AFM با ثبات بالا با حالت های MFM / EFM برای تحقیقات علمی

توضیحات محصول:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه، یک ابزار همه کاره و با عملکرد بالا است که به طور خاص برای تجزیه و تحلیل پیشرفته ساختار نانو در محیط های تحقیق و توسعه صنعتی و تنظیمات آزمایشگاهی طراحی شده است. این مدل AFM با ترکیب دقت، انعطاف پذیری و سهولت استفاده، به محققان و مهندسانی که به مشخصه سازی دقیق سطح در مقیاس نانو نیاز دارند، پاسخ می دهد و یک راه حل جامع برای کاربردهای مختلف در علوم مواد، الکترونیک، زیست شناسی و موارد دیگر ارائه می دهد.

یکی از ویژگی های برجسته این AFM از نوع پایه، حالت های عملیاتی متعدد آن است که شامل حالت ضربه ای، حالت تماس، حالت بالابر و حالت تصویربرداری فاز می شود. این حالت های متنوع کاربران را قادر می سازد تا تصاویر توپوگرافی با وضوح بالا و همچنین اطلاعات دقیقی در مورد خواص سطح، رفتار مکانیکی و تغییرات ترکیبی به دست آورند. حالت ضربه ای و حالت تماس برای گرفتن مورفولوژی سطح با حداقل آسیب به نمونه ایده آل هستند، در حالی که حالت بالابر امکان اندازه گیری های غیر تماسی را فراهم می کند و باعث کاهش مصنوعات احتمالی می شود. حالت تصویربرداری فاز کنتراست اضافی را بر اساس خواص مواد فراهم می کند و این سیستم را برای تجزیه و تحلیل نمونه های پیچیده بسیار سازگار می کند.

برای اطمینان از طول عمر نوک های ظریف AFM و حفظ دقت اندازه گیری، این ابزار فناوری پیشرفته حفاظت از نوک را از طریق حالت درج ایمن سوزن خود ادغام می کند. این ویژگی نوآورانه، رویکرد پروب به سطح نمونه را با دقت مدیریت می کند، از آسیب دیدن نوک جلوگیری می کند و احتمال آلودگی نمونه را کاهش می دهد. در نتیجه، کاربران از قابلیت اطمینان بیشتر و کاهش هزینه های عملیاتی، به ویژه در طول جلسات اندازه گیری طولانی مدت یا مکرر، بهره مند می شوند.

AFM از نوع پایه از طیف گسترده ای از نقاط نمونه برداری تصویر، از 32*32 تا وضوح فوق العاده بالای 4096*4096 پشتیبانی می کند. این محدوده گسترده امکان اسکن سریع با وضوح پایین تر و تصویربرداری بسیار دقیق برای تجزیه و تحلیل عمیق را فراهم می کند و بسته به نیازهای کاربرد، انعطاف پذیری را ارائه می دهد. چه انجام ارزیابی های سریع سطح و چه انجام تحقیقات دقیق در مقیاس نانو، این ابزار داده های دقیق و قابل تکرار را در هر زمان ارائه می دهد.

علاوه بر تصویربرداری توپوگرافی استاندارد، این AFM به قابلیت های اندازه گیری چند منظوره مجهز شده است که کاربرد آن را به طور قابل توجهی گسترش می دهد. می توان آن را به عنوان یک میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ نیروی پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) پیکربندی کرد. این حالت های تخصصی محققان را قادر می سازد تا خواص الکتریکی، پیزوالکتریک و مغناطیسی را در مقیاس نانو بررسی کنند و آن را به ابزاری ضروری برای تحقیقات چند رشته ای و پروژه های توسعه صنعتی تبدیل می کند.

محدوده اسکن AFM از نوع پایه، یکی دیگر از ویژگی های مهم است که آن را برای طیف گسترده ای از نمونه ها و کاربردها مناسب می کند. این دو محدوده اسکن قابل انتخاب را ارائه می دهد: 100 میکرومتر * 100 میکرومتر * 10 میکرومتر و 30 میکرومتر * 30 میکرومتر * 5 میکرومتر. این تطبیق پذیری به کاربران اجازه می دهد تا هم مناطق سطحی نسبتاً بزرگ و هم مناطق کوچکتر و دقیق تر را با دقت استثنایی مطالعه کنند. محدوده اسکن عمودی وسیع تضمین می کند که نمونه هایی با تغییرات توپوگرافی قابل توجه را می توان بدون به خطر انداختن کیفیت تصویر، به طور دقیق مشخص کرد.

