Found
29
products for "scanning probe microscope
"-
Aksi Z Low-Noise untuk Karakterisasi Bahan Nanoscale Presisi Tinggi
Deskripsi produk:Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah sistem AFM canggih yang dirancang untuk memberikan presisi dan fleksibilitas yang tak tertandingi untuk pencitraan dan pengukuran skala nano.Menggunakan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ, AFM ini memungkinkan analisis permukaan yang ... -
Kontak/Tap Mode Untuk Sub-nanometer Bahan Analisis Nanoscale
Deskripsi produk:Mikroskop Angkatan Atom (AFM) adalah mikroskop Angkatan Pemindaian canggih yang dirancang untuk memberikan kemampuan pencitraan dan pengukuran yang luar biasa pada skala nano.Dirancang untuk presisi dan fleksibilitas, model AFM ini mendukung berbagai kecepatan pemindaian dari 0,1 Hz ... -
Mode MFM/KPFM untuk Karakterisasi Bahan Nanoskala Presisi Tinggi
Deskripsi produk:Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah mikroskop kekuatan pemindaian mutakhir yang dirancang untuk memberikan kemampuan pencitraan dan pengukuran yang tak tertandingi pada skala nano.Dengan metode pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ yang canggih, AFM ini memungkinkan pemeriksaan ... -
AFM untuk Analisis Permukaan yang Tepat dan Pencitraan Skala Nanometer dalam Penelitian Ilmiah dan Aplikasi Industri
Mikroskop Gaya Atom Multi-Fungsional - AtomEdge Pro Pengantar Produk Mikroskop gaya atom multi-fungsional AtomEdge Pro dapat melakukan pencitraan pemindaian tiga dimensi pada bahan, perangkat elektronik, sampel biologis, dll. Ia memiliki beberapa mode kerja seperti kontak, tap, dan non-kontak, ... -
Analisis tekstur permukaan yang dapat diandalkan: AtomExplorer AFM tipe dasar
Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) tipe-Dasar adalah peralatan AFM laboratorium canggih yang dirancang untuk memberikan karakterisasi permukaan yang presisi dan andal di berbagai bahan. Direkayasa dengan teknologi AFM stabilitas tinggi, instrumen ini menawarkan kinerja luar biasa bagi para ... -
Penguasaan Karakterisasi Permukaan Skala Nano dengan AtomExplorer AFM
Deskripsi produk:Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar (AFM) adalah mikroskop probe pemindaian yang sangat serbaguna dan dapat diandalkan yang dirancang khusus untuk laboratorium yang mencari peralatan AFM canggih namun ramah pengguna.Model ini memberikan kemampuan yang komprehensif untuk karakteristik ... -
Mikroskop Gaya Atom (AFM) Stabilitas Tinggi dengan Mode MFM/EFM untuk Riset Ilmiah
Deskripsi produk:The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsMenggabungkan presisi, fleksibilitas, dan kemudahan penggunaan, model AFM ... -
AtomExplorer: Alat Topografi Presisi Untuk Chip & Nanomaterial
Deskripsi produk:Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar (AFM) adalah instrumen serbaguna dan berkinerja tinggi yang dirancang untuk memenuhi beragam kebutuhan penelitian ilmiah dan aplikasi R&D industri.AFM multifungsi ini dilengkapi dengan mode pengukuran canggih, termasuk Elektrostatik Force ... -
Solusi AFM Serbaguna Untuk Pendidikan & Riset Industri
Deskripsi produk: Mikroskop Kekuatan Atom Tipe Dasar (AFM) adalah bagian canggih dari peralatan AFM Laboratorium yang dirancang untuk memenuhi tuntutan penelitian ilmiah yang ketat.fleksibilitas, dan keandalan, menjadikannya pilihan yang ideal bagi peneliti yang membutuhkan analisis permukaan rinci ...