Análise confiável da textura da superfície: AFM de tipo básico do AtomExplorer

Descrição do produto:

O microscópio de força atômica de tipo básico (AFM) é uma peça avançada de equipamento de AFM de laboratório projetado para fornecer caracterização de superfície precisa e confiável em uma ampla gama de materiais.Projetado com tecnologia AFM de alta estabilidade, este instrumento oferece um desempenho excepcional para pesquisadores e cientistas que exigem precisão, repetibilidade e versatilidade em suas investigações em nanoescala.O seu design robusto e as suas capacidades multifuncionais tornam-no uma ferramenta indispensável nos ambientes académicos e industriais de investigação.

Uma das características destacadas deste AFM de tipo Básico são seus modos de operação versáteis, que incluem o Modo Toque, Modo Contato, Modo Elevador e Modo de Imagem de Fase.Estes modos de funcionamento proporcionam aos utilizadores a flexibilidade de analisar superfícies em várias condições e obter informações detalhadas sobre as propriedades topográficas e materiais.O Modo Toque permite uma interacção suave com amostras delicadas, minimizando os danos e ainda capturando imagens de alta resolução.Modo de contato oferece contato direto ponta-amostra para mapeamento topológico de superfície detalhado, enquanto o modo de elevação e o modo de imagem de fase estendem as capacidades para capturar forças de longo alcance e contraste de material, respectivamente,Melhorar a profundidade de análise possível com este equipamento AFM de laboratório.

O AFM do tipo Basic possui uma gama de digitalização impressionante, permitindo a captação de amostras de até 100 μm por 100 μm lateralmente e 10 μm de altura.uma faixa de digitalização de 30 μm por 30 μm por 5 μm também está disponívelEsta funcionalidade de duplo alcance garante que os utilizadores possam adaptar os seus parâmetros de digitalização aos requisitos específicos das suas experiências sem comprometer a qualidade da imagem ou a precisão da medição.O projeto AFM de alta estabilidade garante a mínima deriva e interferência de vibração durante a varredura, o que resulta numa aquisição de dados consistentemente fiável.

Além da imagem topográfica, este AFM suporta um amplo espectro de medições multifuncionais que ampliam significativamente o seu potencial de aplicação.Integra a Microscopia de Força Electrostática (EFM), Capacidades de Microscopia de Probação de Kelvin (KPFM), Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) e Microscopia de Força Magnética (MFM).Estes modos de medição avançados permitem a caracterização pormenorizada deOs investigadores podem, assim, investigar uma grande variedade de atributos da amostra.das distribuições de carga superficial e variações da função de trabalho às respostas piezoelétricas e estruturas de domínio magnético, tudo num único instrumento.

O método de varredura utilizado pelo AFM de tipo Basic baseia-se num sistema de varredura de amostras completas de três eixos XYZ, que assegura uma cobertura completa da superfície da amostra,permitindo ao utilizador navegar com precisão e obter imagens de qualquer região de interesse com alta precisãoO mecanismo de varredura de três eixos contribui igualmente para o desempenho AFM de elevada estabilidade do instrumento.Redução do ruído mecânico e melhoria da reprodutibilidade das medições através de múltiplas digitalizações.

Resolução e detalhe da imagem são fatores críticos na microscopia de força atômica,e este AFM de tipo básico se destaca neste aspecto com sua capacidade de amostrar pontos de imagem que vão de 32 * 32 até um impressionante 4096 * 4096 pixelsEsta ampla gama permite aos utilizadores equilibrar a velocidade de digitalização e a resolução da imagem de forma eficiente, tornando-a adequada tanto para levantamentos rápidos como para investigações detalhadas em nanoescala.A capacidade de gerar imagens de alta resolução garante que as características sutis da superfície e as variações nas propriedades do material sejam capturadas com clareza e precisão.

