Zuverlässige Oberflächentexturanalyse: AtomExplorer Basic-Type AFM

Beschreibung des Produkts:

Das Atomkraftmikroskop (AFM) des Grundtyps ist ein fortschrittliches Labor-AFM-Gerät, das zur präzisen und zuverlässigen Oberflächencharakterisierung einer Vielzahl von Materialien entwickelt wurde.Konzipiert mit hoher Stabilität AFM-Technologie, bietet dieses Instrument eine außergewöhnliche Leistung für Forscher und Wissenschaftler, die in ihren Nanoskalauntersuchungen Genauigkeit, Wiederholbarkeit und Vielseitigkeit verlangen.Sein robustes Design und seine multifunktionale Funktionalität machen es zu einem unverzichtbaren Instrument sowohl in akademischen als auch in industriellen Forschungsumgebungen..

Eines der herausragenden Merkmale dieses Basic-Type-AFM sind seine vielseitigen Betriebsmodi, zu denen der Tap-Modus, der Kontakt-Modus, der Lift-Modus und der Phase-Imaging-Modus gehören.Diese Betriebsarten bieten den Benutzern die Flexibilität, Oberflächen unter verschiedenen Bedingungen zu analysieren und detaillierte topographische sowie materielle Eigenschaften zu erhalten.Der Tapping-Modus ermöglicht eine sanfte Interaktion mit empfindlichen Proben, wodurch Schäden minimiert und gleichzeitig hochauflösende Bilder erfasst werden.Kontaktmodus bietet direkten Kontakt zwischen Spitze und Probe für eine detaillierte Kartierung der Oberflächentopologie, während der Lift-Modus und der Phasenbildmodus die Fähigkeit zur Erfassung von Langstreckenkräften und des Materialkontrastes erweitern,Verbesserung der mit dieser Labor-AFM-Ausrüstung möglichen Analysetiefe.

Der AFM des Typ Basic verfügt über einen beeindruckenden Scanning-Bereich, der Proben bis zu 100 μm bei 100 μm seitlich und 10 μm hoch aufnehmen kann.ein Scanning-Bereich von 30 μm x 30 μm x 5 μm ist ebenfalls verfügbarDiese Funktionalität bietet den Benutzern die Möglichkeit, ihre Scannerparameter an die spezifischen Anforderungen ihrer Experimente anzupassen, ohne dabei die Bildqualität oder die Messgenauigkeit zu beeinträchtigen.Das hochstabile AFM-Design sorgt für minimale Drift- und Vibrationsstörungen während des Scannens, was zu einer gleichbleibend zuverlässigen Datenerfassung führt.

Zusätzlich zur topographischen Bildgebung unterstützt dieses AFM ein breites Spektrum multifunktionaler Messungen, die sein Anwendungspotenzial erheblich erweitern.Es integriert die Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM) und Magnetische Kraftmikroskopie (MFM) Fähigkeiten.Diese fortschrittlichen Messmodi ermöglichen eine detaillierte Charakterisierung der elektrischen, piezoelektrischen und magnetischen Eigenschaften auf der Nanoskala.von Oberflächenladungsverteilungen und Arbeitsfunktionsschwankungen bis hin zu piezoelektrischen Reaktionen und magnetischen Domänenstrukturen, alles in einem einzigen Instrument.

Das von der AFM des Basistypes verwendete Scannungsverfahren basiert auf einem dreiachsigen XYZ-Scan-System für die gesamte Probenahme, das eine umfassende Abdeckung der Probenfläche gewährleistet.die dem Benutzer ermöglicht, sich mit hoher Genauigkeit in jedem Interessengebiet zu navigieren und Bilder zu erstellenDer dreiachsige Scanningmechanismus trägt auch zur hohen Stabilität des AFM bei.Verringerung von mechanischem Rauschen und Verbesserung der Reproduzierbarkeit von Messungen über mehrere Scans.

Auflösung und Detail sind entscheidende Faktoren in der Atomkraftmikroskopie.und diese Basic-Typ AFM überzeugt in diesem Aspekt mit seiner Fähigkeit, Bildpunkte zu sammeln, die von 32 * 32 bis zu einem beeindruckenden 4096 * 4096 PixelDieser breite Bereich ermöglicht es den Benutzern, die Geschwindigkeit des Scans und die Auflösung des Bildes effizient auszugleichen, was es sowohl für schnelle Erhebungen als auch für detaillierte Nanoberechnungen geeignet macht.Die Fähigkeit, hochauflösende Bilder zu erzeugen, sorgt dafür, dass subtile Oberflächenmerkmale und Materialveränderungen klar und präzise erfasst werden.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Atomkraftmikroskop des Basistyps eine hohe Stabilität der AFM-Leistung mit vielseitigen Betriebsmodi, umfangreichen Scanning-Bereichen, multifunktionalen Messfunktionen,und hochauflösende BildgebungAls wesentliche Labor-AFM-Ausrüstung unterstützt es eine breite Palette wissenschaftlicher Forschung und industrieller Anwendungen, von der Materialwissenschaft und Nanotechnologie über Elektronik und Biologie.Sein robustes Design, Multifunktionalität und Präzision machen es zu einer idealen Wahl für jedes Labor, das seine Nanomessfähigkeiten mit einem zuverlässigen und leistungsstarken Atomkraftmikroskop verbessern möchte.

