آنالیز بافت سطح قابل اطمینان: AFM نوع پایه AtomExplorer

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه، یک تجهیزات پیشرفته آزمایشگاهی AFM است که برای ارائه مشخصه سازی دقیق و قابل اعتماد سطح در طیف گسترده ای از مواد طراحی شده است. این ابزار که با فناوری AFM با پایداری بالا مهندسی شده است، عملکردی استثنایی را برای محققان و دانشمندانی ارائه می دهد که دقت، تکرارپذیری و تطبیق پذیری را در تحقیقات نانومقیاس خود می طلبند. طراحی قوی و قابلیت های چند منظوره آن را به ابزاری ضروری در محیط های تحقیقاتی دانشگاهی و صنعتی تبدیل کرده است.

یکی از ویژگی های برجسته این AFM از نوع پایه، حالت های عملیاتی همه کاره آن است که شامل حالت ضربه ای، حالت تماس، حالت بالابر و حالت تصویربرداری فاز می شود. این حالت های عملیاتی به کاربران این امکان را می دهد تا سطوح را تحت شرایط مختلف تجزیه و تحلیل کنند و اطلاعات دقیق توپوگرافی و همچنین اطلاعات مربوط به خواص مواد را به دست آورند. حالت ضربه ای تعامل ملایمی با نمونه های ظریف را امکان پذیر می کند و در عین حال که تصاویر با وضوح بالا را ثبت می کند، آسیب را به حداقل می رساند. حالت تماس، تماس مستقیم نوک-نمونه را برای نقشه برداری دقیق توپولوژی سطح ارائه می دهد، در حالی که حالت بالابر و حالت تصویربرداری فاز، قابلیت های ثبت نیروهای دوربرد و کنتراست مواد را به ترتیب گسترش می دهند و عمق تجزیه و تحلیل ممکن را با این تجهیزات آزمایشگاهی AFM افزایش می دهند.

AFM از نوع پایه دارای محدوده اسکن چشمگیر است که نمونه هایی تا 100 میکرومتر در 100 میکرومتر به صورت جانبی و 10 میکرومتر ارتفاع را در خود جای می دهد. برای کاربردهایی که به وضوح بالاتر در مناطق کوچکتر نیاز دارند، محدوده اسکن 30 میکرومتر در 30 میکرومتر در 5 میکرومتر نیز در دسترس است. این قابلیت دو محدوده ای تضمین می کند که کاربران می توانند پارامترهای اسکن خود را با توجه به الزامات خاص آزمایشات خود بدون به خطر انداختن کیفیت تصویر یا دقت اندازه گیری تنظیم کنند. طراحی AFM با پایداری بالا، تداخل حداقل رانش و لرزش را در طول اسکن تضمین می کند و در نتیجه، جمع آوری داده های قابل اطمینان را به طور مداوم به همراه دارد.

علاوه بر تصویربرداری توپوگرافی، این AFM از طیف گسترده ای از اندازه گیری های چند منظوره پشتیبانی می کند که به طور قابل توجهی پتانسیل کاربرد آن را گسترش می دهد. این قابلیت ها، میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و قابلیت های میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) را ادغام می کند. این حالت های اندازه گیری پیشرفته امکان مشخصه سازی دقیق خواص الکتریکی، پیزوالکتریک و مغناطیسی را در مقیاس نانو فراهم می کند. بنابراین محققان می توانند طیف گسترده ای از ویژگی های نمونه، از توزیع بار سطحی و تغییرات تابع کار گرفته تا پاسخ های پیزوالکتریک و ساختارهای دامنه مغناطیسی، را در یک ابزار واحد بررسی کنند.

روش اسکن مورد استفاده توسط AFM از نوع پایه بر اساس یک سیستم اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ است. این امر پوشش جامع سطح نمونه را تضمین می کند و به کاربر این امکان را می دهد تا با دقت بالا در هر ناحیه مورد علاقه حرکت کرده و تصویربرداری کند. مکانیسم اسکن سه محوره همچنین به عملکرد AFM با پایداری بالای این ابزار کمک می کند، نویز مکانیکی را کاهش می دهد و قابلیت تکرار اندازه گیری ها را در چندین اسکن افزایش می دهد.

وضوح و جزئیات تصویر عوامل مهمی در میکروسکوپ نیروی اتمی هستند و این AFM از نوع پایه در این جنبه با توانایی خود در نمونه برداری از نقاط تصویر از 32*32 تا 4096*4096 پیکسل، برتری دارد. این محدوده وسیع به کاربران اجازه می دهد تا بین سرعت اسکن و وضوح تصویر به طور موثر تعادل برقرار کنند و آن را برای بررسی های سریع و تحقیقات دقیق در مقیاس نانو مناسب می سازد. توانایی تولید تصاویر با وضوح بالا تضمین می کند که ویژگی های ظریف سطح و تغییرات در خواص مواد با وضوح و دقت ثبت می شوند.

