Мастер наноразмерной характеризации поверхности с помощью AFM AtomExplorer

Описание продукта:

Микроскоп атомной силы базового типа (AFM) является очень универсальным и надежным сканирующим зондовым микроскопом, разработанным специально для лабораторий, ищущих современное, но удобное для использования оборудование AFM.Эта модель обеспечивает всесторонние возможности для характеристики поверхности материала, что позволяет исследователям и ученым получать подробную топографическую и механическую информацию в наноразмере с исключительной точностью.

Одной из отличительных особенностей этого базового типа AFM является его многорежимная функциональность работы.позволяет пользователям адаптировать свой подход к сканированию в зависимости от типа образца и специфических свойств поверхности, которые они хотят проанализироватьРежим нажатия идеально подходит для изображения деликатных или мягких образцов за счет минимизации боковых сил, в то время как режим контакта предлагает прямое взаимодействие для надежного профилирования поверхности.Режим подъема позволяет точно измерить силы дальнего действия и потенциал поверхности, и режим фазовой визуализации обеспечивает подробный контраст на основе свойств материала, таких как адгезия, жесткость и вязкость.Этот диапазон режимов работы делает базовый тип AFM мощным инструментом для комплексной характеристики поверхности материала.

Метод сканирования, используемый этим микроскопом, представляет собой трехосевую систему сканирования полного образца XYZ, что обеспечивает точное и стабильное движение во всех трех пространственных измерениях,позволяет широко охватывать и детально изображать образцы размером до Φ 25 ммВозможность сканирования полного образца гарантирует, что исследователи могут исследовать большие площади поверхностей материала без ущерба для разрешения или качества данных.что имеет решающее значение для приложений, требующих понимания как макро, так и наномасштабных.

Разрешение и качество изображения имеют решающее значение в микроскопии атомной силы, и AFM базового типа также превосходит в этой области.Он поддерживает впечатляющий диапазон точек отбора образцов от 32 * 32 до 4096 * 4096 пикселей, предоставляя пользователям гибкость для баланса между скоростью сканирования и детальностью изображения.Эта высокая плотность пикселей позволяет фиксировать сложные черты поверхности и тонкие структурные детали, которые необходимы для тщательного анализа материалов и исследовательских приложений.

Еще одной примечательной особенностью этого лабораторного оборудования AFM является его исключительный уровень шума Z-оси, который составляет всего 0,04 нанометра.Этот ультранизкий уровень шума обеспечивает высокостабильные и точные измерения высотыТакая точность жизненно важна при характеристике материалов в атомном или молекулярном масштабе.где даже незначительные колебания могут существенно повлиять на интерпретацию данных.

С его надежным дизайном, передовыми возможностями сканирования и универсальными режимами работы,Микроскоп атомной силы базового типа выделяется как незаменимый инструмент для лабораторий, занимающихся исследованием передовых материалов.Используется ли она для изучения полимеров, металлов, полупроводников, биологических образцов или наноструктурированных материалов, эта AFM обеспечивает надежное и подробное понимание морфологии поверхности.механические свойства, и фазовое распределение широкого спектра материалов.

Подводя итог, микроскоп атомной силы базового типа сочетает в себе сложную технологию с простотой использования, чтобы обеспечить точную и полную характеристику поверхности материала.Поддержка нескольких режимов работы, включая Tap Mode, Контактный режим, режим подъема и режим фазовой визуализации в сочетании с трехосной системой сканирования полного образца XYZ и широким диапазоном точек отбора образцов изображения,делает его важным элементом лабораторного оборудования AFMНизкий уровень шума оси Z 0,04 нм еще больше повышает его способность предоставлять высококачественные, воспроизводимые данные.При этом размещение образцов размером до Φ 25 мм обеспечивает гибкость для различных исследовательских нуждЭта модель AFM является отличным выбором для ученых, стремящихся продвинуть свое понимание поверхностей материалов с помощью детальной наноразмерной визуализации и анализа.

Особенности:

• Наименование продукта: Микроскоп атомной силы базового типа
• Режимы работы: режим нажатия, контактный режим, режим подъема, режим фазовой визуализации
• Уровень шума по оси Z: 0,04 Нм для точных измерений
• Диапазон сканирования: 100 мкм * 100 мкм * 10 мкм / 30 мкм * 30 мкм * 5 мкм подходит для различных размеров образцов
• Многофункциональные измерения, включая электростатический силовой микроскоп (EFM), сканирующий микроскоп Кельвина (KPFM), пиезоэлектрический силовой микроскоп (PFM), магнитный силовой микроскоп (MFM)
• Точки отбора образцов изображения: регулируемые от 32 * 32 до 4096 * 4096 для изображения с высоким разрешением
• Идеально подходит для характеристики поверхности материала и топографического изображения на наномасштабе
• Усовершенствованный микроскоп AFM, предназначенный для универсальных исследовательских приложений

Технические параметры:

Применение:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and reliable laboratory AFM equipment designed to meet the diverse needs of nanoscale research and material characterizationЭтот современный инструмент, происходящий из Китая, предлагает широкий спектр функциональных возможностей, что делает его важным инструментом для научных лабораторий, научно-исследовательских учреждений,и промышленных научно-исследовательских центров, специализирующихся на анализе поверхности и наномасштабной топографической визуализации.

Одно из основных применений AtomExplorer заключается в детальном изучении морфологии поверхности в наномасштабе.Его способность снимать изображения высокого разрешения с точками отбора образцов от 32*32 до 4096*4096 позволяет исследователям исследовать особенности поверхности с исключительной ясностьюЭто делает его неоценимым в таких областях, как наука о материалах, исследования полупроводников и нанотехнологии, где понимание структуры поверхности имеет решающее значение.

AtomExplorer работает в нескольких режимах, включая Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode и Phase Imaging Mode, обеспечивая гибкость для анализа широкого спектра образцов.Его низкий уровень шума Z-оси 0.04 нм обеспечивает точные и точные измерения, что имеет решающее значение при работе в атомном масштабе.Размер образца до Φ 25 мм еще больше расширяет спектр материалов и устройств, которые могут быть исследованы..

Кроме того, AtomExplorer поддерживает многофункциональные измерения, такие как электростатическая силовая микроскопия (EFM), сканирование Кельвинской силовой микроскопии (KPFM), пиезоэлектрическая силовая микроскопия (PFM),и микроскопии магнитных сил (MFM)Среди них силовая микроскопия Кельвина имеет особое значение для изучения поверхностного потенциала и изменений рабочей функции, что необходимо при изготовлении полупроводниковых устройств.Исследования коррозии, и органической электроники.

Эта система AFM идеально подходит для лабораторий, стремящихся расширить свои возможности в области наноразмерной визуализации и характеристики поверхности без ущерба для точности или универсальности.и заинтересованных клиентов рекомендуется связаться с Truth Instruments для получения подробного предложения, адаптированного к их конкретным исследовательским требованиямAtomExplorer выделяется как экономически эффективное, но мощное решение для продвижения науки и технологий на наноуровне.