Betrouwbare oppervlaktextuuranalyse: AtomExplorer Basic-type AFM

Productbeschrijving:

De Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd laboratorium-AFM-apparatuur dat is ontworpen om een nauwkeurige en betrouwbare oppervlaktekarakterisering van een breed scala aan materialen te leveren.Gemaakt met AFM-technologie met een hoge stabiliteit, biedt dit instrument uitzonderlijke prestaties voor onderzoekers en wetenschappers die exactheid, herhaalbaarheid en veelzijdigheid eisen in hun nanoschaalonderzoeken.Het robuuste ontwerp en de multifunctionaliteit maken het een onmisbaar hulpmiddel in zowel academische als industriële onderzoeksomgevingen.

Een van de opvallende kenmerken van deze AFM van het Basic-type is de veelzijdige werkwijzen, waaronder Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode en Phase Imaging Mode.Deze werkwijzen bieden gebruikers de flexibiliteit om oppervlakken onder verschillende omstandigheden te analyseren en gedetailleerde topografische en materiële eigenschappen te verkrijgen. Tap-modus maakt zachte interactie met delicate monsters mogelijk, waardoor schade wordt geminimaliseerd en tegelijkertijd hoge resolutiebeelden worden vastgelegd.Contactmodus biedt rechtstreeks punt-monstercontact voor gedetailleerde topologie van het oppervlak, terwijl de Lift Mode en de Phase Imaging Mode de mogelijkheden om respectievelijk langeafstandskrachten en materiaalcontrast vast te leggen uitbreiden,het verbeteren van de diepte van de analyse mogelijk met deze laboratorium AFM apparatuur.

Voor toepassingen die een hogere resolutie op kleinere oppervlakken vereisen, is de AFM van het Basic-type uitgerust met een indrukwekkend scanningbereik, waarbij monsters tot 100 μm bij 100 μm zijdelings en 10 μm hoog kunnen worden opgenomen.een scanbereik van 30 μm bij 30 μm bij 5 μm is ook beschikbaarDeze dual-range-functionaliteit zorgt ervoor dat gebruikers hun scaneparameters kunnen afstemmen op de specifieke vereisten van hun experimenten zonder afbreuk te doen aan de beeldkwaliteit of de meetnauwkeurigheid.De hoge stabiliteit van het AFM-ontwerp zorgt voor minimale drift en trillingsinterferentie tijdens het scannen, wat resulteert in een consistente betrouwbare gegevensverzameling.

Naast topografische beeldvorming ondersteunt dit AFM een breed spectrum aan multifunctionele metingen die het toepassingspotentieel aanzienlijk vergroten.Het integreert elektrostatische krachtmicroscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM), Piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM) en magnetische krachtmicroscopie (MFM) mogelijkheden.Deze geavanceerde meetmodi maken een gedetailleerde karakterisering van elektrischeHet is de bedoeling dat de onderzoekers een grote verscheidenheid aan monsterkenmerken kunnen onderzoeken.van oppervlakteladingsverdelingen en variaties van de werkfunctie tot piezo-elektrische reacties en magnetische domeinstructuren, allemaal in één instrument.

De scanmethode van de AFM van het Basic-type is gebaseerd op een drie-asig volledig monster scansysteem XYZ, dat een uitgebreide dekking van het monsteroppervlak garandeert.de gebruiker in staat stelt om met hoge nauwkeurigheid op elk gebied van belang nauwkeurig te navigeren en afbeeldingen te makenHet drieassige scane­mechanisme draagt ook bij tot de hoge stabiliteit van de AFM­prestaties van het instrument.vermindering van mechanisch lawaai en verbetering van de reproduceerbaarheid van metingen op meerdere scans.

Beeldresolutie en detail zijn cruciale factoren in atoomkrachtmicroscopie.en deze Basic-type AFM uitblinkt in dit aspect met zijn vermogen om beeldpunten te monteren variërend van 32 * 32 tot een indrukwekkende 4096 * 4096 pixelsDit brede bereik stelt gebruikers in staat om efficiënt een balans te vinden tussen scansnelheid en beeldresolutie, waardoor het geschikt is voor zowel snelle enquêtes als gedetailleerde nanoschaalonderzoeken.De mogelijkheid om hoge resolutiebeelden te genereren zorgt ervoor dat subtiele oppervlaktefuncties en variaties in materiaal eigenschappen met helderheid en precisie worden vastgelegd.

