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scanning probe microscope

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  • Geräuscharme Z-Achse für hochpräzise Charakterisierung von Nanomaterialien

    Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein fortschrittliches All-in-One-AFM-System, das entwickelt wurde, um unübertroffene Präzision und Vielseitigkeit für die Nano-Bildgebung und -Messung zu liefern. Unter Verwendung einer XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Abtastmethode ermöglicht dieses ...
  • Kontakt-/Tap-Modi für Subnanometer-Materialien

    Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein fortschrittliches Rasterkraftmikroskop, das außergewöhnliche Bildgebungs- und Messfähigkeiten im Nanobereich bietet. Dieses AFM-Modell wurde für Präzision und Vielseitigkeit entwickelt und unterstützt eine Vielzahl von Abtastraten von 0,1 ...
  • MFM/KPFM-Modi für die hochpräzise Charakterisierung von Nanomaterialien

    Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein hochmodernes Rasterkraftmikroskop, das entwickelt wurde, um beispiellose Bildgebungs- und Messmöglichkeiten im Nanobereich zu bieten. Mit seiner fortschrittlichen XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Rastermethode ermöglicht dieses AFM eine präzise ...
  • AFM für präzise Oberflächenanalyse und Nanometer-Skalen-Bildgebung in der wissenschaftlichen Forschung und industriellen Anwendungen

    Mehrfunktionales AtomKraftmikroskop - AtomEdge Pro Produkteinführung Das Multi-Funktions-AtomKraftmikroskop AtomEdge Pro kann dreidimensionale Scanning-Bilder von Materialien, elektronischen Geräten, biologischen Proben usw. erstellen.Es verfügt über mehrere Arbeitsmodi wie Kontakt, Tap und ber...
  • Zuverlässige Oberflächentexturanalyse: AtomExplorer Basic-Type AFM

    Beschreibung des Produkts:Das AtomKraftmikroskop (AFM) des Grundtyps ist ein fortschrittliches Labor-AFM-Gerät, das zur präzisen und zuverlässigen Oberflächencharakterisierung einer Vielzahl von Materialien entwickelt wurde.Konzipiert mit hoher Stabilität AFM-Technologie, bietet dieses Instrument ...
  • Meistern Sie die Charakterisierung von Oberflächen im Nanobereich mit dem AtomExplorer AFM

    Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) vom Basistyp ist ein äußerst vielseitiges und zuverlässiges Rasterkraftmikroskop, das speziell für Labore entwickelt wurde, die fortschrittliche und dennoch benutzerfreundliche AFM-Geräte suchen. Dieses Modell bietet umfassende Möglichkeiten zur ...
  • Hochstabile AFM mit MFM/EFM-Modi für die wissenschaftliche Forschung

    Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) vom Basistyp ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Instrument, das speziell für die fortschrittliche Nanostrukturanalyse in industriellen Forschungs- und Entwicklungsumgebungen sowie in Laboren entwickelt wurde. Dieses AFM-Modell kombiniert Pr...
  • AtomExplorer: Präzisionstool für Chips und Nanomaterialien

    Beschreibung des Produkts:Das AtomKraftmikroskop (AFM) des Grundtyps ist ein vielseitiges und leistungsstarkes Instrument, das den vielfältigen Anforderungen der wissenschaftlichen Forschung und der industriellen F&E-Anwendungen gerecht wird.Dieses multifunktionale AFM ist mit fortschrittlichen ...
  • Vielseitige AFM-Lösungen für Bildung und industrielle Forschung

    Produktbeschreibung: Das Rasterkraftmikroskop (AFM) vom Basistyp ist ein fortschrittliches Labor-AFM-Gerät, das den strengen Anforderungen der wissenschaftlichen Forschung gerecht wird. Dieses AFM-Mikroskop kombiniert Präzision, Vielseitigkeit und Zuverlässigkeit und ist somit die ideale Wahl für ...