Penguasaan Karakterisasi Permukaan Skala Nano dengan AtomExplorer AFM

Deskripsi produk:

Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar (AFM) adalah mikroskop probe pemindaian yang sangat serbaguna dan dapat diandalkan yang dirancang khusus untuk laboratorium yang mencari peralatan AFM canggih namun ramah pengguna.Model ini memberikan kemampuan yang komprehensif untuk karakteristik permukaan material, yang memungkinkan para peneliti dan ilmuwan untuk memperoleh informasi topografi dan mekanik terperinci pada skala nano dengan presisi yang luar biasa.

Salah satu fitur yang menonjol dari AFM tipe Basic ini adalah fungsi operasi multi-mode.memungkinkan pengguna untuk menyesuaikan pendekatan pemindaian mereka tergantung pada jenis sampel dan sifat permukaan spesifik yang ingin dianalisis. Tap Mode sangat ideal untuk pencitraan sampel halus atau lunak dengan meminimalkan kekuatan lateral, sementara Mode Kontak menawarkan interaksi langsung untuk profil permukaan yang kuat.Lift Mode memungkinkan pengukuran yang tepat dari kekuatan jarak jauh dan potensi permukaan, dan Mode Pencitraan Fase memberikan kontras rinci berdasarkan sifat material seperti adhesi, kekakuan, dan viskositas.Rentang modus operasi ini membuat AFM tipe Basic alat yang ampuh untuk karakteristik permukaan material yang komprehensif.

Metode pemindaian yang digunakan oleh mikroskop ini adalah sistem pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ. Ini memastikan gerakan yang akurat dan stabil di ketiga dimensi spasial,memungkinkan cakupan yang luas dan pencitraan rinci dari sampel hingga ukuran Φ 25 mmKemampuan pemindaian sampel penuh memastikan bahwa peneliti dapat memeriksa area besar permukaan material tanpa mengorbankan resolusi atau kualitas data.yang sangat penting untuk aplikasi yang membutuhkan wawasan makro dan nanoscale.

Resolusi dan kualitas gambar sangat penting dalam mikroskop kekuatan atom, dan AFM tipe Basic juga unggul di bidang ini.Ini mendukung berbagai poin pengambilan gambar yang mengesankan dari 32 * 32 hingga 4096 * 4096 piksel, memberikan pengguna fleksibilitas untuk menyeimbangkan antara kecepatan pemindaian dan detail gambar.Kepadatan piksel yang tinggi ini memungkinkan penangkapan fitur permukaan yang rumit dan detail struktural yang halus yang penting untuk analisis bahan yang menyeluruh dan aplikasi penelitian.

Spesifikasi lain yang terkenal dari peralatan AFM laboratorium ini adalah tingkat kebisingan sumbu Z yang luar biasa, yang setinggi 0,04 nanometer.Lantai yang sangat berisik ini memastikan pengukuran ketinggian yang sangat stabil dan akurat, meminimalkan gangguan dan artefak yang dapat mengaburkan fitur permukaan yang sebenarnya. presisi seperti itu sangat penting ketika mengkarakterisasi bahan pada skala atom atau molekul,di mana bahkan fluktuasi kecil dapat berdampak signifikan pada interpretasi data.

Dengan desain yang kuat, kemampuan pemindaian canggih, dan mode operasi serbaguna,Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar menonjol sebagai alat yang sangat diperlukan untuk laboratorium yang terlibat dalam penelitian bahan mutakhirApakah digunakan untuk mempelajari polimer, logam, semikonduktor, sampel biologis, atau bahan nanostruktur, AFM ini memberikan wawasan yang dapat diandalkan dan rinci tentang morfologi permukaan,sifat mekanik, dan distribusi fase dari berbagai bahan.

