Mikroskop Gaya Atom (AFM) Stabilitas Tinggi dengan Mode MFM/EFM untuk Riset Ilmiah

Deskripsi produk:

The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsMenggabungkan presisi, fleksibilitas, dan kemudahan penggunaan, model AFM ini melayani para peneliti dan insinyur yang membutuhkan karakteristik permukaan rinci pada skala nano,menawarkan solusi komprehensif untuk berbagai aplikasi dalam ilmu material, elektronik, biologi, dan banyak lagi.

Salah satu fitur menonjol dari AFM tipe Basic ini adalah beberapa mode operasinya, yang meliputi Mode Tap, Mode Kontak, Mode Lift, dan Mode Imaging Phase.Modus yang beragam ini memungkinkan pengguna untuk mendapatkan gambar topografi resolusi tinggi serta informasi rinci tentang sifat permukaan, perilaku mekanis, dan variasi komposisi. Tap Mode dan Contact Mode sangat ideal untuk menangkap morfologi permukaan dengan kerusakan sampel minimal,sementara Lift Mode memungkinkan pengukuran tanpa kontakMode Pencitraan Fase memberikan kontras tambahan berdasarkan sifat material, membuat sistem ini sangat dapat disesuaikan untuk analisis sampel yang kompleks.

Untuk memastikan umur panjang ujung AFM yang halus dan menjaga akurasi pengukuran, instrumen ini menggabungkan Teknologi Perlindungan Ujung canggih melalui Safe Needle Insertion Mode.Fitur inovatif ini hati-hati mengelola pendekatan probe ke permukaan sampel, mencegah kerusakan ujung dan mengurangi kemungkinan kontaminasi sampel. Akibatnya, pengguna mendapatkan keuntungan dari peningkatan keandalan dan biaya operasi yang lebih rendah,terutama selama sesi pengukuran yang berkepanjangan atau berulang.

AFM tipe Basic mendukung berbagai titik pengambilan sampel gambar, mulai dari 32*32 hingga resolusi yang sangat tinggi yaitu 4096*4096.Jangkauan yang luas ini memungkinkan untuk pemindaian cepat dengan resolusi yang lebih rendah dan pencitraan yang sangat rinci untuk analisis mendalam, memberikan fleksibilitas tergantung pada kebutuhan aplikasi. Apakah melakukan penilaian permukaan yang cepat atau melakukan penyelidikan skala nano yang teliti,instrumen memberikan data yang tepat dan dapat direproduksi setiap kali.

Selain pencitraan topografi standar, AFM ini dilengkapi dengan kemampuan pengukuran multifungsi yang memperluas utilitasnya secara signifikan.Hal ini dapat dikonfigurasi untuk beroperasi sebagai Elektrostatic Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), dan Magnetic Force Microscope (MFM).piezoelektrik, dan sifat magnetik pada skala nano, menjadikannya alat yang sangat diperlukan untuk penelitian multidisiplin dan proyek pengembangan industri.

Jangkauan pemindaian AFM tipe Basic adalah atribut penting lainnya yang membuatnya cocok untuk berbagai macam sampel dan aplikasi.100 μm * 100 μm * 10 μm dan 30 μm * 30 μm * 5 μmKeanekaragaman ini memungkinkan pengguna untuk mempelajari area permukaan yang relatif besar dan daerah yang lebih kecil dan lebih rinci dengan presisi yang luar biasa.Jangkauan pemindaian vertikal yang luas memastikan bahwa sampel dengan variasi topografi yang signifikan dapat ditandai secara akurat tanpa mengorbankan kualitas gambar.

