অ্যাটম এক্সপ্লোরার এএফএম দিয়ে মাস্টার ন্যানোস্কেল পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্য

পণ্যের বর্ণনাঃ

বেসিক-টাইপ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এএফএম) একটি অত্যন্ত বহুমুখী এবং নির্ভরযোগ্য স্ক্যানিং প্রোব মাইক্রোস্কোপ যা বিশেষভাবে উন্নত তবে ব্যবহারকারী-বান্ধব এএফএম সরঞ্জাম খুঁজছেন এমন পরীক্ষাগারগুলির জন্য ডিজাইন করা হয়েছে।এই মডেল উপাদান পৃষ্ঠ চরিত্রগতকরণের জন্য ব্যাপক ক্ষমতা প্রদান করে, যা গবেষক ও বিজ্ঞানীদের ব্যতিক্রমী নির্ভুলতার সাথে ন্যানো স্কেল বিশদ টপোগ্রাফিক এবং যান্ত্রিক তথ্য পেতে সক্ষম করে।

এই বেসিক-টাইপের এএফএম এর অন্যতম বৈশিষ্ট্য হল এর মাল্টি-মোড অপারেটিং ফাংশন। এটি ট্যাপ মোড, যোগাযোগ মোড, লিফট মোড এবং ফেজ ইমেজিং মোড সমর্থন করে,ব্যবহারকারীদের নমুনা প্রকার এবং তারা বিশ্লেষণ করতে চান নির্দিষ্ট পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্য উপর নির্ভর করে তাদের স্ক্যান পদ্ধতির মাপসই করতে সক্ষম. ট্যাপ মোড পার্শ্বীয় শক্তি হ্রাস করে সূক্ষ্ম বা নরম নমুনা ইমেজিং জন্য আদর্শ, যখন যোগাযোগ মোড শক্তিশালী পৃষ্ঠ প্রোফাইলিং জন্য সরাসরি মিথস্ক্রিয়া প্রস্তাব।লিফট মোড দীর্ঘ পরিসীমা বাহিনী এবং পৃষ্ঠ সম্ভাব্যতা সঠিক পরিমাপ করার অনুমতি দেয়, এবং ফেজ ইমেজিং মোড আঠালো, অনমনীয়তা এবং ভিস্কোলেস্টিকতার মতো উপাদান বৈশিষ্ট্যগুলির উপর ভিত্তি করে বিস্তারিত বৈসাদৃশ্য সরবরাহ করে।অপারেটিং মোডের এই পরিসীমা বেসিক-টাইপ এএফএমকে ব্যাপক উপাদান পৃষ্ঠের চরিত্রের জন্য একটি শক্তিশালী সরঞ্জাম করে তোলে.

এই মাইক্রোস্কোপ দ্বারা ব্যবহৃত স্ক্যানিং পদ্ধতি একটি XYZ তিন অক্ষ পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং সিস্টেম। এটি তিনটি স্থানিক মাত্রায় সঠিক এবং স্থিতিশীল আন্দোলন নিশ্চিত করে।যা Φ 25 মিমি পর্যন্ত আকারের নমুনার বিস্তৃত কভারেজ এবং বিশদ চিত্রগ্রহণের অনুমতি দেয়সম্পূর্ণ নমুনা স্ক্যান করার ক্ষমতা নিশ্চিত করে যে গবেষকরা রেজোলিউশন বা ডেটা মানের উপর আপস না করেই উপাদান পৃষ্ঠের বড় এলাকা পরীক্ষা করতে পারেন।যা ম্যাক্রো এবং ন্যানো-স্কেল উভয় অন্তর্দৃষ্টি প্রয়োজন অ্যাপ্লিকেশনের জন্য অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ.

ছবির রেজোলিউশন এবং গুণমান পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপিতে অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ, এবং বেসিক-টাইপ এএফএম এই ক্ষেত্রেও চমৎকার।এটি 32 * 32 থেকে 4096 * 4096 পিক্সেল পর্যন্ত চিত্রের নমুনা পয়েন্টগুলির একটি চিত্তাকর্ষক পরিসীমা সমর্থন করে, যা ব্যবহারকারীদের স্ক্যানের গতি এবং চিত্রের বিস্তারিততার মধ্যে ভারসাম্য বজায় রাখার নমনীয়তা দেয়।এই উচ্চ পিক্সেল ঘনত্ব জটিল পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্য এবং সূক্ষ্ম কাঠামোগত বিবরণ যা পুঙ্খানুপুঙ্খ উপাদান বিশ্লেষণ এবং গবেষণা অ্যাপ্লিকেশন জন্য অপরিহার্য ক্যাপচার করতে সক্ষম.