این میکروسکوپ تحقیق و توسعه صنعتی و تجهیزات آزمایشگاهی AFM که با در نظر گرفتن قابلیت استفاده و عملکرد طراحی شده است، برای محققانی که بر تجزیه و تحلیل ساختار نانو تمرکز دارند، ایده آل است. ترکیب حالت های عملیاتی پیشرفته، گزینه های اندازه گیری چند منظوره جامع و فناوری حفاظت از نوک قوی، آن را به ابزاری قابل اعتماد و قدرتمند برای تحقیقات پیشرفته در مقیاس نانو تبدیل کرده است. چه کاربرد شامل مشخصه سازی مواد، بازرسی نیمه هادی ها، مطالعات بیومولکولی یا هر تحقیق دیگری با تمرکز بر نانو باشد، میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه ابزارهای لازم را برای دستیابی به نتایج بصیرتی و با کیفیت بالا فراهم می کند.

ویژگی ها:

• نام محصول: میکروسکوپ نیروی اتمی از نوع پایه
• AFM با پایداری بالا برای تجزیه و تحلیل دقیق ساختار نانو
• اندازه گیری های چند منظوره از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM)
• حالت های عملیاتی: حالت ضربه ای، حالت تماس، حالت بالابر و حالت تصویربرداری فاز
• روش اسکن کامل سه محوره XYZ برای تجزیه و تحلیل جامع سطح
• نقاط نمونه برداری تصویر از 32*32 تا 4096*4096 برای تصویربرداری با وضوح بالا
• پشتیبانی از نمونه هایی با اندازه تا 25 میلی متر
• میکروسکوپ تحقیق و توسعه صنعتی ایده آل برای تحقیقات پیشرفته مواد و سطح

پارامترهای فنی:

کاربردها:

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) از نوع پایه AtomExplorer از Truth Instruments، یک ابزار همه کاره و قدرتمند است که برای تجزیه و تحلیل پیشرفته ساختار نانو در زمینه های مختلف علمی و صنعتی طراحی شده است. این ابزار پیشرفته که از چین منشا می گیرد، طیف گسترده ای از اندازه گیری های چند منظوره، از جمله میکروسکوپ نیروی الکترواستاتیک (EFM)، میکروسکوپ پروب کلوین اسکن (KPFM)، میکروسکوپ نیروی پیزوالکتریک (PFM) و میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) را ارائه می دهد و آن را برای مشخصه سازی جامع سطح در مقیاس نانو ایده آل می کند.

AFM AtomExplorer برای کاربردهایی که به تصویربرداری دقیق توپوگرافی در مقیاس نانو نیاز دارند، کاملاً مناسب است. گزینه های محدوده اسکن آن 100 میکرومتر * 100 میکرومتر * 10 میکرومتر و 30 میکرومتر * 30 میکرومتر * 5 میکرومتر امکان نقشه برداری دقیق سطح از مواد و نمونه های مختلف را فراهم می کند. با نقاط نمونه برداری تصویر از 32*32 تا 4096*4096، کاربران می توانند به تصاویر با وضوح بالا دست یابند که برای مطالعات مورفولوژیکی دقیق و تجزیه و تحلیل کمی ضروری است.

این محصول در محیط های تحقیقاتی که تجزیه و تحلیل ساختار نانو در آن حیاتی است، برتری دارد. این حالت های عملیاتی متعددی مانند حالت ضربه ای، حالت تماس، حالت بالابر و حالت تصویربرداری فاز را پشتیبانی می کند و انعطاف پذیری را برای انطباق با انواع نمونه ها و الزامات اندازه گیری مختلف فراهم می کند. فناوری نوآورانه حفاظت از نوک، با داشتن حالت درج ایمن سوزن، طول عمر و ایمنی پروب AFM را تضمین می کند و زمان خرابی و هزینه های نگهداری را کاهش می دهد.

عملکرد میکروسکوپ نیروی مغناطیسی (MFM) AtomExplorer را به انتخابی عالی برای بررسی خواص مغناطیسی در مقیاس نانو تبدیل می کند که در علوم مواد، تحقیقات ذخیره سازی داده ها و توسعه دستگاه های مغناطیسی ضروری است. علاوه بر این، قابلیت AFM برای انجام اندازه گیری های پیزوالکتریک و الکترواستاتیک، قابلیت استفاده آن را به زمینه هایی مانند تحقیقات نیمه هادی ها، مواد برداشت انرژی و توسعه فناوری نانو گسترش می دهد.

صنایعی مانند الکترونیک، بیوتکنولوژی، علوم مواد و مهندسی سطح از تصویربرداری دقیق در مقیاس نانو و قابلیت های اندازه گیری چند منظوره AtomExplorer بسیار بهره مند می شوند. چه برای تحقیقات دانشگاهی، کنترل کیفیت یا توسعه محصول، این مدل AFM عملکرد و سازگاری قابل اعتمادی را ارائه می دهد.

قیمت گذاری برای Truth Instruments AtomExplorer قابل مذاکره است. به مشتریان علاقه مند توصیه می شود برای دریافت قیمت دقیق متناسب با نیازهای کاربردی خاص خود، مستقیماً با سازنده تماس بگیرند. این امر تضمین می کند که کاربران پیکربندی و پشتیبانی بهینه را برای پروژه های تجزیه و تحلیل مقیاس نانو منحصر به فرد خود دریافت می کنند.