Hochstabile AFM mit MFM/EFM-Modi für die wissenschaftliche Forschung

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) vom Basistyp ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Instrument, das speziell für die fortschrittliche Nanostrukturanalyse in industriellen Forschungs- und Entwicklungsumgebungen sowie in Laboren entwickelt wurde. Dieses AFM-Modell kombiniert Präzision, Flexibilität und Benutzerfreundlichkeit und richtet sich an Forscher und Ingenieure, die eine detaillierte Oberflächencharakterisierung im Nanobereich benötigen. Es bietet eine umfassende Lösung für verschiedene Anwendungen in der Materialwissenschaft, Elektronik, Biologie und mehr.

Eines der herausragenden Merkmale dieses AFM vom Basistyp sind seine vielfältigen Betriebsarten, zu denen der Tap-Modus, der Kontaktmodus, der Lift-Modus und der Phasenbildgebungsmodus gehören. Diese verschiedenen Modi ermöglichen es den Benutzern, hochauflösende topografische Bilder sowie detaillierte Informationen über Oberflächeneigenschaften, mechanisches Verhalten und Zusammensetzungsvariationen zu erhalten. Der Tap-Modus und der Kontaktmodus sind ideal für die Erfassung der Oberflächenmorphologie mit minimaler Probenbeschädigung, während der Lift-Modus nicht-kontaktierende Messungen ermöglicht und potenzielle Artefakte reduziert. Der Phasenbildgebungsmodus bietet zusätzlichen Kontrast basierend auf Materialeigenschaften, wodurch dieses System hochgradig anpassungsfähig für die Analyse komplexer Proben ist.

Um die Langlebigkeit der empfindlichen AFM-Spitzen zu gewährleisten und die Messgenauigkeit aufrechtzuerhalten, integriert das Instrument eine fortschrittliche Spitzenschutztechnologie durch seinen Safe Needle Insertion Mode. Diese innovative Funktion steuert sorgfältig die Annäherung der Sonde an die Probenoberfläche, verhindert Spitzenschäden und reduziert die Wahrscheinlichkeit einer Probenkontamination. Dadurch profitieren die Benutzer von erhöhter Zuverlässigkeit und reduzierten Betriebskosten, insbesondere bei längeren oder wiederholten Messsitzungen.

Das AFM vom Basistyp unterstützt eine breite Palette von Bildabtastpunkten, von nur 32*32 bis zu einer außergewöhnlich hohen Auflösung von 4096*4096. Dieser große Bereich ermöglicht sowohl schnelle Scans mit geringerer Auflösung als auch hochdetaillierte Bildgebung für eine eingehende Analyse und bietet Flexibilität je nach den Anwendungsanforderungen. Ob bei der Durchführung schneller Oberflächenbewertungen oder bei der Durchführung sorgfältiger Untersuchungen im Nanobereich, das Instrument liefert jedes Mal präzise und reproduzierbare Daten.

Zusätzlich zur standardmäßigen topografischen Bildgebung ist dieses AFM mit multifunktionalen Messfunktionen ausgestattet, die seinen Nutzen erheblich erweitern. Es kann so konfiguriert werden, dass es als Elektrostatikkraftmikroskop (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Kraftmikroskop (KPFM), piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM) und Magnetkraftmikroskop (MFM) arbeitet. Diese speziellen Modi ermöglichen es Forschern, elektrische, piezoelektrische und magnetische Eigenschaften im Nanobereich zu untersuchen, was es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für multidisziplinäre Forschungs- und industrielle Entwicklungsprojekte macht.

Der Scanbereich des AFM vom Basistyp ist ein weiteres wichtiges Attribut, das es für eine Vielzahl von Proben und Anwendungen geeignet macht. Es bietet zwei wählbare Scanbereiche: 100 µm * 100 µm * 10 µm und 30 µm * 30 µm * 5 µm. Diese Vielseitigkeit ermöglicht es den Benutzern, sowohl relativ große Oberflächenbereiche als auch kleinere, detailliertere Bereiche mit außergewöhnlicher Präzision zu untersuchen. Der großzügige vertikale Scanbereich stellt sicher, dass Proben mit erheblichen topografischen Variationen genau charakterisiert werden können, ohne die Bildqualität zu beeinträchtigen.

