신뢰할 수 있는 표면 질감 분석: AtomExplorer Basic 타입 AFM

제품 설명:

기본형 원자력 현미경 (AFM) 은 광범위한 재료에 대한 정확하고 신뢰할 수있는 표면 특징을 제공하기 위해 설계된 고급 실험실 AFM 장비입니다.높은 안정성 AFM 기술로 설계이 도구는 나노 규모의 조사에서 정확성, 반복성 및 다재다능성을 요구하는 연구자와 과학자들에게 예외적인 성능을 제공합니다.탄탄한 디자인과 다기능성으로 인해 학술 및 산업 연구 환경에서 필수적인 도구입니다..

이 기본형 AFM의 대표적인 특징 중 하나는 탭 모드, 접촉 모드, 리프트 모드 및 단계 영상 모드를 포함하는 다재다능한 작동 모드입니다.이러한 작동 방식은 사용자가 다양한 조건 하에서 표면을 분석하고 상세한 지형 및 재료 특성을 얻을 수 있는 유연성을 제공합니다.탭 모드는 섬세한 샘플과 부드러운 상호 작용을 가능하게 하며, 고해상도 이미지를 캡처하면서 손상을 최소화합니다.접촉 모드는 상세한 표면 토폴로지 매핑을 위해 직접 팁 샘플 접촉을 제공합니다., 리프트 모드와 파스 이미징 모드가 각각 장거리 힘과 물질 대비 성질을 캡처하는 기능을 확장하는 동안,이 실험실 AFM 장비로 가능한 분석의 깊이를 향상.

베이직형 AFM는 100μm × 100μm 측면 및 10μm 높이까지 샘플을 수용 할 수있는 인상적인 스캔 범위를 자랑합니다. 더 작은 영역에서 더 높은 해상도를 필요로하는 애플리케이션을 위해30μm × 30μm × 5μm의 스캔 범위도 사용할 수 있습니다이 이중 범위 기능은 사용자가 이미지 품질이나 측정 정확성을 손상시키지 않고 실험의 특정 요구 사항에 스캔 매개 변수를 조정 할 수 있도록합니다.높은 안정성 AFM 디자인은 스캔 중에 최소한의 이동 및 진동 간섭을 보장합니다., 일관성 있는 신뢰성 있는 데이터 수집을 가져옵니다.

이 AFM는 지형 이미지 촬영 외에도 광범위한 다기능 측정 기능을 지원하며 응용 잠재력을 크게 확장합니다.전자기력 현미경 (EFM) 을 통합합니다., 스캐닝 켈빈 탐사 현미경 (KPFM), 피에조 전기력 현미경 (PFM) 및 자기력 현미경 (MFM) 기능.이러한 고급 측정 방식은 전기연구자들은 따라서 다양한 샘플 특성을 조사할 수 있습니다.표면 전하 분포와 작업 기능 변동에서 피에조 전기 반응과 자기 영역 구조까지, 모두 하나의 도구 안에 있습니다.

기본형 AFM에서 사용하는 스캐닝 방법은 XYZ 3축 전체 샘플 스캐닝 시스템에 기반합니다. 이것은 샘플 표면의 포괄적 인 커버리지를 보장합니다.사용자를 위해 고도의 정확성으로 흥미의 모든 지역을 정확하게 탐색하고 이미지를 가능하게 하는3축 스캔 메커니즘은 또한 기기의 높은 안정성 AFM 성능에 기여합니다.기계적 잡음을 줄이고 여러 스캔에서 측정의 재생성을 향상시킵니다..

이미지 해상도와 세부 사항은 원자력 현미경에서 중요한 요소입니다.그리고 이 기본형 AFM은 32*32에서 4096*4096 픽셀까지의 이미지 포인트를 샘플링할 수 있는 능력으로 이 측면에서 탁월합니다.이 광범위한 범위는 사용자가 스캔 속도와 이미지 해상도를 효율적으로 균형을 잡을 수 있도록하여 신속한 조사 및 상세한 나노 스케일 조사에 적합합니다.고 해상도 영상 을 생성 할 수 있는 능력 은 미세 한 표면 특징 과 재료 특성 의 변동 이 명확 하고 정확 하게 포착 될 수 있도록 한다.

