Güvenilir Yüzey Pürüzlülüğü Analizi: AtomExplorer Temel Tip AFM

Ürün Açıklaması:

Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), çok çeşitli malzemelerde hassas ve güvenilir yüzey karakterizasyonu sağlamak üzere tasarlanmış gelişmiş bir laboratuvar AFM ekipmanıdır. Yüksek kararlılıklı AFM teknolojisiyle tasarlanan bu cihaz, nano ölçekli araştırmalarında doğruluk, tekrarlanabilirlik ve çok yönlülük talep eden araştırmacılar ve bilim insanları için olağanüstü performans sunar. Sağlam tasarımı ve çok işlevli yetenekleri, onu hem akademik hem de endüstriyel araştırma ortamlarında vazgeçilmez bir araç haline getirir.

Bu Temel tip AFM'nin öne çıkan özelliklerinden biri, Tap Modu, Temas Modu, Kaldırma Modu ve Faz Görüntüleme Modu dahil olmak üzere çok yönlü çalışma modlarıdır. Bu çalışma modları, kullanıcılara çeşitli koşullar altında yüzeyleri analiz etme ve ayrıntılı topografik ve malzeme özelliği bilgileri elde etme esnekliği sağlar. Tap Modu, hassas numunelerle nazik bir etkileşim sağlayarak hasarı en aza indirirken yine de yüksek çözünürlüklü görüntüler yakalar. Temas Modu, ayrıntılı yüzey topolojisi haritalaması için doğrudan uç-numune teması sunarken, Kaldırma Modu ve Faz Görüntüleme Modu, sırasıyla uzun menzilli kuvvetleri ve malzeme kontrastını yakalama yeteneklerini genişleterek bu laboratuvar AFM ekipmanı ile mümkün olan analiz derinliğini artırır.

Temel tip AFM, 100 μm x 100 μm yatay ve 10 μm yükseklikteki numuneleri barındıran etkileyici bir tarama aralığına sahiptir. Daha küçük alanlarda daha yüksek çözünürlük gerektiren uygulamalar için, 30 μm x 30 μm x 5 μm'lik bir tarama aralığı da mevcuttur. Bu çift aralıklı işlevsellik, kullanıcıların görüntü kalitesinden veya ölçüm hassasiyetinden ödün vermeden tarama parametrelerini deneylerinin özel gereksinimlerine göre uyarlamasını sağlar. Yüksek kararlılıklı AFM tasarımı, tarama sırasında minimum sürüklenme ve titreşim paraziti sağlayarak sürekli olarak güvenilir veri elde edilmesini sağlar.

Bu AFM, topografik görüntülemeye ek olarak, uygulama potansiyelini önemli ölçüde genişleten çok çeşitli çok işlevli ölçümleri destekler. Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Taramalı Kelvin Prob Mikroskobu (KPFM), Piezoelektrik Kuvvet Mikroskobu (PFM) ve Manyetik Kuvvet Mikroskobu (MFM) yeteneklerini entegre eder. Bu gelişmiş ölçüm modları, nano ölçekte elektriksel, piezolektrik ve manyetik özelliklerin ayrıntılı olarak karakterize edilmesini sağlar. Araştırmacılar böylece, yüzey yük dağılımlarından ve işlev varyasyonlarından piezolektrik tepkilere ve manyetik alan yapılarına kadar çok çeşitli numune özelliklerini tek bir cihaz içinde inceleyebilirler.

Temel tip AFM tarafından kullanılan tarama yöntemi, bir XYZ üç eksenli tam numune tarama sistemine dayanmaktadır. Bu, numune yüzeyinin kapsamlı bir şekilde kapsanmasını sağlayarak, kullanıcının ilgi duyulan herhangi bir bölgede yüksek doğrulukla hassas bir şekilde gezinmesini ve görüntülemesini sağlar. Üç eksenli tarama mekanizması ayrıca cihazın yüksek kararlılıklı AFM performansına katkıda bulunarak mekanik gürültüyü azaltır ve birden fazla taramada ölçümlerin tekrarlanabilirliğini artırır.

Görüntü çözünürlüğü ve ayrıntısı, atomik kuvvet mikroskobisinde kritik faktörlerdir ve bu Temel tip AFM, 32*32'den etkileyici 4096*4096 piksele kadar değişen görüntü noktalarını örnekleme yeteneği ile bu konuda mükemmeldir. Bu geniş aralık, kullanıcıların tarama hızı ve görüntü çözünürlüğü arasında verimli bir denge kurmasını sağlayarak, hem hızlı incelemeler hem de ayrıntılı nano ölçekli araştırmalar için uygun hale getirir. Yüksek çözünürlüklü görüntüler oluşturma yeteneği, malzeme özelliklerindeki ince yüzey özelliklerinin ve varyasyonların netlik ve hassasiyetle yakalanmasını sağlar.

Özetle, Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu, yüksek kararlılıklı AFM performansını çok yönlü çalışma modları, kapsamlı tarama aralıkları, çok işlevli ölçüm yetenekleri ve yüksek çözünürlüklü görüntüleme ile birleştirir. Temel bir laboratuvar AFM ekipmanı olarak, malzeme bilimi ve nanoteknolojiden elektronik ve biyolojiye kadar çok çeşitli bilimsel araştırmaları ve endüstriyel uygulamaları destekler. Sağlam tasarımı, çok işlevliliği ve hassasiyeti, nano ölçekli ölçüm yeteneklerini güvenilir ve yüksek performanslı bir atomik kuvvet mikroskobu ile geliştirmek isteyen herhangi bir laboratuvar için ideal bir seçimdir.

