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products for "scanning probe microscope
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Eixo Z de baixo ruído para a caracterização de materiais em nanoescala de alta precisão
Descrição do produto:O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um sistema avançado de AFM tudo-em-um projetado para fornecer precisão e versatilidade incomparáveis para imagens e medições em nanoescala.Utilizando um método de varredura de amostra completa de três eixos XYZ, este AFM permite uma análise ... -
Modos de Contato/Toque para Análise em Escala Sub-nanométrica de Materiais
Descrição do produto:O Microscópio de Força Atômica (AFM) é um microscópio de Força de Análise avançado projetado para fornecer capacidades excepcionais de imagem e medição em nanoescala.Projetado para precisão e versatilidade, este modelo AFM suporta uma ampla gama de taxas de digitalização de 0,1 ... -
Modos MFM/KPFM para caracterização de materiais em nanoescala de alta precisão
Descrição do produto:O microscópio de força atômica (AFM) é um microscópio de força de varredura de última geração projetado para fornecer capacidades de imagem e medição incomparáveis na nanoescala.Com o seu avançado método de varredura de amostra completa XYZ de três eixos, este AFM permite um ... -
AFM para análise de superfície precisa e imagem em escala nanométrica em pesquisa científica e aplicações industriais
Microscópio de Força Atómica Multifuncional - AtomEdge Pro Introdução ao produto O microscópio de força atômica multifuncional AtomEdge Pro pode realizar imagens de varredura tridimensional em materiais, dispositivos eletrônicos, amostras biológicas, etc.Dispõe de vários modos de trabalho, tais como ... -
Análise confiável da textura da superfície: AFM de tipo básico do AtomExplorer
Descrição do produto:O microscópio de força atômica de tipo básico (AFM) é uma peça avançada de equipamento de AFM de laboratório projetado para fornecer caracterização de superfície precisa e confiável em uma ampla gama de materiais.Projetado com tecnologia AFM de alta estabilidade, este instrument... -
Domine a Caracterização de Superfícies em Nanoescala com o AFM AtomExplorer
Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um Microscópio de Sonda de Varredura altamente versátil e confiável, projetado especificamente para laboratórios que buscam equipamentos AFM avançados, porém fáceis de usar. Este modelo oferece recursos abrangentes para a ... -
AFM de alta estabilidade com modos MFM/EFM para pesquisa científica
Descrição do produto:The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsCombinando precisão, flexibilidade e facilidade de utilização, este ... -
AtomExplorer: ferramenta de topografia de precisão para chips e nanomateriais
Descrição do Produto:O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um instrumento versátil e de alto desempenho projetado para atender às diversas necessidades de pesquisa científica e aplicações de P&D industrial. Este AFM multifuncional está equipado com modos de medição avançados, ... -
Soluções versáteis de AFM para educação e investigação industrial
Descrição do Produto: O Microscópio de Força Atômica (AFM) do tipo Básico é um equipamento AFM de laboratório avançado, projetado para atender às exigências rigorosas da pesquisa científica. Este Microscópio AFM combina precisão, versatilidade e confiabilidade, tornando-o a escolha ideal para ...