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products for "scanning probe microscope
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Axe Z à faible bruit pour la caractérisation de matériaux à l'échelle nanométrique de haute précision
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un système AFM avancé et tout-en-un conçu pour offrir une précision et une polyvalence inégalées pour l'imagerie et les mesures à l'échelle nanométrique. Utilisant une méthode de balayage d'échantillon complet à trois axes XYZ, cet ... -
Modes de contact/tapotement pour l'analyse des matériaux subnanométriques à l'échelle nanométrique
Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force de balayage avancé conçu pour fournir des capacités d'imagerie et de mesure exceptionnelles à l'échelle nanométrique.Conçu pour la précision et la polyvalence, ce modèle AFM prend en charge une large gamme de fr... -
Modes MFM/KPFM pour la caractérisation de matériaux nanométriques de haute précision
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un microscope à force à balayage de pointe, à la pointe de la technologie, conçu pour offrir des capacités d'imagerie et de mesure inégalées à l'échelle nanométrique. Grâce à sa méthode de balayage complète de l'échantillon sur trois ... -
AFM pour l'analyse précise de surface et l'imagerie à l'échelle nanométrique dans la recherche scientifique et les applications industrielles
Microscope à force atomique multifonctionnel - AtomEdge Pro Présentation du produit Le microscope à force atomique multifonctionnel AtomEdge Pro peut effectuer une imagerie par balayage tridimensionnel sur des matériaux, des dispositifs électroniques, des échantillons biologiques, etc. Il propose ... -
Analyse fiable de la texture de surface : AFM de type AtomExplorer Basic
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) de type de base est un équipement AFM de laboratoire avancé conçu pour fournir une caractérisation précise et fiable des surfaces sur une large gamme de matériaux. Conçu avec la technologie AFM à haute stabilité, cet instrument offre des ... -
Caractérisation de surface à l'échelle nanométrique avec AtomExplorer AFM
Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) de type Basic est un microscope à sonde à balayage très polyvalent et fiable, conçu spécifiquement pour les laboratoires recherchant un équipement AFM avancé mais facile à utiliser. Ce modèle offre des capacités complètes pour la caract... -
AFM à haute stabilité avec modes MFM/EFM pour la recherche scientifique
Description du produit:The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsCombinant précision, souplesse et facilité d'utilisation, ce modèle ... -
AtomExplorer: outil de topographie de précision pour puces et nanomatériaux
Description du produit:Le microscope de force atomique de type de base (AFM) est un instrument polyvalent et performant conçu pour répondre aux divers besoins de la recherche scientifique et des applications industrielles de R&D.Cet AFM multifonctionnel est équipé de modes de mesure avancés, y ... -
Solutions AFM polyvalentes pour l'enseignement et la recherche industrielle
Description du produit: Le microscope de force atomique de type basique (AFM) est un équipement de laboratoire de pointe conçu pour répondre aux exigences rigoureuses de la recherche scientifique.la polyvalenceAvec ses performances supérieures et ses capacités multifonctionnelles, il est le meilleur ...