Υψηλής σταθερότητας AFM με λειτουργίες MFM/EFM για επιστημονική έρευνα

Περιγραφή Προϊόντος:

Το Ατομικό Δυναμικό Μικροσκόπιο (AFM) βασικού τύπου είναι ένα ευέλικτο και υψηλής απόδοσης όργανο σχεδιασμένο ειδικά για προηγμένη ανάλυση νανοδομών τόσο σε βιομηχανικά περιβάλλοντα Ε&Α όσο και σε εργαστηριακές ρυθμίσεις. Συνδυάζοντας την ακρίβεια, την ευελιξία και την ευκολία χρήσης, αυτό το μοντέλο AFM απευθύνεται σε ερευνητές και μηχανικούς που απαιτούν λεπτομερή χαρακτηρισμό επιφανειών στην κλίμακα νανο, προσφέροντας μια ολοκληρωμένη λύση για διάφορες εφαρμογές στην επιστήμη των υλικών, τα ηλεκτρονικά, τη βιολογία και πολλά άλλα.

Ένα από τα ξεχωριστά χαρακτηριστικά αυτού του AFM βασικού τύπου είναι οι πολλαπλοί τρόποι λειτουργίας του, οι οποίοι περιλαμβάνουν τη λειτουργία Tap, τη λειτουργία Contact, τη λειτουργία Lift και τη λειτουργία Phase Imaging. Αυτοί οι διαφορετικοί τρόποι επιτρέπουν στους χρήστες να λαμβάνουν τοπογραφικές εικόνες υψηλής ανάλυσης καθώς και λεπτομερείς πληροφορίες σχετικά με τις ιδιότητες της επιφάνειας, τη μηχανική συμπεριφορά και τις συνθετικές παραλλαγές. Η λειτουργία Tap και η λειτουργία Contact είναι ιδανικές για την καταγραφή της μορφολογίας της επιφάνειας με ελάχιστη ζημιά στο δείγμα, ενώ η λειτουργία Lift επιτρέπει μη επαφικές μετρήσεις, μειώνοντας πιθανά τεχνουργήματα. Η λειτουργία Phase Imaging παρέχει πρόσθετη αντίθεση με βάση τις ιδιότητες του υλικού, καθιστώντας αυτό το σύστημα εξαιρετικά προσαρμόσιμο για ανάλυση σύνθετων δειγμάτων.

Για να διασφαλιστεί η μακροζωία των ευαίσθητων άκρων AFM και να διατηρηθεί η ακρίβεια των μετρήσεων, το όργανο ενσωματώνει προηγμένη τεχνολογία προστασίας άκρων μέσω της λειτουργίας Safe Needle Insertion. Αυτό το καινοτόμο χαρακτηριστικό διαχειρίζεται προσεκτικά την προσέγγιση του καθετήρα στην επιφάνεια του δείγματος, αποτρέποντας τη ζημιά των άκρων και μειώνοντας την πιθανότητα μόλυνσης του δείγματος. Ως αποτέλεσμα, οι χρήστες επωφελούνται από αυξημένη αξιοπιστία και μειωμένο λειτουργικό κόστος, ειδικά κατά τη διάρκεια παρατεταμένων ή επαναλαμβανόμενων περιόδων μέτρησης.

Το AFM βασικού τύπου υποστηρίζει ένα ευρύ φάσμα σημείων δειγματοληψίας εικόνων, από μόλις 32*32 έως εξαιρετικά υψηλή ανάλυση 4096*4096. Αυτό το εκτεταμένο εύρος επιτρέπει τόσο γρήγορες σαρώσεις με χαμηλότερη ανάλυση όσο και εξαιρετικά λεπτομερή απεικόνιση για εις βάθος ανάλυση, παρέχοντας ευελιξία ανάλογα με τις απαιτήσεις της εφαρμογής. Είτε εκτελεί γρήγορες αξιολογήσεις επιφανειών είτε διεξάγει σχολαστικές έρευνες νανοκλίμακας, το όργανο παρέχει ακριβή και αναπαραγώγιμα δεδομένα κάθε φορά.