به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه، عملکرد AFM با پایداری بالا را با حالت های عملیاتی همه کاره، محدوده های اسکن گسترده، قابلیت های اندازه گیری چند منظوره و تصویربرداری با وضوح بالا ترکیب می کند. به عنوان یک قطعه ضروری از تجهیزات آزمایشگاهی AFM، از طیف گسترده ای از تحقیقات علمی و کاربردهای صنعتی، از علوم مواد و نانوتکنولوژی گرفته تا الکترونیک و زیست شناسی پشتیبانی می کند. طراحی قوی، چند منظوره بودن و دقت آن را به انتخابی ایده آل برای هر آزمایشگاهی تبدیل می کند که به دنبال افزایش قابلیت های اندازه گیری در مقیاس نانو با یک میکروسکوپ نیروی اتمی قابل اعتماد و با کارایی بالا است.

ویژگی ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه
• سطح نویز محور Z: 0.04 نانومتر برای اندازه گیری های با دقت بالا
• اندازه گیری های چند منظوره شامل میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)
• پشتیبانی از میکروسکوپ نیروی پروب کلوین (KPFM) برای تجزیه و تحلیل پتانسیل سطح پیشرفته
• نقاط نمونه برداری تصویر از 32*32 تا 4096*4096 برای تصویربرداری دقیق
• روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ که پوشش جامع سطح را تضمین می کند
• گزینه های محدوده اسکن انعطاف پذیر: 100 میکرومتر*100 میکرومتر*10 میکرومتر و 30 میکرومتر*30 میکرومتر*5 میکرومتر
• میکروسکوپ پروب اسکن ایده آل برای کاربردهای مختلف تحقیقاتی و صنعتی
• خرید میکروسکوپ نیروی اتمی با چند منظوره بودن و قابلیت های اسکن دقیق

پارامترهای فنی:

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه AtomExplorer از Truth Instruments، ابزاری همه کاره و قابل اعتماد است که برای طیف گسترده ای از کاربردهای تحقیقات علمی طراحی شده است. این ابزار پیشرفته که منشا آن از چین است، عملکردی استثنایی در تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو ارائه می دهد و آن را به انتخابی ایده آل برای محققانی تبدیل می کند که به دقت و صحت بالایی در کار خود نیاز دارند. AtomExplorer با قیمت قابل مذاکره و در صورت درخواست در دسترس است، ارزش عالی را برای موسسات و آزمایشگاه هایی فراهم می کند که هدفشان افزایش قابلیت های تجزیه و تحلیل در مقیاس نانو است.

AFM AtomExplorer از حالت های عملیاتی متعددی از جمله حالت ضربه ای، حالت تماس، حالت بالابر و حالت تصویربرداری فاز پشتیبانی می کند و به محققان این امکان را می دهد تا رویکرد اسکن خود را با توجه به انواع نمونه های خاص و الزامات تحقیقاتی تنظیم کنند. گزینه های محدوده اسکن آن یعنی 100 میکرومتر*100 میکرومتر*10 میکرومتر و 30 میکرومتر*30 میکرومتر*5 میکرومتر، طیف وسیعی از اندازه ها و وضوح نمونه را در خود جای می دهد و تصویربرداری توپوگرافی جامع در مقیاس نانو را در سراسر مواد و سطوح مختلف تضمین می کند. روش اسکن کامل نمونه سه محوره XYZ، با فعال کردن کنترل دقیق موقعیت نمونه در طول تجزیه و تحلیل، تصویربرداری کامل و دقیقی را تضمین می کند.

یکی از ویژگی های برجسته AtomExplorer، طراحی AFM با پایداری بالای آن است که اندازه گیری های ثابت و قابل اطمینانی را حتی در شرایط آزمایشگاهی چالش برانگیز ارائه می دهد. گنجاندن حالت درج ایمن سوزن به عنوان بخشی از فناوری محافظت از نوک آن، خطر آسیب دیدن نوک را در حین کار به حداقل می رساند، در نتیجه عمر پروب را افزایش می دهد و کیفیت تصویربرداری را در طول زمان حفظ می کند. این امر AtomExplorer را به ویژه برای کارهای تحقیقاتی علمی طولانی مدت و تکراری که در آن دوام ابزار بسیار مهم است، مناسب می کند.

AtomExplorer به طور گسترده در موارد و سناریوهای مختلف تحقیقات علمی مانند علوم مواد، بازرسی نیمه هادی ها، تجزیه و تحلیل نمونه های بیولوژیکی و توسعه نانوتکنولوژی استفاده می شود. این امکان را برای محققان فراهم می کند تا خواص سطح را در مقیاس نانو با جزئیات استثنایی بررسی کنند و پیشرفت هایی را در درک رفتار مواد، خواص ساختاری و ویژگی های عملکردی تسهیل کنند. این AFM با پایداری بالا، چه در آزمایشگاه های دانشگاهی، مراکز تحقیقات صنعتی یا محیط های کنترل کیفیت، از تحقیقات مهمی پشتیبانی می کند که نیاز به تصویربرداری توپوگرافی دقیق در مقیاس نانو دارند.

به طور خلاصه، میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه AtomExplorer از Truth Instruments به عنوان ابزاری قدرتمند برای AFM برای تحقیقات علمی برجسته است. قابلیت های اسکن پیشرفته، حالت های عملیاتی متعدد، طراحی با پایداری بالا و فناوری محافظت از نوک موثر آن، آن را به انتخابی قابل اعتماد برای تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو در زمینه های علمی مختلف تبدیل می کند. برای اطلاعات دقیق قیمت و راه حل های سفارشی، به کاربران علاقه مند توصیه می شود مستقیماً با Truth Instruments تماس بگیرند.