原子探査機AFMでマスターナノスケール表面特性

製品の説明:

基本型原子間力顕微鏡（AFM）は、高度でありながら使いやすいAFM装置を求める研究室向けに特別に設計された、非常に汎用性の高い信頼性の高い走査型プローブ顕微鏡です。このモデルは、材料表面の特性評価のための包括的な機能を提供し、研究者や科学者がナノスケールで詳細な地形情報と機械的情報を、卓越した精度で取得できるようにします。

この基本型AFMの際立った特徴の1つは、そのマルチモード動作機能です。タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモードをサポートしており、ユーザーはサンプルタイプと分析したい特定の表面特性に応じて、走査アプローチを調整できます。タップモードは、横方向の力を最小限に抑えることで、デリケートなサンプルや柔らかいサンプルのイメージングに最適です。一方、コンタクトモードは、堅牢な表面プロファイリングのための直接的な相互作用を提供します。リフトモードは、長距離力と表面電位の正確な測定を可能にし、位相イメージングモードは、付着力、剛性、粘弾性などの材料特性に基づいて詳細なコントラストを提供します。この幅広い動作モードにより、基本型AFMは、包括的な材料表面特性評価のための強力なツールとなります。

この顕微鏡で採用されている走査方法は、XYZ三軸フルサンプル走査システムです。これにより、3つの空間次元すべてで正確で安定した動きが保証され、最大Φ25mmのサンプルの広範囲なカバレッジと詳細なイメージングが可能になります。フルサンプル走査機能により、研究者は解像度やデータ品質を損なうことなく、材料表面の広い領域を検査できるため、マクロとナノスケールの両方の洞察を必要とするアプリケーションにとって不可欠です。

原子間力顕微鏡では、画像解像度と品質が重要であり、基本型AFMもこの分野で優れています。32*32から最大4096*4096ピクセルまでの印象的な範囲の画像サンプリングポイントをサポートしており、ユーザーは走査速度と画像の詳細さのバランスを取ることができます。この高ピクセル密度により、徹底的な材料分析と研究アプリケーションに不可欠な、複雑な表面の特徴と微細な構造の詳細をキャプチャできます。

この研究室用AFM装置のもう1つの注目すべき仕様は、0.04ナノメートルという非常に低いZ軸ノイズレベルです。この超低ノイズフロアにより、非常に安定した正確な高さ測定が保証され、真の表面の特徴を不明瞭にする可能性のある干渉やアーティファクトが最小限に抑えられます。このような精度は、原子または分子スケールで材料を特性評価する際に不可欠であり、わずかな変動でさえ、データの解釈に大きな影響を与える可能性があります。

堅牢な設計、高度な走査機能、および多様な動作モードを備えた基本型原子間力顕微鏡は、最先端の材料研究に従事する研究室にとって不可欠なツールとして際立っています。ポリマー、金属、半導体、生物学的サンプル、またはナノ構造材料の研究に使用されるかどうかにかかわらず、このAFMは、幅広い材料の表面形態、機械的特性、および相分布に関する信頼性の高い詳細な洞察を提供します。

要約すると、基本型原子間力顕微鏡は、洗練された技術と使いやすさを組み合わせて、正確で包括的な材料表面特性評価を実現します。タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモードを含む複数の動作モードのサポートと、XYZ三軸フルサンプル走査システム、および幅広い画像サンプリングポイントにより、これは研究室用AFM装置の不可欠な部分となっています。0.04 nmの低いZ軸ノイズレベルは、高品質で再現可能なデータを提供する能力をさらに高め、最大Φ25 mmのサンプルに対応することで、さまざまな研究ニーズに対応する柔軟性を保証します。このAFMモデルは、詳細なナノスケールイメージングと分析を通じて材料表面の理解を深めることを目指す科学者にとって優れた選択肢です。

特徴:

• 製品名：基本型原子間力顕微鏡
• 動作モード：タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモード
• Z軸ノイズレベル：0.04 Nm（正確な測定用）
• 走査範囲：100 µm * 100 µm * 10 µm / 30 µm * 30 µm * 5 µm（さまざまなサンプルサイズに対応）
• 静電フォース顕微鏡（EFM）、走査ケルビン顕微鏡（KPFM）、圧電フォース顕微鏡（PFM）、磁気フォース顕微鏡（MFM）を含む多機能測定
• 画像サンプリングポイント：高解像度イメージング用に32 * 32から4096 * 4096まで調整可能
• 材料表面特性評価およびナノスケール地形イメージングに最適
• 多様な研究アプリケーション向けに設計された高度なAFM顕微鏡

技術的パラメータ:

アプリケーション:

Truth Instruments AtomExplorer基本型原子間力顕微鏡（AFM）は、ナノスケール研究と材料特性評価の多様なニーズに対応するように設計された、汎用性の高い信頼性の高い研究室用AFM装置です。中国発祥のこの最先端の機器は、幅広い機能を提供し、表面分析とナノスケール地形イメージングに焦点を当てた科学研究室、研究機関、および産業界の研究開発センターにとって不可欠なツールとなっています。

AtomExplorerの主なアプリケーションの1つは、ナノスケールでの表面形態の詳細な研究です。32*32から4096*4096までの画像サンプリングポイントで高解像度画像をキャプチャする機能により、研究者は卓越した明瞭さで表面の特徴を調査できます。これにより、材料科学、半導体研究、およびナノテクノロジーなどの分野で非常に貴重であり、表面構造の理解が不可欠です。

AtomExplorerは、タップモード、コンタクトモード、リフトモード、位相イメージングモードなど、複数のモードで動作し、さまざまなサンプルを分析する柔軟性を提供します。0.04 nmの低いZ軸ノイズレベルは、正確で正確な測定を保証し、原子スケールで作業する際に不可欠です。最大Φ25 mmのサンプルサイズ対応により、検査できる材料とデバイスの範囲がさらに広がります。

さらに、AtomExplorerは、静電フォース顕微鏡（EFM）、走査ケルビン探針フォース顕微鏡（KPFM）、圧電フォース顕微鏡（PFM）、および磁気フォース顕微鏡（MFM）などの多機能測定をサポートしています。これらのうち、ケルビン探針フォース顕微鏡は、半導体デバイス製造、腐食研究、および有機エレクトロニクスに不可欠な、表面電位と仕事関数の変動を研究するために特に重要です。

このAFMシステムは、精度や汎用性を損なうことなく、ナノスケールイメージングと表面特性評価の能力を拡大することを目指す研究室に最適です。価格は交渉可能であり、関心のあるお客様は、特定の研究要件に合わせて詳細な見積もりについてTruth Instrumentsにお問い合わせください。AtomExplorerは、ナノスケール科学と技術を進歩させるための費用対効果の高い強力なソリューションとして際立っています。