Εκτός από την τυπική τοπογραφική απεικόνιση, αυτό το AFM είναι εξοπλισμένο με πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης που επεκτείνουν σημαντικά τη χρησιμότητά του. Μπορεί να διαμορφωθεί ώστε να λειτουργεί ως Μικροσκόπιο Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), Μικροσκόπιο Δύναμης Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), Μικροσκόπιο Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM) και Μικροσκόπιο Μαγνητικής Δύναμης (MFM). Αυτοί οι εξειδικευμένοι τρόποι επιτρέπουν στους ερευνητές να διερευνήσουν ηλεκτρικές, πιεζοηλεκτρικές και μαγνητικές ιδιότητες στην κλίμακα νανο, καθιστώντας το ένα απαραίτητο εργαλείο για διεπιστημονική έρευνα και έργα βιομηχανικής ανάπτυξης.

Το εύρος σάρωσης του AFM βασικού τύπου είναι ένα άλλο κρίσιμο χαρακτηριστικό που το καθιστά κατάλληλο για μια μεγάλη ποικιλία δειγμάτων και εφαρμογών. Προσφέρει δύο επιλέξιμα εύρη σάρωσης: 100 μm * 100 μm * 10 μm και 30 μm * 30 μm * 5 μm. Αυτή η ευελιξία επιτρέπει στους χρήστες να μελετούν τόσο σχετικά μεγάλες επιφάνειες όσο και μικρότερες, πιο λεπτομερείς περιοχές με εξαιρετική ακρίβεια. Το άφθονο κάθετο εύρος σάρωσης διασφαλίζει ότι τα δείγματα με σημαντική τοπογραφική διακύμανση μπορούν να χαρακτηριστούν με ακρίβεια χωρίς συμβιβασμούς στην ποιότητα της εικόνας.

Σχεδιασμένο με γνώμονα τόσο τη χρηστικότητα όσο και την απόδοση, αυτό το μικροσκόπιο Ε&Α και ο εργαστηριακός εξοπλισμός AFM είναι ιδανικό για ερευνητές που επικεντρώνονται στην ανάλυση νανοδομών. Ο συνδυασμός προηγμένων τρόπων λειτουργίας, ολοκληρωμένων πολυλειτουργικών επιλογών μέτρησης και ισχυρής τεχνολογίας προστασίας άκρων το καθιστούν ένα αξιόπιστο και ισχυρό όργανο για έρευνα αιχμής νανοκλίμακας. Είτε η εφαρμογή περιλαμβάνει χαρακτηρισμό υλικών, επιθεώρηση ημιαγωγών, μελέτες βιομορίων ή οποιαδήποτε άλλη έρευνα με επίκεντρο το νανο, το Ατομικό Δυναμικό Μικροσκόπιο βασικού τύπου παρέχει τα απαραίτητα εργαλεία για την επίτευξη διορατικών και υψηλής ποιότητας αποτελεσμάτων.

Χαρακτηριστικά:

• Όνομα προϊόντος: Ατομικό Δυναμικό Μικροσκόπιο βασικού τύπου
• AFM υψηλής σταθερότητας για ακριβή ανάλυση νανοδομών
• Πολυλειτουργικές μετρήσεις, συμπεριλαμβανομένου του Μικροσκοπίου Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), του Μικροσκοπίου Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), του Μικροσκοπίου Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM) και του Μικροσκοπίου Μαγνητικής Δύναμης (MFM)
• Τρόποι λειτουργίας: Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode και Phase Imaging Mode
• Μέθοδος σάρωσης XYZ τριών αξόνων πλήρους δείγματος για ολοκληρωμένη ανάλυση επιφανειών
• Τα σημεία δειγματοληψίας εικόνων κυμαίνονται από 32*32 έως 4096*4096 για απεικόνιση υψηλής ανάλυσης
• Υποστηρίζει δείγματα μεγέθους έως Φ 25 mm
• Ιδανικό μικροσκόπιο Ε&Α για προηγμένη έρευνα υλικών και επιφανειών

Τεχνικές παράμετροι:

Εφαρμογές:

