Надежный анализ текстуры поверхности: Атомный исследователь Basic-type AFM

Описание продукта:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это современное лабораторное оборудование АСМ, предназначенное для обеспечения точной и надежной характеристики поверхности широкого спектра материалов. Разработанный с использованием технологии АСМ с высокой стабильностью, этот прибор предлагает исключительную производительность для исследователей и ученых, которым требуется точность, повторяемость и универсальность в их наноразмерных исследованиях. Его прочная конструкция и многофункциональные возможности делают его незаменимым инструментом как в академических, так и в промышленных исследовательских условиях.

Одной из выдающихся особенностей этого АСМ базового типа являются его универсальные режимы работы, которые включают в себя режим касания, режим контакта, режим подъема и режим фазовой визуализации. Эти режимы работы предоставляют пользователям гибкость для анализа поверхностей в различных условиях и получения подробной информации о топографии, а также о свойствах материала. Режим касания обеспечивает мягкое взаимодействие с деликатными образцами, сводя к минимуму повреждения, при этом захватывая изображения с высоким разрешением. Режим контакта обеспечивает прямой контакт наконечника с образцом для детального отображения топологии поверхности, в то время как режим подъема и режим фазовой визуализации расширяют возможности для захвата дальнодействующих сил и контраста материала соответственно, повышая глубину анализа, возможную с этим лабораторным оборудованием АСМ.

АСМ базового типа может похвастаться впечатляющим диапазоном сканирования, вмещающим образцы до 100 мкм на 100 мкм в латеральном направлении и 10 мкм по высоте. Для применений, требующих более высокого разрешения на меньших площадях, также доступен диапазон сканирования 30 мкм на 30 мкм на 5 мкм. Эта функциональность двойного диапазона гарантирует, что пользователи могут адаптировать свои параметры сканирования к конкретным требованиям своих экспериментов, не ставя под угрозу качество изображения или точность измерений. Конструкция АСМ с высокой стабильностью обеспечивает минимальный дрейф и помехи от вибрации во время сканирования, что приводит к стабильно надежному сбору данных.

В дополнение к топографической визуализации, этот АСМ поддерживает широкий спектр многофункциональных измерений, которые значительно расширяют его потенциал применения. Он интегрирует возможности электростатической силовой микроскопии (EFM), сканирующей микроскопии Кельвина (KPFM), пьезоэлектрической силовой микроскопии (PFM) и магнитной силовой микроскопии (MFM). Эти расширенные режимы измерения позволяют детально характеризовать электрические, пьезоэлектрические и магнитные свойства на наноуровне. Таким образом, исследователи могут исследовать широкий спектр атрибутов образцов, от распределения поверхностного заряда и изменений работы выхода до пьезоэлектрических откликов и структур магнитных доменов, и все это в рамках одного прибора.

Метод сканирования, используемый АСМ базового типа, основан на трехкоординатной системе сканирования всего образца XYZ. Это обеспечивает всестороннее покрытие поверхности образца, позволяя пользователю точно перемещаться и отображать любую интересующую область с высокой точностью. Трехкоординатный механизм сканирования также способствует высокой стабильности работы АСМ прибора, снижая механический шум и повышая воспроизводимость измерений при многократном сканировании.

Разрешение и детализация изображения являются критическими факторами в атомно-силовой микроскопии, и этот АСМ базового типа превосходит в этом аспекте благодаря своей способности получать точки изображения в диапазоне от 32*32 до впечатляющих 4096*4096 пикселей. Этот широкий диапазон позволяет пользователям эффективно балансировать между скоростью сканирования и разрешением изображения, что делает его подходящим как для быстрых обзоров, так и для детальных наноразмерных исследований. Возможность генерировать изображения с высоким разрешением гарантирует, что тонкие особенности поверхности и изменения свойств материала будут запечатлены с четкостью и точностью.

