cậy và chi tiết, hỗ trợ những đột phá trong khoa học nano và nghiên cứu vật liệu tiên tiến.

Tính năng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản
• Phương pháp quét: Quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ để chụp ảnh địa hình ở quy mô nano chính xác
• Đo lường đa chức năng: Bao gồm các khả năng của Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi thăm dò Kelvin (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM) và Kính hiển vi lực từ (MFM)
• Phạm vi quét: Các tùy chọn 100 μm * 100 μm * 10 μm và 30 μm * 30 μm * 5 μm có sẵn
• Mức nhiễu trục Z: Mức nhiễu cực thấp 0,04 nm đảm bảo hình ảnh có độ phân giải cao
• Chế độ hoạt động: Hỗ trợ Chế độ Chạm, Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Nâng và Chế độ Chụp ảnh Pha cho các ứng dụng Kính hiển vi AFM đa năng
• Được thiết kế như một Kính hiển vi lực nguyên tử Cơ bản phù hợp để chụp ảnh địa hình ở quy mô nano chi tiết

Thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Truth Instruments AtomExplorer, một Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) loại Cơ bản được sản xuất tại Trung Quốc, là một kính hiển vi ở quy mô nano tiên tiến được thiết kế để cung cấp phân tích kết cấu bề mặt chi tiết với khả năng AFM có độ phân giải dưới nanomet. Thiết bị đa năng này lý tưởng cho nhiều dịp và tình huống ứng dụng sản phẩm trong cả môi trường nghiên cứu và công nghiệp.

Trong các phòng thí nghiệm học thuật và nghiên cứu, AtomExplorer được sử dụng rộng rãi để nghiên cứu khoa học vật liệu, nơi việc đặc trưng bề mặt chính xác là rất quan trọng. Khả năng hoạt động ở nhiều chế độ—bao gồm Chế độ Chạm, Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Nâng và Chế độ Chụp ảnh Pha—cho phép các nhà nghiên cứu điều tra các đặc tính vật lý và hóa học của các mẫu khác nhau với độ chính xác đặc biệt. AFM có độ phân giải dưới nanomet đảm bảo rằng ngay cả các đặc điểm bề mặt nhỏ nhất cũng có thể được quan sát và phân tích, khiến nó trở nên không thể thiếu đối với nghiên cứu công nghệ nano, kiểm tra chất bán dẫn và nghiên cứu sinh học phân tử.

Trong ngành công nghiệp bán dẫn, AtomExplorer đóng một vai trò quan trọng trong việc kiểm soát chất lượng và phân tích lỗi. Phương pháp quét mẫu đầy đủ ba trục XYZ của nó bao phủ các mẫu lên đến Φ 25 mm, cung cấp phân tích kết cấu bề mặt toàn diện cho tấm wafer, màng mỏng và các thành phần vi điện tử. Phạm vi điểm lấy mẫu hình ảnh cao từ 32*32 đến 4096*4096, cho phép chụp ảnh chi tiết và lập bản đồ các bất thường bề mặt ở quy mô nano, điều này rất quan trọng đối với hiệu suất và độ tin cậy của thiết bị.

Đối với các ứng dụng công nghiệp, mức nhiễu trục Z thấp 0,04 nm của AtomExplorer đảm bảo các phép đo ổn định và chính xác ngay cả trong môi trường đầy thách thức. Điều này làm cho nó phù hợp để sử dụng trong các lĩnh vực như lớp phủ, polyme và vật liệu nano composite, nơi hình thái bề mặt ảnh hưởng đến chất lượng sản phẩm. Giá cả có thể thương lượng, cho phép các doanh nghiệp điều chỉnh khoản đầu tư theo nhu cầu và quy mô cụ thể của họ.

Ngoài ra, AtomExplorer là một công cụ tuyệt vời cho mục đích giáo dục, cung cấp cho sinh viên và người học việc thực hành với công nghệ AFM tiên tiến. Thiết kế mạnh mẽ và dễ vận hành của nó giúp nó có thể tiếp cận để đào tạo các kỹ thuật đặc trưng bề mặt ở quy mô nano. Nhìn chung, Truth Instruments AtomExplorer là một kính hiển vi ở quy mô nano hiệu suất cao, đáng tin cậy, đáp ứng các yêu cầu của các tình huống ứng dụng đa dạng, đòi hỏi phân tích kết cấu bề mặt chính xác và chụp ảnh AFM có độ phân giải dưới nanomet.