logo
Found

29

products for "

scanning probe microscope

"
  • Ruisarme Z-as voor hoogprecisie karakterisering van nanomaterialen

    Productbeschrijving:De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd, all-in-one AFM-systeem dat is ontworpen om ongeëvenaarde precisie en veelzijdigheid te bieden voor nano-schaalbeeldvorming en -metingen.Met behulp van een drieassige XYZ-scanmethodeDeze AFM maakt een uitgebreide en nauwkeurige ...
  • Contact-/tapmodus voor nanoschaalanalyse van subnanometermaterialen

    Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerde Scanning Force Microscope die is ontworpen om uitzonderlijke beeldvorming en meetmogelijkheden op de nanoschaal te bieden. Dit AFM-model is ontworpen voor precisie en veelzijdigheid en ondersteunt een breed scala aan ...
  • MFM/KPFM Modi Voor Hoge-Precisie Nanoschaal Materiaal Karakterisering

    Productbeschrijving:De Atomic Force Microscope (AFM) is een state-of-the-art scanning force microscope die is ontworpen om ongeëvenaarde beeldvorming en meetmogelijkheden op nanoschaal te bieden.Met zijn geavanceerde XYZ drie-assige full-sample scansysteem, maakt deze AFM een nauwkeurig en volledig ...
  • AFM voor nauwkeurige oppervlaktanalyse en beeldvorming op nanometerschaal in wetenschappelijk onderzoek en industriële toepassingen

    Multifunctionele atoomKrachtmicroscoop - AtomEdge Pro Inleiding van het product De multifunctionele atoomKrachtmicroscoop AtomEdge Pro kan driedimensionale scanning op materialen, elektronische apparaten, biologische monsters, enz. uitvoeren.Het beschikt over meerdere werkwijzen zoals contactHet ...
  • Betrouwbare oppervlaktextuuranalyse: AtomExplorer Basic-type AFM

    Productbeschrijving:De Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is een geavanceerd laboratorium-AFM-apparatuur dat is ontworpen om een nauwkeurige en betrouwbare oppervlaktekarakterisering van een breed scala aan materialen te leveren.Gemaakt met AFM-technologie met een hoge stabiliteit, biedt dit ...
  • Master Nanoscale Oppervlaktekarakterisering met AtomExplorer AFM

    Productbeschrijving:De Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is een zeer veelzijdige en betrouwbare Scanning Probe Microscope die speciaal is ontworpen voor laboratoria die geavanceerde, maar toch gebruiksvriendelijke AFM-apparatuur zoeken.Dit model biedt uitgebreide mogelijkheden voor het ...
  • AFM met hoge stabiliteit met MFM/EFM-modus voor wetenschappelijk onderzoek

    Productbeschrijving:The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsDit AFM-model combineert precisie, flexibiliteit en gebruiksgemak en ...
  • AtomExplorer: Precision Topography Tool voor chips en nanomaterialen

    Productbeschrijving:De Atomic Force Microscope (AFM) van het basistype is een veelzijdig en hoogwaardig instrument dat is ontworpen om te voldoen aan de diverse behoeften van wetenschappelijk onderzoek en industriële R&D-toepassingen. Deze multifunctionele AFM is uitgerust met geavanceerde meetmodi, ...
  • Veelzijdige AFM-oplossingen voor onderwijs en industrieel onderzoek

    Productbeschrijving: De Atomic Force Microscope (AFM) van het basistype is een geavanceerd stuk laboratorium AFM-apparatuur dat is ontworpen om te voldoen aan de strenge eisen van wetenschappelijk onderzoek. Deze AFM-microscoop combineert precisie, veelzijdigheid en betrouwbaarheid, waardoor het een ...