Kortom, de Basic-type Atomic Force Microscope combineert een hoge stabiliteit AFM prestaties met veelzijdige werkwijzen, uitgebreide scanning reeksen, multifunctionele meetmogelijkheden,en beeldvorming met hoge resolutieAls essentieel laboratorium-AFM-apparatuur ondersteunt het een breed scala aan wetenschappelijk onderzoek en industriële toepassingen, van materiaalwetenschap en nanotechnologie tot elektronica en biologie.Het robuuste ontwerp, multifunctionaliteit en precisie maken het een ideale keuze voor elk laboratorium dat zijn nanoschaal meetmogelijkheden wil verbeteren met een betrouwbare en krachtige atoomkrachtmicroscoop.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope van basistype
• Ruisniveau op de Z-as: 0,04 Nm voor metingen met hoge precisie
• Multifunctionele metingen, waaronder elektrostatische krachtimicroscoop (EFM), scanning Kelvin microscoop (KPFM), piezo-elektrische krachtimicroscoop (PFM) en magnetische krachtimicroscoop (MFM)
• Ondersteunt Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) voor geavanceerde oppervlakte potentiële analyse
• Afbeeldingsmonsternamingspunten van 32*32 tot 4096*4096 voor gedetailleerde afbeeldingen
• XYZ Drie-assige volledige-monster-scanmethode die zorgt voor een uitgebreide oppervlakte-dekking
• Flexible Scanning Range opties: 100 μm*100 μm*10 μm en 30 μm*30 μm*5 μm
• Ideale scanning probe microscoop voor verschillende onderzoeks- en industriële toepassingen
• Koop Atomic Force Microscope met multifunctionaliteit en precieze scanning mogelijkheden

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is een veelzijdig en betrouwbaar instrument ontworpen voor een breed scala aan wetenschappelijke onderzoekstoepassingen.Dit geavanceerde instrument biedt uitzonderlijke prestaties in nanoschaal topografie beeldvorming, waardoor het een ideale keuze is voor onderzoekers die een hoge precisie en nauwkeurigheid in hun werk vereisen.de AtomExplorer biedt een uitstekende waarde voor instellingen en laboratoria die hun nanoschaalanalysecapaciteiten willen verbeteren.

De AtomExplorer AFM ondersteunt meerdere besturingsmodi, waaronder Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode en Phase Imaging Mode,het toelaten van onderzoekers om hun scanning aan te passen aan specifieke steekproeftypen en onderzoeksvereistenDe scans van 100 μm*100 μm*10 μm en 30 μm*30 μm*5 μm zijn geschikt voor een verscheidenheid aan steekproefgroottes en resoluties.het garanderen van een uitgebreide topografie op nanoschaal op verschillende materialen en oppervlakkenDe XYZ-methode voor het scannen van een volledig monster met drie assen zorgt voor een grondige en nauwkeurige afbeelding door tijdens de analyse een nauwkeurige controle over de positie van het monster mogelijk te maken.

Een van de opvallende kenmerken van de AtomExplorer is het hoge stabiliteit van het AFM-ontwerp, dat consistent en betrouwbaar meetwerk levert, zelfs onder uitdagende experimentele omstandigheden.Het opnemen van een veilige naaldinvoegingsmodus als onderdeel van de puntbeschermingstechnologie minimaliseert het risico op schade aan de punt tijdens het gebruik., waardoor de levensduur van de sonde wordt verlengd en de kwaliteit van de beeldvorming in de loop van de tijd behouden blijft.Dit maakt de AtomExplorer bijzonder geschikt voor langdurige en repetitieve wetenschappelijke onderzoekstaken waarbij de duurzaamheid van het instrument cruciaal is..

De AtomExplorer wordt veel gebruikt in verschillende wetenschappelijke onderzoeksgelegenheden en -scenario's, zoals materiaalwetenschap, halfgeleiderinspectie, biologische monsteranalyse en nanotechnologische ontwikkeling.Het stelt onderzoekers in staat om oppervlakte-eigenschappen op nanoschaal met uitzonderlijke details te onderzoekenHet is de bedoeling van de Europese Commissie om in het kader van de nieuwe technologieën de mogelijkheid te scheppen om nieuwe technologieën te ontwikkelen en te ontwikkelen, die doorbraken in het begrip van materiaalgedrag, structurele eigenschappen en functionele kenmerken mogelijk maken.of kwaliteitscontroleomgevingen, ondersteunt deze hoge stabiliteit AFM kritische onderzoeken die nauwkeurige nanoschaal topografie beeldvorming vereisen.

Kortom, de Truth Instruments AtomExplorer Atomic Force Microscope Basic-type is een krachtig instrument voor AFM voor wetenschappelijk onderzoek.meerdere werkwijzen, hoogstabiel ontwerp en effectieve tipbeschermingstechnologie maken het een betrouwbare keuze voor nano-schaal topografie beeldvorming op verschillende wetenschappelijke gebieden.Voor gedetailleerde prijsinformatie en op maat gemaakte oplossingen, worden geïnteresseerde gebruikers aangemoedigd rechtstreeks contact op te nemen met Truth Instruments.