Chủ Đạo Đặc Trưng Bề Mặt Cấp Nano Với Kính Hiển Vi Lực Nguyên Tử AtomExplorer

Mô tả sản phẩm:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) loại Cơ bản là một kính hiển vi quét đầu dò đa năng và đáng tin cậy, được thiết kế đặc biệt cho các phòng thí nghiệm đang tìm kiếm thiết bị AFM tiên tiến nhưng dễ sử dụng. Mẫu này cung cấp các khả năng toàn diện để đặc trưng bề mặt vật liệu, cho phép các nhà nghiên cứu và nhà khoa học thu được thông tin chi tiết về địa hình và cơ học ở quy mô nano với độ chính xác đặc biệt.

Một trong những tính năng nổi bật của AFM loại Cơ bản này là chức năng hoạt động đa chế độ. Nó hỗ trợ Chế độ Chạm, Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Nâng và Chế độ Chụp ảnh Pha, cho phép người dùng điều chỉnh phương pháp quét của họ tùy thuộc vào loại mẫu và các đặc tính bề mặt cụ thể mà họ muốn phân tích. Chế độ Chạm lý tưởng để chụp ảnh các mẫu mỏng manh hoặc mềm bằng cách giảm thiểu lực ngang, trong khi Chế độ Tiếp xúc cung cấp sự tương tác trực tiếp để tạo hình bề mặt mạnh mẽ. Chế độ Nâng cho phép đo chính xác các lực tầm xa và điện thế bề mặt, và Chế độ Chụp ảnh Pha cung cấp độ tương phản chi tiết dựa trên các đặc tính vật liệu như độ bám dính, độ cứng và độ nhớt đàn hồi. Phạm vi chế độ hoạt động này làm cho AFM loại Cơ bản trở thành một công cụ mạnh mẽ để đặc trưng bề mặt vật liệu toàn diện.

Phương pháp quét được sử dụng bởi kính hiển vi này là hệ thống quét toàn bộ mẫu ba trục XYZ. Điều này đảm bảo chuyển động chính xác và ổn định trên cả ba chiều không gian, cho phép bao phủ rộng và chụp ảnh chi tiết các mẫu có kích thước lên đến Φ 25 mm. Khả năng quét toàn bộ mẫu đảm bảo rằng các nhà nghiên cứu có thể kiểm tra các khu vực rộng lớn của bề mặt vật liệu mà không ảnh hưởng đến độ phân giải hoặc chất lượng dữ liệu, điều này rất quan trọng đối với các ứng dụng yêu cầu cả hiểu biết ở cấp độ vĩ mô và nano.

Độ phân giải và chất lượng hình ảnh là rất quan trọng trong kính hiển vi lực nguyên tử, và AFM loại Cơ bản cũng vượt trội trong lĩnh vực này. Nó hỗ trợ một loạt các điểm lấy mẫu hình ảnh ấn tượng từ 32*32 đến 4096*4096 pixel, mang đến cho người dùng sự linh hoạt để cân bằng giữa tốc độ quét và chi tiết hình ảnh. Mật độ pixel cao này cho phép chụp các đặc điểm bề mặt phức tạp và các chi tiết cấu trúc tốt, điều này rất cần thiết để phân tích vật liệu kỹ lưỡng và các ứng dụng nghiên cứu.

Một thông số kỹ thuật đáng chú ý khác của thiết bị AFM trong phòng thí nghiệm này là mức độ nhiễu trục Z đặc biệt của nó, chỉ ở mức 0,04 nanomet. Sàn nhiễu cực thấp này đảm bảo các phép đo chiều cao ổn định và chính xác cao, giảm thiểu sự nhiễu và các tạo tác có thể che khuất các đặc điểm bề mặt thực sự. Độ chính xác như vậy là rất quan trọng khi đặc trưng vật liệu ở quy mô nguyên tử hoặc phân tử, nơi ngay cả những dao động nhỏ cũng có thể ảnh hưởng đáng kể đến việc giải thích dữ liệu.

Với thiết kế mạnh mẽ, khả năng quét tiên tiến và các chế độ hoạt động linh hoạt, Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản nổi bật như một công cụ không thể thiếu cho các phòng thí nghiệm tham gia vào nghiên cứu vật liệu tiên tiến. Cho dù được sử dụng để nghiên cứu polyme, kim loại, chất bán dẫn, mẫu sinh học hay vật liệu nano cấu trúc, AFM này cung cấp những hiểu biết đáng tin cậy và chi tiết về hình thái bề mặt, tính chất cơ học và phân bố pha của nhiều loại vật liệu.