Singkatnya, Mikroskop Kekuatan Atom tipe Basic menggabungkan teknologi canggih dengan kemudahan penggunaan untuk memberikan karakteristik permukaan material yang tepat dan komprehensif.Dukungannya untuk beberapa mode operasi termasuk Tap Mode, Mode Kontak, Mode Lift, dan Mode Pencitraan Fase, ditambah dengan sistem pemindaian sampel penuh tiga sumbu XYZ dan berbagai titik pengambilan gambar,membuatnya menjadi bagian penting dari peralatan AFM laboratoriumTingkat kebisingan sumbu Z yang rendah 0,04 nm lebih meningkatkan kemampuannya untuk memberikan data berkualitas tinggi yang dapat direproduksi,sementara menampung sampel hingga Φ 25 mm dalam ukuran memastikan fleksibilitas untuk berbagai kebutuhan penelitianModel AFM ini adalah pilihan yang sangat baik bagi para ilmuwan yang bertujuan untuk memajukan pemahaman mereka tentang permukaan material melalui pencitraan dan analisis nanoskala yang rinci.

Fitur:

• Nama produk: Mikroskop Kekuatan Atom tipe dasar
• Mode Operasi: Mode Tap, Mode Kontak, Mode Lift, Mode Pembuatan Gambar Fase
• Tingkat kebisingan sumbu Z: 0,04 Nm untuk pengukuran yang tepat
• Jangkauan pemindaian: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm cocok untuk berbagai ukuran sampel
• Pengukuran multifungsi termasuk Elektrostatik Force Microscope (EFM), Scanning Kelvin Microscope (KPFM), Piezoelectric Force Microscope (PFM), Magnetic Force Microscope (MFM)
• Titik Sampling Gambar: Disesuaikan dari 32 * 32 hingga 4096 * 4096 untuk pencitraan resolusi tinggi
• Ideal untuk karakterisasi permukaan material dan pencitraan topografi skala nano
• Mikroskop AFM canggih yang dirancang untuk aplikasi penelitian serbaguna

Parameter teknis:

Aplikasi:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and reliable laboratory AFM equipment designed to meet the diverse needs of nanoscale research and material characterizationBerasal dari Cina, instrumen canggih ini menawarkan berbagai fungsi, menjadikannya alat penting untuk laboratorium ilmiah, lembaga penelitian,dan pusat R&D industri yang berfokus pada analisis permukaan dan pencitraan topografi skala nano.

Salah satu kesempatan aplikasi utama untuk AtomExplorer adalah dalam studi rinci tentang morfologi permukaan pada skala nano.Kemampuannya untuk menangkap gambar resolusi tinggi dengan titik pengambilan sampel gambar mulai dari 32*32 sampai 4096*4096 memungkinkan para peneliti menyelidiki fitur permukaan dengan kejelasan yang luar biasaHal ini membuatnya sangat berharga di bidang-bidang seperti ilmu material, penelitian semikonduktor, dan nanoteknologi, di mana memahami struktur permukaan sangat penting.

AtomExplorer beroperasi dalam beberapa mode termasuk Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode, dan Phase Imaging Mode, memberikan fleksibilitas untuk menganalisis berbagai macam sampel.Tingkat kebisingan sumbu Z rendahnya 0.04 nm memastikan pengukuran yang tepat dan akurat, yang sangat penting ketika bekerja pada skala atom.Ukuran sampel hingga Φ 25 mm memperluas lagi berbagai bahan dan perangkat yang dapat diperiksa.

Selain itu, AtomExplorer mendukung pengukuran multifungsi seperti Elektrostatic Force Microscopy (EFM), Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Piezoelectric Force Microscopy (PFM),dan Mikroskopi Kekuatan Magnetik (MFM)Di antara ini, Kelvin Probe Force Microscopy sangat penting untuk mempelajari potensi permukaan dan variasi fungsi kerja, yang penting dalam pembuatan perangkat semikonduktor.studi korosi, dan elektronik organik.

Sistem AFM ini sangat ideal untuk laboratorium yang bertujuan untuk memperluas kemampuan mereka dalam pencitraan skala nano dan karakterisasi permukaan tanpa mengorbankan presisi atau fleksibilitas.dan pelanggan yang tertarik didorong untuk menghubungi Truth Instruments untuk penawaran rinci yang disesuaikan dengan kebutuhan penelitian khusus merekaAtomExplorer menonjol sebagai solusi yang hemat biaya namun ampuh untuk memajukan sains dan teknologi skala nano.