요약하자면 기본형 원자력 현미경은 높은 안정성 AFM 성능을 다재다능한 작동 방식, 광범위한 스캔 범위, 다기능 측정 기능,고해상도 영상필수적인 실험실 AFM 장비의 한 부분으로서, 그것은 재료 과학과 나노 기술에서 전자 및 생물학에 이르기까지 광범위한 과학 연구 및 산업 응용 프로그램을 지원합니다.견고 한 디자인, 다기능성 및 정밀성은 신뢰할 수 있고 고성능의 원자 힘 현미경으로 나노 규모의 측정 능력을 향상시키고자 하는 모든 실험실의 이상적인 선택으로 만듭니다..

특징:

• 제품명: 기본형 원자력 현미경
• Z축 소음 수준: 높은 정밀 측정에 0.04 Nm
• 전기 정전력 현미경 (EFM), 스캐닝 켈빈 현미경 (KPFM), 피에조 전기 힘 현미경 (PFM), 자기 힘 현미경 (MFM) 을 포함한 다기능 측정
• 고급 표면 잠재 분석을 위해 켈빈 탐사 힘 현미경 (KPFM) 을 지원합니다.
• 이미지 샘플링 포인트 32*32에서 4096*4096까지 상세한 영상 촬영을 위해
• XYZ 3축 전체 샘플 스캔 방법
• 유연한 스캔 범위 옵션: 100μm*100μm*10μm 및 30μm*30μm*5μm
• 이상적인 스캔 탐사 현미경 다양한 연구 및 산업용
• 다기능성과 정밀한 스캔 기능을 가진 원자력 현미경

기술 매개 변수:

응용 프로그램:

진실 기기 원자 탐사기 기본형 원자력 현미경 (AFM) 은 광범위한 과학적 연구 응용을 위해 설계된 다재다능하고 신뢰할 수 있는 도구입니다.이 첨단 장비는 나노 스케일 토포그래피 영상 촬영에서 뛰어난 성능을 제공합니다., 높은 정확성과 정확성을 필요로 하는 연구자들에게 이상적인 선택입니다.아토믹스플로러는 나노 규모 분석 능력을 향상시키는 것을 목표로 하는 기관과 연구소에 훌륭한 가치를 제공합니다..

AtomExplorer AFM는 탭 모드, 접촉 모드, 리프트 모드, 단계 이미지 모드 등 여러 동작 모드를 지원합니다.연구자들이 특정 표본 유형과 연구 요구 사항에 스캔 접근 방식을 조정할 수 있도록 하는 것100μm*100μm*10μm 및 30μm*30μm*5μm의 스캔 범위 옵션은 다양한 샘플 크기와 해상도를 수용합니다.다양한 재료와 표면에 걸쳐 포괄적인 나노 스케일 토포그래피 영상을 보장합니다.XYZ 3축 풀 샘플 스캔 방법은 분석 중에 샘플 위치에 대한 정확한 통제를 가능하게 함으로써 철저하고 정확한 영상을 보장합니다.

아톰 익스플로러의 대표적인 특징 중 하나는 높은 안정성 AFM 디자인으로, 까다로운 실험 조건에서도 일관성 있고 신뢰할 수 있는 측정을 제공합니다.안전 바늘 삽입 모드의 포함 그것의 끝 보호 기술의 일부로 작동 중에 끝 손상 위험을 최소화, 따라서 탐사기의 수명을 연장하고 시간이 지남에 따라 이미지의 품질을 유지합니다.이것은 원자력 탐사기를 특히 장기적이고 반복적인 과학적 연구 작업에 적합하게 만듭니다..

원자 탐사는 재료 과학, 반도체 검사, 생물학적 샘플 분석 및 나노 기술 개발과 같은 다양한 과학적 연구 기회 및 시나리오에서 널리 사용됩니다.연구자들이 남다른 세부사항으로 나노 규모의 표면 특성을 조사할 수 있게 해줍니다.학술 연구소, 산업 연구 센터 등에서또는 품질 관리 환경, 이 높은 안정성 AFM은 정밀한 나노 스케일 토포그래피 영상을 요구하는 중요한 조사를 지원합니다.

요약하자면, Truth Instruments AtomExplorer 기본형 원자력 현미경은 과학 연구를 위한 AFM의 강력한 도구로 돋보인다.여러 동작 모드, 높은 안정성 디자인, 그리고 효과적인 끝 보호 기술은 다양한 과학 분야에서 나노 스케일 토포그래피 이미징에 대한 신뢰할 수있는 선택으로 만듭니다.자세한 가격 정보 및 맞춤형 솔루션, 관심 있는 사용자들은 트루트 인스트루먼트 (Truth Instruments) 에 직접 연락하도록 권장됩니다.