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products for "scanning probe microscope
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AtomExplorer AFM: MFM, EFM et KFM intégrés pour l'analyse des matériaux
Description du produit:Le microscope de force atomique de type Basic (AFM) est un instrument de pointe conçu pour offrir des performances et une polyvalence exceptionnelles pour un large éventail d'applications d'analyse de surface.Conçu avec une technologie avancée, ce microscope AFM offre des ... -
AtomExplorer: AFM personnalisable pour les mesures magnétiques et électriques avancées
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) de type de base est un instrument polyvalent et performant conçu pour fournir une imagerie topographique à l'échelle nanométrique précise pour un large éventail d'applications de recherche et industrielles. Conçu avec une technologie de ...