AFM de alta estabilidad con modos MFM/EFM para investigación científica

Descripción del producto:

The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsCombinando precisión, flexibilidad y facilidad de uso, este modelo de AFM atiende a investigadores e ingenieros que requieren una caracterización detallada de la superficie a nanoescala.ofreciendo una solución integral para diversas aplicaciones en ciencia de materiales, electrónica, biología y más.

Una de las características destacadas de este AFM de tipo básico es sus múltiples modos de operación, que incluyen el modo Tap, el modo Contact, el modo Lift y el modo Phase Imaging.Estos diversos modos permiten a los usuarios obtener imágenes topográficas de alta resolución, así como información detallada sobre las propiedades de la superficieEl modo de toque y el modo de contacto son ideales para capturar la morfología de la superficie con un daño mínimo de la muestra,mientras que el modo de elevación permite mediciones sin contactoEl modo de imagen de fase proporciona un contraste adicional basado en las propiedades del material, lo que hace que este sistema sea altamente adaptable para el análisis de muestras complejas.

Para garantizar la longevidad de las delicadas puntas del AFM y mantener la precisión de la medición, el instrumento incorpora tecnología avanzada de protección de puntas a través de su modo de inserción segura de agujas.Esta característica innovadora controla cuidadosamente el acercamiento de la sonda a la superficie de la muestra, evitando daños en las puntas y reduciendo la probabilidad de contaminación de las muestras.especialmente durante sesiones de medición prolongadas o repetitivas.

El AFM de tipo básico admite una amplia gama de puntos de muestreo de imágenes, desde tan bajos como 32 * 32 hasta una resolución excepcionalmente alta de 4096 * 4096.Este amplio rango permite tanto escaneos rápidos con una resolución más baja como imágenes muy detalladas para análisis en profundidad, proporcionando flexibilidad en función de los requisitos de la aplicación, ya sea realizando evaluaciones rápidas de la superficie o realizando investigaciones meticulosas a nanoescala,el instrumento proporciona datos precisos y reproducibles cada vez.

Además de la imagen topográfica estándar, este AFM está equipado con capacidades de medición multifuncionales que amplían significativamente su utilidad.Se puede configurar para funcionar como un microscopio de fuerza electrostática (EFM)El microscopio de fuerza de la sonda de escaneo de Kelvin (KPFM), el microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM) y el microscopio de fuerza magnética (MFM).piezoeléctricos, y propiedades magnéticas a nanoescala, lo que la convierte en una herramienta indispensable para proyectos de investigación y desarrollo industrial multidisciplinar.

El rango de escaneo del AFM de tipo básico es otro atributo crítico que lo hace adecuado para una amplia variedad de muestras y aplicaciones.100 μm * 100 μm * 10 μm y 30 μm * 30 μm * 5 μmEsta versatilidad permite a los usuarios estudiar tanto superficies relativamente grandes como regiones más pequeñas y más detalladas con una precisión excepcional.El amplio rango de escaneo vertical asegura que las muestras con variaciones topográficas significativas puedan caracterizarse con precisión sin comprometer la calidad de la imagen.

Diseñado con la usabilidad y el rendimiento en mente, este microscopio industrial de I + D y equipo de AFM de laboratorio es ideal para investigadores que se centran en el análisis de la estructura nano.Su combinación de modos de funcionamiento avanzados, las opciones de medición multifuncionales integrales y la robusta tecnología de protección de la punta lo convierten en un instrumento confiable y potente para la investigación a nanoescala de vanguardia.Si la aplicación implica la caracterización de los materiales, inspección de semiconductores, estudios biomoleculares o cualquier otra investigación centrada en el nano,el microscopio de fuerza atómica de tipo básico proporciona las herramientas necesarias para lograr resultados perspicaces y de alta calidad.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica de tipo básico
• AFM de alta estabilidad para el análisis preciso de la nanoestructura
• Mediciones multifuncionales que incluyen el microscopio de fuerza electrostática (EFM), el microscopio de sonda de escaneo Kelvin (KPFM), el microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM) y el microscopio de fuerza magnética (MFM)
• Modo de funcionamiento: Modo de toque, Modo de contacto, Modo de elevación y Modo de imagen de fase
• XYZ Método de escaneo de muestras completas en tres ejes para el análisis de superficie completo
• Los puntos de muestreo de imagen van desde 32*32 hasta 4096*4096 para imágenes de alta resolución
• Soporta muestras de tamaño hasta Φ 25 mm
• Microscopio industrial ideal para investigación avanzada de materiales y superficies

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and powerful tool designed for advanced nano structure analysis across various scientific and industrial fieldsEste instrumento de última generación, originario de China, ofrece una amplia gama de medidas multifuncionales, entre las que se incluyen la microscopía de fuerza electrostática (EFM), la microscopía de sonda de escaneo Kelvin (KPFM) y la microscopía de fuerza electrostática (EFM).,Microscopía de fuerza piezoeléctrica (PFM) y Microscopía de fuerza magnética (MFM), lo que lo hace ideal para la caracterización integral de la superficie a nanoescala.

El AFM AtomExplorer es perfectamente adecuado para aplicaciones que requieren imágenes topográficas precisas a nanoescala.Sus opciones de rango de escaneo de 100 μm * 100 μm * 10 μm y 30 μm * 30 μm * 5 μm permiten un mapeo de superficie detallado de diversos materiales y muestrasCon puntos de muestreo de imágenes que van desde 32*32 hasta 4096*4096, los usuarios pueden obtener imágenes de alta resolución esenciales para estudios morfológicos detallados y análisis cuantitativos.

Este producto sobresale en entornos de investigación donde el análisis de la nanoestructura es crítico.proporcionar flexibilidad para adaptarse a diferentes tipos de muestras y requisitos de mediciónLa innovadora tecnología de protección de la punta, con un modo de inserción de aguja segura, garantiza la longevidad y la seguridad de la sonda AFM, reduciendo el tiempo de inactividad y los costos de mantenimiento.

La funcionalidad de microscopía de fuerza magnética (MFM) hace del AtomExplorer una excelente opción para investigar propiedades magnéticas a nanoescala, que es indispensable en la ciencia de materiales,Investigación de almacenamiento de datosAdemás, la capacidad del AFM para realizar mediciones de fuerza piezoeléctrica y electrostática amplía su usabilidad a campos como la investigación de semiconductores,materiales para la obtención de energía, y el desarrollo de la nanotecnología.

Las industrias como la electrónica, la biotecnología, la ciencia de los materiales,La ingeniería de superficies se beneficia mucho de las capacidades de toma de imágenes y medición multifuncionales a nanoescala precisas de AtomExplorer.Ya sea para la investigación académica, el control de calidad o el desarrollo de productos, este modelo AFM ofrece un rendimiento confiable y adaptabilidad.

El precio de los instrumentos de la verdad AtomExplorer es negociable;Se recomienda a los clientes interesados que se comuniquen directamente con el fabricante para obtener un presupuesto detallado adaptado a sus necesidades específicas de aplicación.Esto garantiza que los usuarios reciban la configuración y el apoyo óptimos para sus proyectos únicos de análisis a nanoescala.