В заключение, атомно-силовой микроскоп базового типа сочетает в себе высокую стабильность работы АСМ с универсальными режимами работы, обширными диапазонами сканирования, многофункциональными возможностями измерения и визуализацией с высоким разрешением. Как важная часть лабораторного оборудования АСМ, он поддерживает широкий спектр научных исследований и промышленных применений, от материаловедения и нанотехнологий до электроники и биологии. Его прочная конструкция, многофункциональность и точность делают его идеальным выбором для любой лаборатории, стремящейся расширить свои возможности наноразмерных измерений с помощью надежного и высокопроизводительного атомно-силового микроскопа.

Особенности:

• Название продукта: Атомно-силовой микроскоп базового типа
• Уровень шума по оси Z: 0,04 нм для высокоточных измерений
• Многофункциональные измерения, включая электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM), пьезоэлектрический силовой микроскоп (PFM) и магнитный силовой микроскоп (MFM)
• Поддерживает микроскопию Кельвина (KPFM) для расширенного анализа поверхностного потенциала
• Точки выборки изображения в диапазоне от 32*32 до 4096*4096 для детальной визуализации
• Метод сканирования всего образца по трем осям XYZ, обеспечивающий всестороннее покрытие поверхности
• Гибкие варианты диапазона сканирования: 100 мкм*100 мкм*10 мкм и 30 мкм*30 мкм*5 мкм
• Идеальный сканирующий зондовый микроскоп для различных исследовательских и промышленных применений
• Купить атомно-силовой микроскоп с многофункциональностью и точными возможностями сканирования

Технические параметры:

Применения:

Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа Truth Instruments AtomExplorer - это универсальный и надежный инструмент, предназначенный для широкого спектра научных исследований. Этот современный прибор, разработанный в Китае, предлагает исключительные характеристики при визуализации наноразмерной топографии, что делает его идеальным выбором для исследователей, которым требуется высокая точность и аккуратность в своей работе. С возможностью обсуждения цены и доступности по запросу, AtomExplorer обеспечивает отличную ценность для учреждений и лабораторий, стремящихся расширить свои возможности наноразмерного анализа.

АСМ AtomExplorer поддерживает несколько режимов работы, включая режим касания, режим контакта, режим подъема и режим фазовой визуализации, позволяя исследователям адаптировать свой подход к сканированию к конкретным типам образцов и требованиям исследования. Его варианты диапазона сканирования 100 мкм*100 мкм*10 мкм и 30 мкм*30 мкм*5 мкм позволяют работать с различными размерами образцов и разрешениями, обеспечивая всестороннюю визуализацию наноразмерной топографии на различных материалах и поверхностях. Метод сканирования всего образца по трем осям XYZ дополнительно обеспечивает тщательную и точную визуализацию, обеспечивая точный контроль над положением образца во время анализа.

Одной из выдающихся особенностей AtomExplorer является его конструкция АСМ с высокой стабильностью, которая обеспечивает последовательные и надежные измерения даже в сложных экспериментальных условиях. Включение режима безопасного ввода иглы в рамках его технологии защиты наконечника сводит к минимуму риск повреждения наконечника во время работы, тем самым продлевая срок службы зонда и поддерживая качество визуализации с течением времени. Это делает AtomExplorer особенно подходящим для длительных и повторяющихся научных исследовательских задач, где долговечность прибора имеет решающее значение.

AtomExplorer широко используется в различных научных исследовательских случаях и сценариях, таких как материаловедение, проверка полупроводников, анализ биологических образцов и разработка нанотехнологий. Он позволяет исследователям исследовать свойства поверхности на наноуровне с исключительной детализацией, способствуя прорывам в понимании поведения материалов, структурных свойств и функциональных характеристик. Будь то в академических лабораториях, промышленных исследовательских центрах или в условиях контроля качества, этот АСМ с высокой стабильностью поддерживает критические исследования, требующие точной визуализации наноразмерной топографии.

В заключение, атомно-силовой микроскоп базового типа Truth Instruments AtomExplorer выделяется как мощный инструмент для АСМ для научных исследований. Его расширенные возможности сканирования, несколько режимов работы, конструкция с высокой стабильностью и эффективная технология защиты наконечника делают его надежным выбором для визуализации наноразмерной топографии в различных научных областях. Для получения подробной информации о ценах и индивидуальных решениях заинтересованным пользователям рекомендуется напрямую связаться с Truth Instruments.