এই পরীক্ষাগার এএফএম সরঞ্জামটির আরেকটি উল্লেখযোগ্য স্পেসিফিকেশন হ'ল এর ব্যতিক্রমী জেড-অক্ষের শব্দ স্তর, যা 0.04 ন্যানোমিটার পর্যন্ত কম।এই অতি-নিম্ন গোলমাল মেঝে অত্যন্ত স্থিতিশীল এবং সঠিক উচ্চতা পরিমাপ নিশ্চিত, হস্তক্ষেপ এবং কৃত্রিম যা সত্যিকারের পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলিকে অদৃশ্য করতে পারে তা হ্রাস করে। পারমাণবিক বা আণবিক স্কেলে উপকরণগুলির বৈশিষ্ট্য বর্ণনা করার সময় এই জাতীয় নির্ভুলতা অত্যাবশ্যক,যেখানে এমনকি ক্ষুদ্রতম ওঠানামা তথ্যের ব্যাখ্যাকে উল্লেখযোগ্যভাবে প্রভাবিত করতে পারে.

এর শক্তিশালী নকশা, উন্নত স্ক্যানিং ক্ষমতা, এবং বহুমুখী অপারেটিং মোড,বেসিক টাইপ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপটি অত্যাধুনিক উপাদান গবেষণায় নিয়োজিত পরীক্ষাগারগুলির জন্য একটি অপরিহার্য সরঞ্জাম হিসাবে দাঁড়িয়েছেপলিমার, ধাতু, অর্ধপরিবাহী, জৈবিক নমুনা বা ন্যানো স্ট্রাকচারড উপকরণ অধ্যয়নের জন্য ব্যবহৃত হোক না কেন, এই এএফএম পৃষ্ঠের মর্ফোলজিতে নির্ভরযোগ্য এবং বিস্তারিত অন্তর্দৃষ্টি প্রদান করে।যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্য, এবং বিস্তৃত উপকরণগুলির ফেজ বিতরণ।

সংক্ষেপে বলা যায়, বেসিক-টাইপ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ সুনির্দিষ্ট এবং ব্যাপক উপাদান পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্য প্রদানের জন্য ব্যবহারের সহজতার সাথে পরিশীলিত প্রযুক্তিকে একত্রিত করে।ট্যাপ মোড সহ একাধিক অপারেটিং মোডের জন্য এর সমর্থন, যোগাযোগ মোড, লিফট মোড, এবং ফেজ ইমেজিং মোড, একটি XYZ তিন-অক্ষ পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং সিস্টেম এবং একটি বিস্তৃত চিত্র নমুনা পয়েন্ট সঙ্গে যুক্ত,এটিকে ল্যাবরেটরি এএফএম সরঞ্জামগুলির একটি অপরিহার্য অংশ করে তোলে০.০৪ ন্যানোমিটার জোড়ের নিম্ন শব্দ মাত্রা উচ্চমানের, পুনরুত্পাদনযোগ্য তথ্য প্রদানের ক্ষমতাকে আরও বাড়িয়ে তোলে।বিভিন্ন গবেষণার প্রয়োজনের জন্য নমনীয়তা নিশ্চিত করার সময় Φ 25 মিমি পর্যন্ত নমুনা আকারের আবাসনন্যানোস্কেল ইমেজিং এবং বিশ্লেষণের মাধ্যমে উপকরণ পৃষ্ঠের বোঝার অগ্রগতি অর্জনের লক্ষ্যে এই এএফএম মডেলটি বিজ্ঞানীদের জন্য একটি চমৎকার পছন্দ।

বৈশিষ্ট্যঃ

• পণ্যের নামঃ বেসিক টাইপ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ
• অপারেটিং মোডঃ ট্যাপ মোড, যোগাযোগ মোড, লিফট মোড, ফেজ ইমেজিং মোড
• Z-Axis Noise Level: 0.04 Nm সঠিক পরিমাপের জন্য
• স্ক্যানিং রেঞ্জঃ 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm বিভিন্ন নমুনা আকারের জন্য উপযুক্ত
• ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (ইএফএম), স্ক্যানিং কেলভিন মাইক্রোস্কোপ (কেপিএফএম), পাইজো ইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (পিএফএম), চৌম্বকীয় ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এমএফএম) সহ মাল্টিফাংশনাল পরিমাপ
• চিত্রের নমুনা পয়েন্টঃ উচ্চ রেজোলিউশনের ইমেজিংয়ের জন্য 32 * 32 থেকে 4096 * 4096 পর্যন্ত সামঞ্জস্যযোগ্য
• উপাদান পৃষ্ঠের চরিত্রগতকরণ এবং ন্যানোস্কেল টপোগ্রাফি ইমেজিং জন্য আদর্শ
• উন্নত এএফএম মাইক্রোস্কোপ বহুমুখী গবেষণা অ্যাপ্লিকেশনের জন্য ডিজাইন করা

