Analyse fiable de la texture de surface : AFM de type AtomExplorer Basic

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) de type de base est un équipement AFM de laboratoire avancé conçu pour fournir une caractérisation précise et fiable des surfaces sur une large gamme de matériaux. Conçu avec la technologie AFM à haute stabilité, cet instrument offre des performances exceptionnelles aux chercheurs et aux scientifiques qui exigent précision, répétabilité et polyvalence dans leurs investigations à l'échelle nanométrique. Sa conception robuste et ses capacités multifonctionnelles en font un outil indispensable dans les environnements de recherche universitaires et industriels.

L'une des caractéristiques exceptionnelles de cet AFM de type de base est ses modes de fonctionnement polyvalents, qui incluent le mode Tap, le mode Contact, le mode Lift et le mode Phase Imaging. Ces modes de fonctionnement offrent aux utilisateurs la flexibilité d'analyser les surfaces dans diverses conditions et d'obtenir des informations topographiques détaillées ainsi que des informations sur les propriétés des matériaux. Le mode Tap permet une interaction douce avec les échantillons délicats, minimisant les dommages tout en capturant des images haute résolution. Le mode Contact offre un contact direct pointe-échantillon pour une cartographie détaillée de la topologie de surface, tandis que le mode Lift et le mode Phase Imaging étendent les capacités pour capturer respectivement les forces à longue portée et le contraste des matériaux, améliorant ainsi la profondeur d'analyse possible avec cet équipement AFM de laboratoire.

L'AFM de type de base possède une plage de balayage impressionnante, pouvant accueillir des échantillons jusqu'à 100 μm par 100 μm latéralement et 10 μm en hauteur. Pour les applications nécessitant une résolution plus élevée sur des zones plus petites, une plage de balayage de 30 μm par 30 μm par 5 μm est également disponible. Cette fonctionnalité à double plage garantit que les utilisateurs peuvent adapter leurs paramètres de balayage aux exigences spécifiques de leurs expériences sans compromettre la qualité de l'image ou la précision de la mesure. La conception AFM à haute stabilité assure une interférence minimale de la dérive et des vibrations pendant le balayage, ce qui se traduit par une acquisition de données constamment fiable.

En plus de l'imagerie topographique, cet AFM prend en charge un large éventail de mesures multifonctionnelles qui élargissent considérablement son potentiel d'application. Il intègre les capacités de la microscopie à force électrostatique (EFM), de la microscopie à sonde Kelvin (KPFM), de la microscopie à force piézoélectrique (PFM) et de la microscopie à force magnétique (MFM). Ces modes de mesure avancés permettent une caractérisation détaillée des propriétés électriques, piézoélectriques et magnétiques à l'échelle nanométrique. Les chercheurs peuvent ainsi étudier une grande variété d'attributs d'échantillons, des distributions de charge de surface et des variations de la fonction de travail aux réponses piézoélectriques et aux structures de domaines magnétiques, le tout au sein d'un seul instrument.

La méthode de balayage employée par l'AFM de type de base est basée sur un système de balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ. Cela garantit une couverture complète de la surface de l'échantillon, permettant à l'utilisateur de naviguer et d'imager avec précision n'importe quelle région d'intérêt avec une grande précision. Le mécanisme de balayage à trois axes contribue également aux performances AFM à haute stabilité de l'instrument, réduisant le bruit mécanique et améliorant la reproductibilité des mesures sur plusieurs balayages.

La résolution et les détails de l'image sont des facteurs critiques en microscopie à force atomique, et cet AFM de type de base excelle dans cet aspect avec sa capacité à échantillonner des points d'image allant de 32*32 jusqu'à un impressionnant 4096*4096 pixels. Cette large gamme permet aux utilisateurs d'équilibrer efficacement la vitesse de balayage et la résolution de l'image, ce qui le rend adapté aux enquêtes rapides et aux investigations détaillées à l'échelle nanométrique. La capacité à générer des images haute résolution garantit que les caractéristiques de surface subtiles et les variations des propriétés des matériaux sont capturées avec clarté et précision.

En résumé, le microscope à force atomique de type de base combine des performances AFM à haute stabilité avec des modes de fonctionnement polyvalents, de vastes plages de balayage, des capacités de mesure multifonctionnelles et une imagerie haute résolution. En tant qu'équipement AFM de laboratoire essentiel, il prend en charge un large éventail de recherches scientifiques et d'applications industrielles, de la science des matériaux et de la nanotechnologie à l'électronique et à la biologie. Sa conception robuste, sa multifonctionnalité et sa précision en font un choix idéal pour tout laboratoire cherchant à améliorer ses capacités de mesure à l'échelle nanométrique avec un microscope à force atomique fiable et performant.