Özellikler:

• Ürün Adı: Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu
• Z-Eksen Gürültü Seviyesi: Yüksek hassasiyetli ölçümler için 0,04 Nm
• Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu (EFM), Taramalı Kelvin Mikroskobu (KPFM), Piezoelektrik Kuvvet Mikroskobu (PFM) ve Manyetik Kuvvet Mikroskobu (MFM) dahil olmak üzere Çok İşlevli Ölçümler
• Gelişmiş yüzey potansiyel analizi için Kelvin Prob Kuvvet Mikroskobisini (KPFM) destekler
• Ayrıntılı görüntüleme için 32*32'den 4096*4096'ya kadar değişen Görüntü Örnekleme Noktaları
• Kapsamlı yüzey kapsamı sağlayan XYZ Üç Eksenli Tam Numune Tarama yöntemi
• Esnek Tarama Aralığı seçenekleri: 100 μm*100 μm*10 μm ve 30 μm*30 μm*5 μm
• Çeşitli araştırma ve endüstriyel uygulamalar için ideal Tarama Prob Mikroskobu
• Çok işlevliliğe ve hassas tarama yeteneklerine sahip Atomik Kuvvet Mikroskobu satın alın

Teknik Parametreler:

Uygulamalar:

Truth Instruments AtomExplorer Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), çok çeşitli bilimsel araştırma uygulamaları için tasarlanmış çok yönlü ve güvenilir bir araçtır. Çin'den gelen bu gelişmiş cihaz, nano ölçekli topografi görüntülemede olağanüstü performans sunarak, çalışmalarında yüksek hassasiyet ve doğruluk gerektiren araştırmacılar için ideal bir seçimdir. Fiyatı pazarlık edilebilir ve talep üzerine temin edilebilen AtomExplorer, nano ölçekli analiz yeteneklerini geliştirmeyi amaçlayan kurumlar ve laboratuvarlar için mükemmel bir değer sunar.

AtomExplorer AFM, Tap Modu, Temas Modu, Kaldırma Modu ve Faz Görüntüleme Modu dahil olmak üzere birden fazla çalışma modunu destekleyerek, araştırmacıların tarama yaklaşımlarını belirli numune türlerine ve araştırma gereksinimlerine göre uyarlamalarına olanak tanır. 100 μm*100 μm*10 μm ve 30 μm*30 μm*5 μm'lik tarama aralığı seçenekleri, çeşitli numune boyutlarına ve çözünürlüklere uyum sağlayarak, farklı malzemeler ve yüzeylerde kapsamlı nano ölçekli topografi görüntüleme sağlar. XYZ üç eksenli tam numune tarama yöntemi, analiz sırasında numune konumu üzerinde hassas kontrol sağlayarak daha kapsamlı ve doğru görüntüleme sağlar.

AtomExplorer'ın öne çıkan özelliklerinden biri, zorlu deneysel koşullarda bile tutarlı ve güvenilir ölçümler sağlayan yüksek kararlılıklı AFM tasarımıdır. Uç koruma teknolojisinin bir parçası olarak güvenli iğne yerleştirme modunun dahil edilmesi, çalışma sırasında uç hasarı riskini en aza indirerek probun ömrünü uzatır ve zaman içinde görüntüleme kalitesini korur. Bu, AtomExplorer'ı, cihaz dayanıklılığının çok önemli olduğu uzun süreli ve tekrarlayan bilimsel araştırma görevleri için özellikle uygun hale getirir.

AtomExplorer, malzeme bilimi, yarı iletken denetimi, biyolojik numune analizi ve nanoteknoloji geliştirme gibi çeşitli bilimsel araştırma durumlarında ve senaryolarında yaygın olarak kullanılmaktadır. Araştırmacıların, malzeme davranışlarını, yapısal özelliklerini ve fonksiyonel özelliklerini anlamada çığır açan gelişmeler sağlayarak, nano ölçekte yüzey özelliklerini olağanüstü ayrıntıyla incelemelerini sağlar. İster akademik laboratuvarlarda, ister endüstriyel araştırma merkezlerinde veya kalite kontrol ortamlarında olsun, bu yüksek kararlılıklı AFM, hassas nano ölçekli topografi görüntüleme talep eden kritik araştırmaları destekler.

Özetle, Truth Instruments AtomExplorer Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu, bilimsel araştırmalar için AFM için güçlü bir araç olarak öne çıkmaktadır. Gelişmiş tarama yetenekleri, çoklu çalışma modları, yüksek kararlılıklı tasarımı ve etkili uç koruma teknolojisi, onu çeşitli bilimsel alanlarda nano ölçekli topografi görüntüleme için güvenilir bir seçim haline getirir. Ayrıntılı fiyatlandırma bilgileri ve özelleştirilmiş çözümler için, ilgilenen kullanıcıların doğrudan Truth Instruments ile iletişime geçmeleri önerilir.