Το Ατομικό Δυναμικό Μικροσκόπιο (AFM) βασικού τύπου Truth Instruments AtomExplorer είναι ένα ευέλικτο και ισχυρό εργαλείο σχεδιασμένο για προηγμένη ανάλυση νανοδομών σε διάφορους επιστημονικούς και βιομηχανικούς τομείς. Προερχόμενο από την Κίνα, αυτό το υπερσύγχρονο όργανο προσφέρει ένα ευρύ φάσμα πολυλειτουργικών μετρήσεων, συμπεριλαμβανομένης της Μικροσκοπίας Ηλεκτροστατικής Δύναμης (EFM), της Μικροσκοπίας Σάρωσης Kelvin Probe (KPFM), της Μικροσκοπίας Πιεζοηλεκτρικής Δύναμης (PFM) και της Μικροσκοπίας Μαγνητικής Δύναμης (MFM), καθιστώντας το ιδανικό για ολοκληρωμένο χαρακτηρισμό επιφανειών στην κλίμακα νανο.

Το AtomExplorer AFM είναι ιδανικό για εφαρμογές που απαιτούν ακριβή απεικόνιση τοπογραφίας νανοκλίμακας. Οι επιλογές εύρους σάρωσης 100 μm * 100 μm * 10 μm και 30 μm * 30 μm * 5 μm επιτρέπουν τη λεπτομερή χαρτογράφηση επιφανειών διαφόρων υλικών και δειγμάτων. Με σημεία δειγματοληψίας εικόνων που κυμαίνονται από 32*32 έως 4096*4096, οι χρήστες μπορούν να επιτύχουν εικόνες υψηλής ανάλυσης που είναι απαραίτητες για λεπτομερείς μορφολογικές μελέτες και ποσοτική ανάλυση.

Αυτό το προϊόν διαπρέπει σε ερευνητικά περιβάλλοντα όπου η ανάλυση νανοδομών είναι κρίσιμη. Υποστηρίζει πολλαπλούς τρόπους λειτουργίας, όπως Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode και Phase Imaging Mode, παρέχοντας ευελιξία για προσαρμογή σε διαφορετικούς τύπους δειγμάτων και απαιτήσεις μέτρησης. Η καινοτόμος τεχνολογία προστασίας άκρων, που διαθέτει μια λειτουργία ασφαλούς εισαγωγής βελόνας, εξασφαλίζει τη μακροζωία και την ασφάλεια του καθετήρα AFM, μειώνοντας τον χρόνο διακοπής λειτουργίας και το κόστος συντήρησης.

Η λειτουργικότητα της Μικροσκοπίας Μαγνητικής Δύναμης (MFM) καθιστά το AtomExplorer μια εξαιρετική επιλογή για τη διερεύνηση μαγνητικών ιδιοτήτων στην κλίμακα νανο, η οποία είναι απαραίτητη στην επιστήμη των υλικών, την έρευνα αποθήκευσης δεδομένων και την ανάπτυξη μαγνητικών συσκευών. Επιπλέον, η ικανότητα του AFM να εκτελεί πιεζοηλεκτρικές και ηλεκτροστατικές μετρήσεις δύναμης επεκτείνει τη χρησιμότητά του σε τομείς όπως η έρευνα ημιαγωγών, τα υλικά συλλογής ενέργειας και η ανάπτυξη νανοτεχνολογίας.

Βιομηχανίες όπως τα ηλεκτρονικά, η βιοτεχνολογία, η επιστήμη των υλικών και η μηχανική επιφανειών επωφελούνται σε μεγάλο βαθμό από την ακριβή απεικόνιση νανοκλίμακας και τις πολυλειτουργικές δυνατότητες μέτρησης του AtomExplorer. Είτε για ακαδημαϊκή έρευνα, ποιοτικό έλεγχο ή ανάπτυξη προϊόντων, αυτό το μοντέλο AFM προσφέρει αξιόπιστη απόδοση και προσαρμοστικότητα.

Η τιμολόγηση για το Truth Instruments AtomExplorer είναι διαπραγματεύσιμη. Οι ενδιαφερόμενοι πελάτες ενθαρρύνονται να επικοινωνήσουν απευθείας με τον κατασκευαστή για μια λεπτομερή προσφορά προσαρμοσμένη στις συγκεκριμένες ανάγκες της εφαρμογής τους. Αυτό διασφαλίζει ότι οι χρήστες λαμβάνουν τη βέλτιστη διαμόρφωση και υποστήριξη για τα μοναδικά τους έργα ανάλυσης νανοκλίμακας.