AFM de alta estabilidade com modos MFM/EFM para pesquisa científica

Descrição do produto:

The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsCombinando precisão, flexibilidade e facilidade de utilização, este modelo AFM atende a investigadores e engenheiros que necessitam de caracterização detalhada da superfície em nanoescala,oferecendo uma solução abrangente para várias aplicações na ciência dos materiais, eletrónica, biologia e muito mais.

Uma das características destacadas deste AFM de tipo Básico são seus múltiplos modos de operação, que incluem Modo Toque, Modo Contato, Modo Elevação e Modo de Imagem de Fase.Estes modos diversos permitem aos utilizadores obter imagens topográficas de alta resolução, bem como informações detalhadas sobre as propriedades da superfície, comportamento mecânico e variações de composição.enquanto o modo de elevação permite medições sem contactoO modo de imagem de fase fornece contraste adicional com base nas propriedades do material, tornando este sistema altamente adaptável para análise de amostras complexas.

Para garantir a longevidade das delicadas pontas do AFM e manter a precisão da medição, o instrumento incorpora tecnologia avançada de proteção da ponta através do seu modo de inserção segura da agulha.Esta característica inovadora controla cuidadosamente a aproximação da sonda à superfície da amostra, evitando danos na ponta e reduzindo a probabilidade de contaminação da amostra.especialmente durante sessões de medição prolongadas ou repetitivas.

O AFM de tipo básico suporta uma ampla gama de pontos de amostragem de imagem, desde 32*32 até uma resolução excepcionalmente alta de 4096*4096.Esta gama extensa permite tanto digitalizações rápidas com menor resolução como imagens altamente detalhadas para análise aprofundada, proporcionando flexibilidade em função dos requisitos da aplicação, quer se trate de avaliações rápidas da superfície, quer de investigações meticulosas em nanoescala,O instrumento fornece sempre dados precisos e reproduzíveis.

Além da imagem topográfica padrão, este AFM está equipado com capacidades de medição multifuncionais que expandem significativamente sua utilidade.Pode ser configurado para funcionar como um microscópio de força eletrostática (EFM)Os métodos de pesquisa são os seguintes: microscópio de força de sonda de Kelvin (KPFM), microscópio de força piezoelétrica (PFM) e microscópio de força magnética (MFM).piezoelétrico, e propriedades magnéticas na nanoescala, tornando-a uma ferramenta indispensável para projectos de investigação multidisciplinar e desenvolvimento industrial.

A faixa de varredura do AFM de tipo Básico é outro atributo crítico que o torna adequado para uma ampla variedade de amostras e aplicações.100 μm * 100 μm * 10 μm e 30 μm * 30 μm * 5 μmEsta versatilidade permite aos utilizadores estudar tanto áreas de superfície relativamente grandes como regiões menores e mais detalhadas com uma precisão excepcional.A ampla gama de digitalização vertical garante que as amostras com variação topográfica significativa possam ser caracterizadas com precisão sem comprometer a qualidade da imagem.

Projetado com a usabilidade e o desempenho em mente, este microscópio industrial de P&D e equipamento de AFM de laboratório é ideal para pesquisadores que se concentram na análise de nanoestrutura.A sua combinação de modos de funcionamento avançados, opções de medição multifuncionais abrangentes e tecnologia robusta de proteção da ponta tornam-na um instrumento confiável e poderoso para a investigação em nanoescala de ponta.Se a aplicação envolve a caracterização de materiais, inspecção de semicondutores, estudos biomoleculares, ou qualquer outra investigação focada em nano,O Microscópio de Força Atómica de tipo básico fornece as ferramentas necessárias para obter resultados perspicazes e de alta qualidade.

Características:

• Nome do produto: Microscópio de força atómica de tipo básico
• AFM de alta estabilidade para análise de nanoestrutura precisa
• Medições multifuncionais, incluindo o microscópio de força eletrostática (EFM), o microscópio de sonda de escaneamento Kelvin (KPFM), o microscópio de força piezoelétrica (PFM) e o microscópio de força magnética (MFM)
• Modo de funcionamento: Modo toque, Modo contato, Modo elevador e Modo de imagem de fase
• XYZ Método de varredura de amostras completas em três eixos para análise abrangente da superfície
• Pontos de amostragem de imagem variam de 32*32 até 4096*4096 para imagens de alta resolução
• Suporta amostras com dimensões até Φ 25 mm
• Microscópio industrial ideal de I&D para pesquisa avançada de materiais e superfícies

Parâmetros técnicos:

Aplicações:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and powerful tool designed for advanced nano structure analysis across various scientific and industrial fieldsEste instrumento de última geração, originário da China, oferece uma vasta gama de medidas multifuncionais, incluindo a Microscopia de Força Electrostática (EFM), a Microscopia de Sondagem de Kelvin (KPFM),Microscopia de Força Piezoelétrica (PFM) e Microscopia de Força Magnética (MFM), tornando-a ideal para caracterização abrangente da superfície em nanoescala.

O AFM AtomExplorer é perfeitamente adequado para aplicações que requerem imagens topográficas precisas em nanoescala.As suas opções de gama de digitalização de 100 μm * 100 μm * 10 μm e 30 μm * 30 μm * 5 μm permitem o mapeamento detalhado da superfície de diversos materiais e amostrasCom pontos de amostragem de imagem que variam de 32*32 a 4096*4096, os utilizadores podem obter imagens de alta resolução essenciais para estudos morfológicos pormenorizados e análises quantitativas.

Este produto se destaca em ambientes de pesquisa onde a análise da nanoestrutura é crítica.fornecer flexibilidade para se adaptar a diferentes tipos de amostras e requisitos de mediçãoA inovadora tecnologia de protecção da ponta, com um modo de inserção segura da agulha, garante a longevidade e segurança da sonda AFM, reduzindo o tempo de inatividade e os custos de manutenção.

A funcionalidade de Microscopia de Força Magnética (MFM) torna o AtomExplorer uma excelente escolha para investigar propriedades magnéticas em nanoescala, o que é indispensável na ciência dos materiais,Pesquisa de armazenamento de dadosAlém disso, a capacidade do AFM para realizar medições de força piezoelétrica e eletrostática amplia sua usabilidade para campos como pesquisa de semicondutores,Materiais de colheita de energia, e desenvolvimento da nanotecnologia.

Indústrias como a electrónica, a biotecnologia, a ciência dos materiais,A tecnologia de nanotecnologia e de engenharia de superfície beneficiam grandemente das capacidades de medição multifuncional e de imagem em nanoescalaSeja para investigação académica, controlo de qualidade ou desenvolvimento de produtos, este modelo AFM oferece um desempenho e uma adaptabilidade fiáveis.

O preço do Truth Instruments AtomExplorer é negociável;Os clientes interessados são incentivados a contactar diretamente o fabricante para obter um orçamento pormenorizado adaptado às suas necessidades específicas de aplicação.Isto garante que os utilizadores recebam a configuração e o apoio ideais para os seus projectos únicos de análise em nanoescala.