AFM ad alta stabilità con modalità MFM/EFM per la ricerca scientifica

Descrizione del prodotto:

The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsCombinando precisione, flessibilità e facilità d'uso, questo modello AFM si rivolge a ricercatori e ingegneri che richiedono una caratterizzazione dettagliata della superficie a nanoscala,offrendo una soluzione completa per varie applicazioni nella scienza dei materiali, elettronica, biologia e altro ancora.

Una delle caratteristiche principali di questo AFM di tipo Basic è la sua molteplicità di modalità operative, che includono Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode e Phase Imaging Mode.Queste diverse modalità consentono agli utenti di ottenere immagini topografiche ad alta risoluzione e informazioni dettagliate sulle proprietà della superficie, comportamento meccanico e variazioni di composizione. Tap Mode e Contact Mode sono ideali per catturare la morfologia superficiale con danni minimi al campione,mentre la modalità Lift consente misure senza contattoLa modalità di imaging in fase fornisce un contrasto aggiuntivo basato sulle proprietà del materiale, rendendo questo sistema altamente adattabile per l'analisi di campioni complessi.

Per garantire la longevità delle delicate punte AFM e mantenere l'accuratezza delle misurazioni, lo strumento incorpora una tecnologia avanzata di protezione delle punte attraverso la modalità di inserimento sicuro dell'ago.Questa caratteristica innovativa gestisce attentamente l'approccio della sonda alla superficie del campione, prevenendo danni alle punte e riducendo la probabilità di contaminazione dei campioni.specialmente durante sessioni di misurazione prolungate o ripetute.

L'AFM di tipo Basic supporta una vasta gamma di punti di campionamento delle immagini, da 32*32 fino ad una risoluzione eccezionalmente elevata di 4096*4096.Questa ampia gamma consente sia scansioni rapide con una risoluzione inferiore che immagini altamente dettagliate per analisi approfondite, offrendo flessibilità a seconda delle esigenze di applicazione, sia che si tratti di eseguire valutazioni rapide delle superfici sia di condurre indagini minuziose su scala nanometrica,lo strumento fornisce dati precisi e riproducibili ogni volta.

Oltre alle immagini topografiche standard, questo AFM è dotato di capacità di misurazione multifunzionale che ne ampliano significativamente l'utilità.Può essere configurato per funzionare come un microscopio di forza elettrostatica (EFM), scanning kelvin probe force microscope (kpfm), piezoelectric force microscope (pfm) e magnetic force microscope (mfm).piezoelettrico, e proprietà magnetiche a scala nanometrica, che lo rendono uno strumento indispensabile per progetti di ricerca multidisciplinare e di sviluppo industriale.

L'intervallo di scansione dell'AFM di tipo Basic è un altro attributo critico che lo rende adatto per una vasta gamma di campioni e applicazioni.100 μm * 100 μm * 10 μm e 30 μm * 30 μm * 5 μmQuesta versatilità consente agli utenti di studiare sia superfici relativamente ampie che regioni più piccole e più dettagliate con una precisione eccezionale.L'ampia gamma di scansione verticale assicura che i campioni con variazioni topografiche significative possano essere caratterizzati con precisione senza compromettere la qualità dell'immagine.

Progettato con in mente sia l'usabilità che le prestazioni, questo microscopio industriale di ricerca e sviluppo e l'attrezzatura AFM di laboratorio sono ideali per i ricercatori che si concentrano sull'analisi delle strutture nanometriche.La sua combinazione di modalità operative avanzate, le opzioni di misurazione multifunzionali complete e la robusta tecnologia di protezione della punta ne fanno uno strumento affidabile e potente per la ricerca su scala nanometrica all'avanguardia.Se l'applicazione prevede la caratterizzazione dei materiali, ispezione dei semiconduttori, studi biomolecolari o qualsiasi altra indagine focalizzata sui nano,il microscopio di forza atomica di tipo base fornisce gli strumenti necessari per ottenere risultati approfonditi e di alta qualità.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio di forza atomica di tipo base
• AFM ad alta stabilità per analisi precise della struttura nanometrica
• Misurazioni multifunzionali, tra cui microscopio elettrostatico (EFM), microscopio a sonda di Kelvin (KPFM), microscopio a forza piezoelettrica (PFM) e microscopio a forza magnetica (MFM)
• Modalità di funzionamento: Modalità di tocco, Modalità di contatto, Modalità di sollevamento e Modalità di imaging di fase
• XYZ Metodo di scansione a campione completo a tre assi per l'analisi completa della superficie
• Punti di campionamento dell'immagine da 32*32 a 4096*4096 per l'imaging ad alta risoluzione
• Supporta campioni fino a Φ 25 mm
• Microscopio ideale per la ricerca e lo sviluppo industriale per la ricerca avanzata sui materiali e sulle superfici

Parametri tecnici:

Applicazioni:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and powerful tool designed for advanced nano structure analysis across various scientific and industrial fieldsOriginario della Cina, questo strumento all'avanguardia offre una vasta gamma di misurazioni multifunzionali, tra cui la microscopia elettrostatica (EFM), la microscopia di sonda di Kelvin (KPFM) e la microscopia a scanner.,Microscopia della forza piezoelettrica (PFM) e Microscopia della forza magnetica (MFM), rendendola ideale per la caratterizzazione completa della superficie a nanoscala.

L'AtomExplorer AFM è perfettamente adatto per applicazioni che richiedono precise immagini topografiche su scala nanometrica.Le sue opzioni di gamma di scansione di 100 μm * 100 μm * 10 μm e 30 μm * 30 μm * 5 μm consentono la mappatura dettagliata della superficie di materiali e campioni diversiCon punti di campionamento delle immagini che vanno da 32*32 a 4096*4096, gli utenti possono ottenere immagini ad alta risoluzione essenziali per studi morfologici dettagliati e analisi quantitative.

Questo prodotto eccelle negli ambienti di ricerca in cui l'analisi delle nano strutture è fondamentale.fornire flessibilità per adattarsi a diversi tipi di campioni e requisiti di misurazioneL'innovativa tecnologia di protezione della punta, dotata di una modalità di inserimento sicuro dell'ago, garantisce la longevità e la sicurezza della sonda AFM, riducendo i tempi di fermo e i costi di manutenzione.

La funzionalità di microscopia a forza magnetica (MFM) rende l'AtomExplorer una scelta eccellente per studiare le proprietà magnetiche a nanoscala, indispensabile nella scienza dei materiali,ricerca sulla memorizzazione dei datiInoltre, la capacità dell'AFM di eseguire misurazioni di forza piezoelettrica ed elettrostatica amplia la sua utilizzabilità a campi come la ricerca sui semiconduttori,materiali per la raccolta di energia, e lo sviluppo delle nanotecnologie.

Industria elettronica, biotecnologia, scienze dei materiali,L'AtomExplorer® è dotato di un'ampia gamma di strumenti di analisi e di analisi per l'immagine e l'ingegneria delle superfici, che beneficiano notevolmente delle precise capacità di imaging e di misurazione a nanoscala di AtomExplorer®.Sia per la ricerca accademica, il controllo qualità o lo sviluppo di prodotti, questo modello AFM offre prestazioni affidabili e adattabilità.

Il prezzo per gli strumenti AtomExplorer è negoziabile;I clienti interessati sono invitati a contattare direttamente il produttore per un preventivo dettagliato su misura per le loro esigenze specifiche di applicazione.Ciò garantisce che gli utenti ricevano la configurazione e il supporto ottimali per i loro progetti di analisi su scala nanometrica unici.