Found
29
products for "scanning probe microscope
"-
Yüksek hassasiyetli Nanoscale Malzemeler Karakterizasyonu için Düşük Gürültülü Z Eksi
Ürün Tanımı:Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nano ölçekli görüntüleme ve ölçümler için eşsiz bir hassasiyet ve çok yönlülük sunmak için tasarlanmış gelişmiş, her şeyi bir AFM sistemidir.XYZ üç eksenli tam numune tarama yöntemi kullanılarak, bu AFM, üç uzay boyutunda da numune boyunca tamamen hareket ... -
Sub-nanometre Malzemeler için Nanoscale Analizleri için Temas/Tap Modları
Ürün Açıklaması: Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanoskala düzeyinde olağanüstü görüntüleme ve ölçüm yetenekleri sağlamak üzere tasarlanmış gelişmiş bir Taramalı Kuvvet Mikroskobudur. Hassasiyet ve çok yönlülük için tasarlanan bu AFM modeli, 0,1 Hz'den 30 Hz'e kadar geniş bir tarama hızı aralığını ... -
MFM/KPFM Modları Yüksek Hassasiyetli Nanoölçekli Malzeme Karakterizasyonu İçin
Ürün Açıklaması: Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), nanometre ölçeğinde benzersiz görüntüleme ve ölçüm yetenekleri sağlamak üzere tasarlanmış, son teknoloji bir taramalı kuvvet mikroskobudur. Bu AFM, gelişmiş XYZ üç eksenli tam numune tarama yöntemiyle, numune yüzeylerinin hassas ve kapsamlı bir ... -
Bilimsel Araştırmada ve Endüstriyel Uygulamalarda Kesin Yüzey Analizi ve Nanometre Ölçeğinde Görüntüleme için AFM
Çok Fonksiyonlu Atomik Kuvvet Mikroskopu - AtomEdge Pro Ürün Tanıtımı AtomEdge Pro çok fonksiyonel atomik kuvvet mikroskobu, malzemeler, elektronik cihazlar, biyolojik örnekler vb. üzerinde üç boyutlu tarama görüntülemesi yapabilir.Bağlantı gibi çoklu çalışma modlarına sahiptir, dokunma ve temassız, ... -
Güvenilir Yüzey Pürüzlülüğü Analizi: AtomExplorer Temel Tip AFM
Ürün Açıklaması:Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), çok çeşitli malzemelerde hassas ve güvenilir yüzey karakterizasyonu sağlamak üzere tasarlanmış gelişmiş bir laboratuvar AFM ekipmanıdır. Yüksek kararlılıklı AFM teknolojisiyle tasarlanan bu cihaz, nano ölçekli araştırmalarında doğruluk, ... -
AtomExplorer AFM ile Nanoscale Yüzey Karakterizasyonu
Ürün Açıklaması: Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), gelişmiş ancak kullanıcı dostu AFM ekipmanı arayan laboratuvarlar için özel olarak tasarlanmış, son derece çok yönlü ve güvenilir bir Taramalı Prob Mikroskobudur. Bu model, malzeme yüzey karakterizasyonu için kapsamlı yetenekler sunarak, ara... -
Bilimsel Araştırmalar İçin MFM/EFM Modlarıyla Yüksek Dayanıklılıklı AFM
Ürün Açıklaması: Temel tip Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM), hem endüstriyel Ar-Ge ortamlarında hem de laboratuvar ortamlarında gelişmiş nano yapı analizi için özel olarak tasarlanmış çok yönlü ve yüksek performanslı bir cihazdır. Hassasiyet, esneklik ve kullanım kolaylığını bir araya getiren bu AFM ... -
AtomExplorer: Çipler ve Nanomalzemeler için Hassas Topografi Aracı
Ürün Tanımı:Temel Tipi Atomik Kuvvet Mikroskopu (AFM), bilimsel araştırma ve endüstriyel Ar-Ge uygulamalarının çeşitli ihtiyaçlarını karşılamak için tasarlanmış çok yönlü ve yüksek performanslı bir enstrüman.Bu çok fonksiyonel AFM gelişmiş ölçüm modları ile donatılmıştırElektrostatik Kuvvet ... -
Eğitim ve Endüstriyel Araştırma için Çok Yönlü AFM Çözümleri
Ürün Tanımı: Temel Tipi Atomik Kuvvet Mikroskopu (AFM), bilimsel araştırmanın katı taleplerini karşılamak için tasarlanmış bir laboratuvar AFM ekipmanının gelişmiş bir parçasıdır.Çeşitlilik, ve güvenilirliği sayesinde, nano ölçekli ayrıntılı yüzey analizi gerektiren araştırmacılar için ideal bir se...