Em resumo, o Microscópio de Força Atómica de tipo Básico combina desempenho AFM de alta estabilidade com modos operacionais versáteis, amplias faixas de varredura, capacidades de medição multifuncionais,e imagens de alta resoluçãoComo parte essencial do equipamento de AFM de laboratório, suporta uma ampla gama de aplicações científicas e industriais, desde a ciência dos materiais e nanotecnologia até eletrónica e biologia.Seu design robusto, multifuncionalidade e precisão tornam-na uma escolha ideal para qualquer laboratório que pretenda melhorar as suas capacidades de medição em nanoescala com um microscópio de força atómica de alto desempenho e de confiança.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de força atómica de tipo básico
• Nível de ruído do eixo Z: 0,04 nm para medições de alta precisão
• Medições multifuncionais, incluindo microscópio de força eletrostática (EFM), microscópio de Kelvin de varredura (KPFM), microscópio de força piezoelétrica (PFM) e microscópio de força magnética (MFM)
• Suporta a microscopia de força de sonda de Kelvin (KPFM) para análise avançada do potencial de superfície
• Pontos de amostragem de imagem que variam de 32*32 a 4096*4096 para obtenção de imagens pormenorizadas
• XYZ Método de varredura de amostra completa em três eixos que assegure uma cobertura abrangente da superfície
• Opções de gama de digitalização flexível: 100 μm*100 μm*10 μm e 30 μm*30 μm*5 μm
• Microscópio de sonda de varredura ideal para várias aplicações de investigação e industriais
• Compre um microscópio de força atômica com multifuncionalidade e capacidades de varredura precisas

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

O Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) é uma ferramenta versátil e confiável projetada para uma ampla gama de aplicações de pesquisa científica.Este instrumento avançado oferece um desempenho excepcional em imagens de topografia em nanoescala, tornando-a uma escolha ideal para investigadores que necessitam de alta precisão e precisão no seu trabalho.O AtomExplorer oferece um excelente valor para instituições e laboratórios que pretendem melhorar as suas capacidades de análise em nanoescala.

O AFM AtomExplorer suporta vários modos operacionais, incluindo o modo Tap, o modo Contact, o modo Lift e o modo Phase Imaging,Permitir que os investigadores adaptem a sua abordagem de digitalização a tipos específicos de amostras e requisitos de investigaçãoAs suas opções de gama de digitalização de 100 μm*100 μm*10 μm e 30 μm*30 μm*5 μm permitem uma variedade de amostras e resoluções,assegurar uma imagem topográfica abrangente em nanoescala em diferentes materiais e superfíciesO método de varredura de amostras completas de três eixos XYZ garante ainda uma imagem completa e precisa, permitindo um controlo preciso da posição da amostra durante a análise.

Uma das características destacadas do AtomExplorer é o seu design AFM de alta estabilidade, que fornece medições consistentes e confiáveis mesmo em condições experimentais desafiadoras.A inclusão do modo de inserção segura da agulha como parte da sua tecnologia de proteção da ponta minimiza o risco de danos na ponta durante a operação, prolongando assim a vida útil da sonda e mantendo a qualidade da imagem ao longo do tempo.Isto torna o AtomExplorer particularmente adequado para tarefas de investigação científica prolongadas e repetitivas onde a durabilidade do instrumento é crucial.

O AtomExplorer é amplamente utilizado em várias ocasiões e cenários de pesquisa científica, como ciência de materiais, inspeção de semicondutores, análise de amostras biológicas e desenvolvimento de nanotecnologia.Permite aos investigadores investigar as propriedades da superfície em nanoescala com um detalhe excepcionalO projecto de um novo sistema de informação e comunicação, que permite a compreensão dos comportamentos dos materiais, das suas propriedades estruturais e das suas características funcionais, pode ser desenvolvido em laboratórios académicos, centros de investigação industriais ou em laboratórios de investigação.ou ambientes de controlo de qualidade, este AFM de alta estabilidade suporta investigações críticas que exigem imagens topográficas precisas em nanoescala.

Em resumo, o Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope destaca-se como uma poderosa ferramenta para AFM para pesquisa científica.modos de funcionamento múltiplos, design de alta estabilidade e tecnologia eficaz de proteção da ponta tornam-na uma escolha confiável para imagens de topografia em nanoescala em diversos campos científicos.Para informações detalhadas sobre preços e soluções personalizadas, os utilizadores interessados são encorajados a contactar directamente a Truth Instruments.