Dirancang dengan mempertimbangkan kegunaan dan kinerja, mikroskop R&D Industri dan peralatan AFM Laboratorium ini sangat ideal untuk peneliti yang berfokus pada analisis struktur nano.Kombinasi dari mode operasi canggih, pilihan pengukuran multifungsi yang komprehensif, dan teknologi perlindungan ujung yang kuat membuatnya menjadi instrumen yang dapat diandalkan dan kuat untuk penelitian nanoscale mutakhir.Apakah aplikasi melibatkan karakterisasi bahan, inspeksi semikonduktor, studi biomolekuler, atau penyelidikan fokus nano lainnya,Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic menyediakan alat yang diperlukan untuk mencapai hasil yang mendalam dan berkualitas tinggi.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar
• AFM stabilitas tinggi untuk analisis struktur nano yang tepat
• Pengukuran multifungsi termasuk Elektrostatik Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), dan Magnetic Force Microscope (MFM)
• Mode Operasi: Mode Tap, Mode Kontak, Mode Lift, dan Mode Pembuatan Gambar Fase
• XYZ Metode Pemindaian Sampel Penuh Tiga Poros untuk analisis permukaan yang komprehensif
• Titik Sampling Gambar berkisar dari 32*32 hingga 4096*4096 untuk pencitraan resolusi tinggi
• Mendukung sampel dengan ukuran hingga Φ 25 mm
• Mikroskop R&D Industri yang ideal untuk penelitian bahan dan permukaan lanjutan

Parameter teknis:

Aplikasi:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and powerful tool designed for advanced nano structure analysis across various scientific and industrial fieldsBerasal dari Cina, instrumen canggih ini menawarkan berbagai ukuran multifungsi, termasuk Elektrostatik Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM),Piezoelectric Force Microscopy (PFM), dan Magnetic Force Microscopy (MFM), menjadikannya ideal untuk karakterisasi permukaan yang komprehensif pada skala nano.

AtomExplorer AFM sangat cocok untuk aplikasi yang membutuhkan pencitraan topografi nanoscale yang tepat.Pilihan rentang pemindaian 100 μm * 100 μm * 10 μm dan 30 μm * 30 μm * 5 μm memungkinkan pemetaan permukaan rinci dari berbagai bahan dan sampelDengan titik pengambilan sampel gambar mulai dari 32*32 hingga 4096*4096, pengguna dapat mencapai gambar resolusi tinggi yang penting untuk studi morfologi rinci dan analisis kuantitatif.

Produk ini unggul dalam lingkungan penelitian di mana analisis struktur nano sangat penting.memberikan fleksibilitas untuk beradaptasi dengan berbagai jenis sampel dan persyaratan pengukuranTeknologi perlindungan ujung yang inovatif, yang menampilkan Safe Needle Insertion Mode, memastikan umur panjang dan keselamatan probe AFM, mengurangi waktu henti dan biaya pemeliharaan.

Fungsi Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM) membuat AtomExplorer pilihan yang sangat baik untuk menyelidiki sifat magnetik pada skala nanometer, yang sangat diperlukan dalam ilmu material,penelitian penyimpanan dataSelain itu, kemampuan AFM untuk melakukan pengukuran kekuatan piezoelektrik dan elektrostatik memperluas kegunaannya ke bidang seperti penelitian semikonduktor,bahan panen energi, dan pengembangan nanoteknologi.

Industri seperti elektronik, bioteknologi, ilmu material,dan teknik permukaan sangat mendapatkan manfaat dari kemampuan pencitraan nanoscale yang tepat dan kemampuan pengukuran multifungsi AtomExplorerApakah untuk penelitian akademik, kontrol kualitas, atau pengembangan produk, model AFM ini menawarkan kinerja yang andal dan kemampuan beradaptasi.

Harga untuk Instrumen Kebenaran AtomExplorer dapat dinegosiasikan;Pelanggan yang tertarik didorong untuk menghubungi produsen secara langsung untuk penawaran rinci yang disesuaikan dengan kebutuhan aplikasi spesifik merekaHal ini memastikan bahwa pengguna menerima konfigurasi optimal dan dukungan untuk proyek analisis nanoscale unik mereka.