Dieses für Benutzerfreundlichkeit und Leistung konzipierte Mikroskop für Forschung und Entwicklung in der Industrie und Labor-AFM-Gerät ist ideal für Forscher, die sich auf die Nanostrukturanalyse konzentrieren. Seine Kombination aus fortschrittlichen Betriebsarten, umfassenden multifunktionalen Messoptionen und robuster Spitzenschutztechnologie macht es zu einem zuverlässigen und leistungsstarken Instrument für modernste Forschung im Nanobereich. Unabhängig davon, ob die Anwendung die Materialcharakterisierung, die Halbleiterinspektion, biomolekulare Studien oder eine andere nanobezogene Untersuchung umfasst, bietet das Rasterkraftmikroskop vom Basistyp die notwendigen Werkzeuge, um aufschlussreiche und qualitativ hochwertige Ergebnisse zu erzielen.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop vom Basistyp
• Hochstabiles AFM für präzise Nanostrukturanalyse
• Multifunktionale Messungen einschließlich Elektrostatikkraftmikroskop (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Mikroskop (KPFM), piezoelektrisches Kraftmikroskop (PFM) und Magnetkraftmikroskop (MFM)
• Betriebsarten: Tap-Modus, Kontaktmodus, Lift-Modus und Phasenbildgebungsmodus
• XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Scannen-Methode für umfassende Oberflächenanalyse
• Bildabtastpunkte reichen von 32*32 bis zu 4096*4096 für hochauflösende Bildgebung
• Unterstützt Proben mit einer Größe von bis zu Φ 25 mm
• Ideales Mikroskop für Forschung und Entwicklung in der Industrie für fortschrittliche Material- und Oberflächenforschung

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomExplorer Rasterkraftmikroskop (AFM) vom Basistyp ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Werkzeug, das für die fortschrittliche Nanostrukturanalyse in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Bereichen entwickelt wurde. Dieses hochmoderne Instrument aus China bietet eine breite Palette multifunktionaler Messungen, darunter Elektrostatikkraftmikroskopie (EFM), Raster-Kelvin-Sonden-Mikroskopie (KPFM), piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM), wodurch es sich ideal für die umfassende Oberflächencharakterisierung im Nanobereich eignet.

Das AtomExplorer AFM eignet sich perfekt für Anwendungen, die eine präzise Topografie-Bildgebung im Nanobereich erfordern. Seine Scanbereichsoptionen von 100 µm * 100 µm * 10 µm und 30 µm * 30 µm * 5 µm ermöglichen eine detaillierte Oberflächenkartierung verschiedener Materialien und Proben. Mit Bildabtastpunkten von 32*32 bis zu 4096*4096 können Benutzer hochauflösende Bilder erhalten, die für detaillierte morphologische Studien und quantitative Analysen unerlässlich sind.

Dieses Produkt zeichnet sich in Forschungsumgebungen aus, in denen die Nanostrukturanalyse von entscheidender Bedeutung ist. Es unterstützt mehrere Betriebsarten wie Tap-Modus, Kontaktmodus, Lift-Modus und Phasenbildgebungsmodus und bietet Flexibilität, um sich an verschiedene Probentypen und Messanforderungen anzupassen. Die innovative Spitzenschutztechnologie mit einem Safe Needle Insertion Mode gewährleistet die Langlebigkeit und Sicherheit der AFM-Sonde und reduziert Ausfallzeiten und Wartungskosten.

Die Magnetkraftmikroskopie (MFM)-Funktionalität macht den AtomExplorer zu einer ausgezeichneten Wahl für die Untersuchung magnetischer Eigenschaften im Nanobereich, was in der Materialwissenschaft, der Datenspeicherforschung und der Entwicklung magnetischer Geräte unerlässlich ist. Darüber hinaus erweitert die Fähigkeit des AFM, piezoelektrische und elektrostatische Kraftmessungen durchzuführen, seine Verwendbarkeit auf Bereiche wie Halbleiterforschung, Energieernte-Materialien und die Entwicklung von Nanotechnologie.

Branchen wie Elektronik, Biotechnologie, Materialwissenschaften und Oberflächentechnik profitieren stark von der präzisen Bildgebung im Nanobereich und den multifunktionalen Messmöglichkeiten des AtomExplorer. Ob für die akademische Forschung, die Qualitätskontrolle oder die Produktentwicklung, dieses AFM-Modell bietet zuverlässige Leistung und Anpassungsfähigkeit.

Die Preise für das Truth Instruments AtomExplorer sind verhandelbar; interessierte Kunden werden gebeten, sich direkt an den Hersteller zu wenden, um ein detailliertes Angebot zu erhalten, das auf ihre spezifischen Anwendungsbedürfnisse zugeschnitten ist. Dies stellt sicher, dass die Benutzer die optimale Konfiguration und Unterstützung für ihre einzigartigen Nanobereichsanalyseprojekte erhalten.