Высокостабильный АСМ с режимами МСМ/ЭФМ для научных исследований

Описание продукта:

The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsСочетая в себе точность, гибкость и простоту использования, эта модель AFM предназначена для исследователей и инженеров, которым требуется детальная характеристика поверхности на наномасштабе.предлагает комплексные решения для различных приложений в области материаловедения, электроника, биология и многое другое.

Одной из отличительных особенностей этого базового типа AFM является множество режимов работы, которые включают Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode и Phase Imaging Mode.Эти различные режимы позволяют пользователям получать топографические изображения высокого разрешения, а также подробную информацию о свойствах поверхности, механическое поведение и вариации композиции.в то время как режим подъема позволяет измерения без контактаРежим фазового изображения обеспечивает дополнительный контраст на основе свойств материала, что делает эту систему очень адаптивной для сложного анализа образцов.

Чтобы обеспечить долговечность хрупких наконечников AFM и сохранить точность измерений, прибор включает в себя передовую технологию защиты наконечника через режим безопасного вставления иглы.Эта инновационная функция тщательно управляет подходом зонда к поверхности образца, предотвращая повреждение кончиков и снижая вероятность загрязнения проб. В результате пользователи получают выгоду от повышенной надежности и снижения эксплуатационных затрат,особенно во время длительных или повторяющихся сеансов измерений.

AFM базового типа поддерживает широкий диапазон точек отбора образцов, от 32*32 до исключительно высокого разрешения 4096*4096.Этот широкий диапазон позволяет как быстрое сканирование с более низким разрешением, так и очень детальное изображение для глубокого анализа, обеспечивая гибкость в зависимости от требований к применению.прибор каждый раз дает точные и воспроизводимые данные;.

В дополнение к стандартным топографическим изображениям, эта AFM оснащена многофункциональными возможностями измерений, которые значительно расширяют ее полезность.Он может быть сконфигурирован для работы как электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий микроскоп силового зондирования Кельвина (KPFM), пиезоэлектрический микроскоп силы (PFM) и магнитный микроскоп силы (MFM).пиезоэлектрические, и магнитные свойства на наноуровне, что делает его незаменимым инструментом для междисциплинарных исследовательских и промышленных проектов.

Диапазон сканирования базового типа AFM является еще одним критическим атрибутом, который делает его подходящим для широкого спектра образцов и приложений.100 мкм * 100 мкм * 10 мкм и 30 мкм * 30 мкм * 5 мкмЭта универсальность позволяет пользователям изучать как относительно большие площади поверхности, так и более мелкие, более подробные области с исключительной точностью.Широкий диапазон вертикального сканирования обеспечивает точную характеристику образцов с значительными топографическими изменениями без ущерба для качества изображения.

Разработанный с учетом удобства использования и производительности, этот промышленный микроскоп НИОКР и лабораторное оборудование AFM идеально подходят для исследователей, специализирующихся на анализе наноструктуры.Сочетание передовых режимов работы, всеобъемлющие многофункциональные варианты измерений и надежная технология защиты кончиков делают его надежным и мощным инструментом для передовых исследований в наноразмере.Относится ли заявка к характеристике материалов, проверка полупроводников, биомолекулярные исследования или любое другое исследование, ориентированное на нанотехнологии,Атомный микроскоп базового типа обеспечивает необходимые инструменты для достижения проницательных и качественных результатов.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы базового типа
• Высокая стабильность AFM для точного анализа наноструктуры
• Многофункциональные измерения, включая электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM) и магнитный силовой микроскоп (MFM)
• Режимы работы: режим нажатия, контактный режим, режим подъема и режим фазовой визуализации
• XYZ Метод сканирования полного образца с трехосями для комплексного анализа поверхности
• Точки отбора образцов изображения варьируются от 32*32 до 4096*4096 для изображения с высоким разрешением
• Поддерживает образцы размером до Φ 25 мм
• Идеальный микроскоп промышленного НИОКР для исследования материалов и поверхностей

Технические параметры:

Применение:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and powerful tool designed for advanced nano structure analysis across various scientific and industrial fieldsЭтот современный инструмент, изготовленный в Китае, предлагает широкий спектр многофункциональных измерений, включая электростатическую силовую микроскопию (ЭФМ), сканирующую микроскопию Кельвина (KPFM).,Пиезоэлектрическая микроскопия (PFM) и микроскопия магнитной силы (MFM), что делает ее идеальной для всеобъемлющей характеристики поверхности в наномасштабе.

AtomExplorer AFM идеально подходит для приложений, требующих точных наноразмерных топографических изображений.Его варианты диапазона сканирования 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм и 30 мкм * 30 мкм * 5 мкм позволяют детально отобразить поверхность различных материалов и образцовС точки отбора образцов изображения в диапазоне от 32*32 до 4096*4096 пользователи могут получить изображения высокого разрешения, необходимые для детальных морфологических исследований и количественного анализа.

Этот продукт превосходит все исследования, где анализ наноструктуры имеет решающее значение. Он поддерживает несколько режимов работы, таких как Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode и Phase Imaging Mode,предоставление гибкости для адаптации к различным типам образцов и требованиям измеренийИнновационная технология защиты кончиков с безопасным режимом вставки иглы обеспечивает долговечность и безопасность зонды AFM, сокращая время простоя и затраты на обслуживание.

Функциональность микроскопии магнитных сил (MFM) делает AtomExplorer отличным выбором для исследования магнитных свойств на наноуровне, что является незаменимым в материаловедении,исследования по хранению данныхКроме того, способность AFM к выполнению измерений пьезоэлектрических и электростатических сил расширяет его использование в таких областях, как исследования полупроводников,материалы для сбора энергии, и развитие нанотехнологий.

Промышленность: электроника, биотехнологии, материалы,и поверхностной инженерии в значительной степени выигрывают от точных наноразмерных изображений и многофункциональных измерений AtomExplorer.Независимо от того, для академических исследований, контроля качества или разработки продукта, эта модель AFM предлагает надежную производительность и адаптивность.

Цены на Truth Instruments AtomExplorer подлежат обсуждению;Заинтересованным клиентам рекомендуется напрямую обратиться к производителю за подробной оценкой, адаптированной к их конкретным потребностям приложения.Это гарантирует, что пользователи получают оптимальную конфигурацию и поддержку для своих уникальных проектов анализа на наномасштабе.