Tóm lại, Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản kết hợp công nghệ tinh vi với sự dễ sử dụng để cung cấp đặc trưng bề mặt vật liệu chính xác và toàn diện. Việc hỗ trợ nhiều chế độ hoạt động bao gồm Chế độ Chạm, Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Nâng và Chế độ Chụp ảnh Pha, cùng với hệ thống quét toàn bộ mẫu ba trục XYZ và một loạt các điểm lấy mẫu hình ảnh, làm cho nó trở thành một thiết bị AFM trong phòng thí nghiệm thiết yếu. Mức độ nhiễu trục Z thấp là 0,04 nm càng tăng cường khả năng cung cấp dữ liệu chất lượng cao, có thể tái tạo, đồng thời chứa các mẫu có kích thước lên đến Φ 25 mm đảm bảo tính linh hoạt cho các nhu cầu nghiên cứu khác nhau. Mẫu AFM này là một lựa chọn tuyệt vời cho các nhà khoa học muốn nâng cao hiểu biết của họ về bề mặt vật liệu thông qua chụp ảnh và phân tích chi tiết ở quy mô nano.

Tính năng:

• Tên sản phẩm: Kính hiển vi lực nguyên tử loại Cơ bản
• Chế độ hoạt động: Chế độ Chạm, Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Nâng, Chế độ Chụp ảnh Pha
• Mức độ nhiễu trục Z: 0,04 Nm để đo chính xác
• Phạm vi quét: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm phù hợp với nhiều kích thước mẫu khác nhau
• Các phép đo đa chức năng bao gồm Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM), Kính hiển vi lực từ (MFM)
• Điểm lấy mẫu hình ảnh: Có thể điều chỉnh từ 32 * 32 đến 4096 * 4096 để chụp ảnh độ phân giải cao
• Lý tưởng để đặc trưng bề mặt vật liệu và chụp ảnh địa hình ở quy mô nano
• Kính hiển vi AFM tiên tiến được thiết kế cho các ứng dụng nghiên cứu đa năng

Thông số kỹ thuật:

Ứng dụng:

Kính hiển vi lực nguyên tử (AFM) loại Cơ bản AtomExplorer của Truth Instruments là một thiết bị AFM trong phòng thí nghiệm đa năng và đáng tin cậy, được thiết kế để đáp ứng các nhu cầu đa dạng của nghiên cứu ở quy mô nano và đặc trưng vật liệu. Có nguồn gốc từ Trung Quốc, thiết bị hiện đại này cung cấp một loạt các chức năng, làm cho nó trở thành một công cụ thiết yếu cho các phòng thí nghiệm khoa học, các tổ chức nghiên cứu và các trung tâm R&D công nghiệp tập trung vào phân tích bề mặt và chụp ảnh địa hình ở quy mô nano.

Một trong những ứng dụng chính của AtomExplorer là trong nghiên cứu chi tiết về hình thái bề mặt ở quy mô nano. Khả năng chụp ảnh độ phân giải cao với các điểm lấy mẫu hình ảnh từ 32*32 đến 4096*4096 cho phép các nhà nghiên cứu điều tra các đặc điểm bề mặt với độ rõ nét đặc biệt. Điều này làm cho nó vô giá trong các lĩnh vực như khoa học vật liệu, nghiên cứu chất bán dẫn và công nghệ nano, nơi việc hiểu cấu trúc bề mặt là rất quan trọng.

AtomExplorer hoạt động ở nhiều chế độ bao gồm Chế độ Chạm, Chế độ Tiếp xúc, Chế độ Nâng và Chế độ Chụp ảnh Pha, cung cấp sự linh hoạt để phân tích nhiều loại mẫu. Mức độ nhiễu trục Z thấp là 0,04 nm đảm bảo các phép đo chính xác và chính xác, điều này rất quan trọng khi làm việc ở quy mô nguyên tử. Việc chứa kích thước mẫu lên đến Φ 25 mm càng mở rộng phạm vi vật liệu và thiết bị có thể được kiểm tra.

Hơn nữa, AtomExplorer hỗ trợ các phép đo đa chức năng như Kính hiển vi lực tĩnh điện (EFM), Kính hiển vi lực thăm dò Kelvin quét (KPFM), Kính hiển vi lực áp điện (PFM) và Kính hiển vi lực từ (MFM). Trong số này, Kính hiển vi lực thăm dò Kelvin đặc biệt quan trọng để nghiên cứu điện thế bề mặt và các biến thể hàm công, điều này rất cần thiết trong chế tạo thiết bị bán dẫn, nghiên cứu ăn mòn và điện tử hữu cơ.

Hệ thống AFM này lý tưởng cho các phòng thí nghiệm nhằm mục đích mở rộng khả năng của họ trong chụp ảnh ở quy mô nano và đặc trưng bề mặt mà không ảnh hưởng đến độ chính xác hoặc tính linh hoạt. Giá cả có thể thương lượng và khách hàng quan tâm được khuyến khích liên hệ với Truth Instruments để có báo giá chi tiết phù hợp với các yêu cầu nghiên cứu cụ thể của họ. AtomExplorer nổi bật như một giải pháp hiệu quả về chi phí nhưng mạnh mẽ để thúc đẩy khoa học và công nghệ ở quy mô nano.