টেকনিক্যাল প্যারামিটারঃ

অ্যাপ্লিকেশনঃ

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and reliable laboratory AFM equipment designed to meet the diverse needs of nanoscale research and material characterizationচীন থেকে উদ্ভূত, এই অত্যাধুনিক যন্ত্রটি বিস্তৃত কার্যকারিতা প্রদান করে, যা এটিকে বৈজ্ঞানিক পরীক্ষাগার, গবেষণা প্রতিষ্ঠান,এবং শিল্প গবেষণা ও উন্নয়ন কেন্দ্র পৃষ্ঠ বিশ্লেষণ এবং ন্যানোস্কেল টপোগ্রাফি ইমেজিং উপর দৃষ্টি নিবদ্ধ করা.

এটম এক্সপ্লোরারের প্রধান অ্যাপ্লিকেশনগুলির মধ্যে একটি হল ন্যানো স্কেল পৃষ্ঠের মর্ফোলজির বিশদ গবেষণা।এটির উচ্চ-রেজোলিউশনের চিত্রগুলি ক্যাপচার করার ক্ষমতা 32*32 থেকে 4096*4096 পর্যন্ত চিত্রের নমুনা পয়েন্টগুলির সাথে গবেষকদের ব্যতিক্রমী স্পষ্টতার সাথে পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্যগুলি তদন্ত করতে দেয়এটি উপাদান বিজ্ঞান, অর্ধপরিবাহী গবেষণা এবং ন্যানোপ্রযুক্তির মতো ক্ষেত্রে এটি অমূল্য করে তোলে, যেখানে পৃষ্ঠের কাঠামো বোঝা গুরুত্বপূর্ণ।

এটম এক্সপ্লোরার ট্যাপ মোড, যোগাযোগ মোড, লিফট মোড এবং ফেজ ইমেজিং মোড সহ একাধিক মোডে কাজ করে, যা বিভিন্ন নমুনার বিশ্লেষণের জন্য নমনীয়তা সরবরাহ করে।এর Z-অক্ষের কম শব্দ মাত্রা 0.04 nm সুনির্দিষ্ট এবং নির্ভুল পরিমাপ নিশ্চিত করে, যা পরমাণু স্কেলে কাজ করার সময় অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ।Φ 25 মিমি পর্যন্ত নমুনা আকারের আবাসন পরীক্ষার জন্য উপকরণ এবং ডিভাইসগুলির পরিসীমা আরও প্রসারিত করে.

উপরন্তু, অ্যাটম এক্সপ্লোরার ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (ইএফএম), স্ক্যানিং কেলভিন প্রোব ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (কেপিএফএম), পাইজো ইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (পিএফএম),এবং ম্যাগনেটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এমএফএম)এর মধ্যে, কেলভিন প্রোব ফোর্স মাইক্রোস্কোপি পৃষ্ঠের সম্ভাব্যতা এবং কাজের ফাংশন বৈচিত্র্য অধ্যয়নের জন্য বিশেষভাবে গুরুত্বপূর্ণ, যা অর্ধপরিবাহী ডিভাইস তৈরিতে অপরিহার্য।ক্ষয় অধ্যয়ন, এবং জৈব ইলেকট্রনিক্স।

এই এএফএম সিস্টেমটি ন্যানোস্কেল ইমেজিং এবং পৃষ্ঠের চরিত্রায়নের ক্ষেত্রে তাদের সক্ষমতা বাড়ানোর লক্ষ্যে পরীক্ষাগারগুলির জন্য আদর্শ।এবং আগ্রহী গ্রাহকদের তাদের নির্দিষ্ট গবেষণা প্রয়োজনীয়তা অনুসারে একটি বিস্তারিত উদ্ধৃতি জন্য সত্য যন্ত্রপাতি যোগাযোগ করতে উত্সাহিত করা হয়ন্যানো স্কেল বিজ্ঞান ও প্রযুক্তির অগ্রগতির জন্য এটম এক্সপ্লোরার একটি সাশ্রয়ী মূল্যের কিন্তু শক্তিশালী সমাধান।