Caractéristiques :

• Nom du produit : Microscope à force atomique de type de base
• Niveau de bruit sur l'axe Z : 0,04 Nm pour des mesures de haute précision
• Mesures multifonctionnelles, notamment le microscope à force électrostatique (EFM), le microscope à sonde Kelvin (KPFM), le microscope à force piézoélectrique (PFM) et le microscope à force magnétique (MFM)
• Prend en charge la microscopie à force à sonde Kelvin (KPFM) pour une analyse avancée du potentiel de surface
• Points d'échantillonnage d'image allant de 32*32 à 4096*4096 pour une imagerie détaillée
• Méthode de balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ assurant une couverture complète de la surface
• Options de plage de balayage flexibles : 100 μm*100 μm*10 μm et 30 μm*30 μm*5 μm
• Microscope à sonde à balayage idéal pour diverses applications de recherche et industrielles
• Achetez un microscope à force atomique avec multifonctionnalité et capacités de balayage précises

Paramètres techniques :

Applications :

Le microscope à force atomique (AFM) de type de base AtomExplorer de Truth Instruments est un outil polyvalent et fiable conçu pour un large éventail d'applications de recherche scientifique. Originaire de Chine, cet instrument avancé offre des performances exceptionnelles en imagerie topographique à l'échelle nanométrique, ce qui en fait un choix idéal pour les chercheurs qui exigent une grande précision et exactitude dans leur travail. Avec son prix négociable et disponible sur demande, l'AtomExplorer offre un excellent rapport qualité-prix pour les institutions et les laboratoires qui souhaitent améliorer leurs capacités d'analyse à l'échelle nanométrique.

L'AFM AtomExplorer prend en charge plusieurs modes de fonctionnement, notamment le mode Tap, le mode Contact, le mode Lift et le mode Phase Imaging, ce qui permet aux chercheurs d'adapter leur approche de balayage à des types d'échantillons et à des exigences de recherche spécifiques. Ses options de plage de balayage de 100 μm*100 μm*10 μm et 30 μm*30 μm*5 μm s'adaptent à une variété de tailles et de résolutions d'échantillons, assurant une imagerie topographique à l'échelle nanométrique complète sur différents matériaux et surfaces. La méthode de balayage complet d'échantillon à trois axes XYZ assure en outre une imagerie approfondie et précise en permettant un contrôle précis de la position de l'échantillon pendant l'analyse.

L'une des caractéristiques exceptionnelles de l'AtomExplorer est sa conception AFM à haute stabilité, qui fournit des mesures cohérentes et fiables, même dans des conditions expérimentales difficiles. L'inclusion du mode d'insertion d'aiguille sûr dans le cadre de sa technologie de protection des pointes minimise le risque d'endommagement de la pointe pendant le fonctionnement, prolongeant ainsi la durée de vie de la sonde et maintenant la qualité de l'imagerie au fil du temps. Cela rend l'AtomExplorer particulièrement adapté aux tâches de recherche scientifique prolongées et répétitives où la durabilité de l'instrument est cruciale.

L'AtomExplorer est largement utilisé dans diverses occasions et scénarios de recherche scientifique tels que la science des matériaux, l'inspection des semi-conducteurs, l'analyse d'échantillons biologiques et le développement de nanotechnologies. Il permet aux chercheurs d'étudier les propriétés de surface à l'échelle nanométrique avec des détails exceptionnels, facilitant les percées dans la compréhension des comportements des matériaux, des propriétés structurelles et des caractéristiques fonctionnelles. Que ce soit dans les laboratoires universitaires, les centres de recherche industrielle ou les environnements de contrôle qualité, cet AFM à haute stabilité prend en charge des enquêtes critiques qui exigent une imagerie topographique précise à l'échelle nanométrique.

En résumé, le microscope à force atomique de type de base AtomExplorer de Truth Instruments se distingue comme un outil puissant pour l'AFM pour la recherche scientifique. Ses capacités de balayage avancées, ses multiples modes de fonctionnement, sa conception à haute stabilité et sa technologie de protection des pointes efficace en font un choix fiable pour l'imagerie topographique à l'échelle nanométrique dans divers domaines scientifiques. Pour des informations détaillées sur les prix et des solutions personnalisées, les utilisateurs intéressés sont encouragés à contacter directement Truth Instruments.