AFM à haute stabilité avec modes MFM/EFM pour la recherche scientifique

Description du produit:

The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsCombinant précision, souplesse et facilité d'utilisation, ce modèle AFM s'adresse aux chercheurs et ingénieurs qui ont besoin d'une caractérisation détaillée de la surface à l'échelle nanométrique,offrant une solution complète pour diverses applications en science des matériaux, électronique, biologie, et plus encore.

L'une des caractéristiques les plus remarquables de cet AFM de type Basic est ses multiples modes de fonctionnement, qui comprennent le mode Tap, le mode Contact, le mode Lift et le mode Phase Imaging.Ces différents modes permettent aux utilisateurs d'obtenir des images topographiques haute résolution ainsi que des informations détaillées sur les propriétés de la surfaceLe mode Tap et le mode Contact sont idéaux pour capturer la morphologie de la surface avec un minimum de dommages à l'échantillon,tandis que le mode Ascension permet des mesures sans contactLe mode d'imagerie de phase fournit un contraste supplémentaire basé sur les propriétés du matériau, ce qui rend ce système très adaptable à l'analyse d'échantillons complexes.

Pour assurer la longévité des extrémités délicates de l'AFM et maintenir la précision de mesure, l'instrument intègre une technologie de protection de pointe avancée grâce à son mode d'insertion d'aiguille sécuritaire.Cette caractéristique innovante gère soigneusement l'approche de la sonde à la surface de l'échantillon, empêchant les dommages aux extrémités et réduisant les risques de contamination des échantillons.en particulier lors de séances de mesure prolongées ou répétitives.

L'AFM de type Basic prend en charge un large éventail de points d'échantillonnage d'image, allant de 32*32 à une résolution exceptionnellement élevée de 4096*4096.Cette large gamme permet à la fois des analyses rapides à résolution inférieure et des images très détaillées pour une analyse approfondie, offrant une flexibilité en fonction des exigences de l'application, qu'il s'agisse d'effectuer des évaluations rapides des surfaces ou de mener des investigations minutieuses à l'échelle nanométrique,l'instrument fournit des données précises et reproductibles à chaque fois.

En plus de l'imagerie topographique standard, cet AFM est équipé de capacités de mesure multifonctionnelles qui élargissent considérablement son utilité.Il peut être configuré pour fonctionner comme un microscope à force électrostatique (EFM)Ces modes spécialisés permettent aux chercheurs de sonder les forces électriques, électromagnétiques et électromagnétiques, ainsi que les forces électromagnétiques.Piézoélectrique, et les propriétés magnétiques à l'échelle nanométrique, ce qui en fait un outil indispensable pour les projets de recherche multidisciplinaire et de développement industriel.

La plage de balayage de l'AFM de type Basic est un autre attribut essentiel qui le rend adapté à une grande variété d'échantillons et d'applications.100 μm * 100 μm * 10 μm et 30 μm * 30 μm * 5 μmCette polyvalence permet aux utilisateurs d'étudier à la fois des surfaces relativement grandes et des régions plus petites et plus détaillées avec une précision exceptionnelle.La large plage de numérisation verticale permet de caractériser avec précision les échantillons présentant des variations topographiques significatives sans compromettre la qualité de l'image.

Conçu en tenant compte à la fois de la facilité d'utilisation et des performances, ce microscope industriel de R&D et de l'équipement AFM de laboratoire est idéal pour les chercheurs spécialisés dans l'analyse des nanostructures.Sa combinaison de modes de fonctionnement avancés, des options de mesure multifonctionnelles complètes et une technologie robuste de protection de la pointe en font un instrument fiable et puissant pour la recherche à l'échelle nanométrique de pointe.Si l'application implique la caractérisation des matériaux, l'inspection des semi-conducteurs, les études biomoléculaires ou toute autre enquête axée sur les nanomatériaux,le microscope de force atomique de type Basic fournit les outils nécessaires pour obtenir des résultats perspicaces et de haute qualité.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique de type de base
• AFM à haute stabilité pour une analyse précise de la nano-structure
• Mesures multifonctionnelles, y compris le microscope à force électrostatique (EFM), le microscope à sonde à scanner Kelvin (KPFM), le microscope à force piézoélectrique (PFM) et le microscope à force magnétique (MFM)
• Mode de fonctionnement: mode de toucher, mode de contact, mode de levage et mode d'imagerie de phase
• XYZ Méthode de balayage à échantillon complet à trois axes pour une analyse complète de la surface
• Les points d'échantillonnage d'image vont de 32*32 à 4096*4096 pour l'imagerie haute résolution
• Prend en charge des échantillons jusqu'à Φ 25 mm
• Microscope industriel idéal pour la recherche avancée sur les matériaux et les surfaces

Paramètres techniques:

Applications:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and powerful tool designed for advanced nano structure analysis across various scientific and industrial fieldsOriginaire de Chine, cet instrument de pointe offre une large gamme de mesures multifonctionnelles, y compris la microscopie de force électrostatique (EFM), la microscopie de sonde à scanner Kelvin (KPFM),La microscopie par force piézoélectrique (PFM) et la microscopie par force magnétique (MFM) le rendent idéal pour une caractérisation complète de la surface à l'échelle nanométrique.

L'AFM AtomExplorer est parfaitement adapté aux applications nécessitant une imagerie topographique à l'échelle nanométrique.Ses options de portée de balayage de 100 μm * 100 μm * 10 μm et 30 μm * 30 μm * 5 μm permettent une cartographie de surface détaillée de divers matériaux et échantillonsAvec des points d'échantillonnage d'images allant de 32*32 à 4096*4096, les utilisateurs peuvent obtenir des images haute résolution indispensables pour des études morphologiques détaillées et des analyses quantitatives.

Ce produit excelle dans les environnements de recherche où l'analyse des nanostructures est essentielle.offrant une souplesse d'adaptation aux différents types d'échantillons et aux exigences de mesureLa technologie innovante de protection de la pointe, avec un mode d'insertion de l'aiguille en toute sécurité, assure la longévité et la sécurité de la sonde AFM, réduisant les temps d'arrêt et les coûts de maintenance.

La fonctionnalité de microscopie par force magnétique (MFM) fait de l'AtomExplorer un excellent choix pour étudier les propriétés magnétiques à l'échelle nanométrique, ce qui est indispensable en science des matériaux,recherche sur le stockage des donnéesEn outre, la capacité de l'AFM à effectuer des mesures de force piézoélectrique et électrostatique élargit son utilisabilité à des domaines tels que la recherche sur les semi-conducteurs,matériaux de récolte d'énergie, et le développement des nanotechnologies.

Des industries telles que l'électronique, la biotechnologie, la science des matériaux,L'AtomExplorer est un appareil qui permet aux ingénieurs de l'ingénierie des surfaces de profiter grandement de ses capacités d'imagerie à l'échelle nanométrique et de mesure multifonctionnelle.Que ce soit pour la recherche académique, le contrôle de la qualité ou le développement de produits, ce modèle AFM offre des performances fiables et une adaptabilité.

Le prix de l'AtomExplorer est négociable.Les clients intéressés sont encouragés à contacter directement le fabricant pour obtenir un devis détaillé adapté à leurs besoins spécifiques en matière d'application.Cela garantit que les utilisateurs reçoivent la configuration et le soutien optimaux pour leurs projets d'analyse à l'échelle nanométrique uniques.