Eigenschaften:

• Produktbezeichnung: Atomkraftmikroskop des Grundtyps
• Z-Achsenlärmpegel: 0,04 Nm bei Messungen mit hoher Präzision
• Multifunktionale Messungen einschließlich Elektrostatisches Kraftmikroskop (EFM), Scanning Kelvin-Mikroskop (KPFM), Piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM) und Magnetkraftmikroskop (MFM)
• Unterstützt die Kelvin-Sonde-Kraftmikroskopie (KPFM) für eine erweiterte Oberflächenpotenzialanalyse
• Bildprobenpunkte von 32*32 bis 4096*4096 für detaillierte Bildgebung
• XYZ-Drei-Achsen-Scan-Methode zur vollständigen Probenahme, die eine umfassende Oberflächenabdeckung gewährleistet
• Flexible Scanning Range Optionen: 100 μm*100 μm*10 μm und 30 μm*30 μm*5 μm
• Ideal Scanning Probe Mikroskop für verschiedene Forschungs- und Industrieanwendungen
• Kaufen Sie Atomic Force Microscope mit Multifunktionalität und präzisen Scanning-Fähigkeiten

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomExplorer Atomic Force Microscope (AFM) ist ein vielseitiges und zuverlässiges Werkzeug, das für eine Vielzahl von wissenschaftlichen Forschungsvorhaben entwickelt wurde.Dieses fortschrittliche Instrument bietet außergewöhnliche Leistungen in der Nano-Skala-Topographie, so dass es eine ideale Wahl für Forscher ist, die eine hohe Präzision und Genauigkeit in ihrer Arbeit benötigen.Der AtomExplorer bietet einen hervorragenden Wert für Institutionen und Laboratorien, die ihre Fähigkeiten zur Analyse im Nanobereich verbessern möchten..

Der AtomExplorer AFM unterstützt mehrere Betriebsarten, einschließlich Tap-Modus, Kontaktmodus, Lift-Modus und Phase-Imaging-Modus,die Forschern ermöglicht, ihren Scanning-Ansatz an spezifische Probentypen und Forschungsanforderungen anzupassenDie Scanning-Bereichsoptionen von 100 μm*100 μm*10 μm und 30 μm*30 μm*5 μm bieten eine Vielzahl von Probengrößen und Auflösungen.Gewährleistung einer umfassenden Nano-Skala-Topographie auf verschiedenen Materialien und OberflächenDie dreieckige XYZ-Scanmethode für die vollständige Probenahme gewährleistet eine gründliche und genaue Bildgebung, indem sie die Präzisionskontrolle über die Probenposition während der Analyse ermöglicht.

Eines der herausragenden Merkmale des AtomExplorers ist sein hochstabiles AFM-Design, das auch unter schwierigen experimentellen Bedingungen konsistente und zuverlässige Messungen ermöglicht.Die Einbeziehung eines sicheren Einsatzmodus für die Nadel als Teil der Spitzenschutztechnologie minimiert das Risiko von Spitzenbeschädigungen während des Betriebs., wodurch die Lebensdauer der Sonde verlängert und die Bildqualität im Laufe der Zeit erhalten bleibt.Dies macht den AtomExplorer besonders geeignet für längere und sich wiederholende wissenschaftliche Forschungsaufgaben, bei denen die Langlebigkeit des Instruments entscheidend ist..

Der AtomExplorer wird in verschiedenen wissenschaftlichen Forschungsfällen und Szenarien wie Materialwissenschaft, Halbleiterinspektion, biologische Probenanalyse und Nanotechnologieentwicklung weit verbreitet.Sie ermöglicht es Forschern, Oberflächen-Eigenschaften im Nanobereich mit außergewöhnlichem Detail zu untersuchen., die Durchbrüche im Verständnis von Materialverhalten, strukturellen Eigenschaften und funktionalen Eigenschaften erleichtern.oder Qualitätskontrollumgebungen, unterstützt dieses hochstabile AFM kritische Untersuchungen, die eine präzise Nano-Skala-Topographie-Bildgebung erfordern.

Zusammenfassend lässt sich sagen, dass das Atomkraftmikroskop von Truth Instruments AtomExplorer als ein leistungsfähiges Instrument für AFM für die wissenschaftliche Forschung hervorstecht.Mehrfachbetriebsmodus, hohe Stabilität und wirksame Spitzenschutztechnologie machen es zu einer zuverlässigen Wahl für die Nano-Skala-Topographie-Bildgebung in verschiedenen wissenschaftlichen Bereichen.Detaillierte Preisinformationen und maßgeschneiderte Lösungen, werden interessierte Benutzer aufgefordert, sich direkt an Truth Instruments zu wenden.