Caratterizzazione superficiale su scala nanometrica con AtomExplorer AFM

Descrizione del prodotto:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Base è un microscopio a sonda a scansione altamente versatile e affidabile, progettato specificamente per i laboratori che cercano un'apparecchiatura AFM avanzata ma facile da usare. Questo modello offre capacità complete per la caratterizzazione della superficie dei materiali, consentendo a ricercatori e scienziati di ottenere informazioni topografiche e meccaniche dettagliate a scala nanometrica con una precisione eccezionale.

Una delle caratteristiche principali di questo AFM di tipo Base è la sua funzionalità operativa multi-modo. Supporta la Tap Mode, la Contact Mode, la Lift Mode e la Phase Imaging Mode, consentendo agli utenti di personalizzare il loro approccio di scansione a seconda del tipo di campione e delle specifiche proprietà superficiali che desiderano analizzare. La Tap Mode è ideale per l'imaging di campioni delicati o morbidi, minimizzando le forze laterali, mentre la Contact Mode offre un'interazione diretta per la profilazione robusta della superficie. La Lift Mode consente la misurazione precisa delle forze a lungo raggio e dei potenziali di superficie, e la Phase Imaging Mode fornisce un contrasto dettagliato basato sulle proprietà dei materiali come l'adesione, la rigidità e la viscoelasticità. Questa gamma di modalità operative rende l'AFM di tipo Base uno strumento potente per la caratterizzazione completa della superficie dei materiali.

Il metodo di scansione impiegato da questo microscopio è un sistema di scansione completo del campione a tre assi XYZ. Ciò garantisce un movimento accurato e stabile in tutte e tre le dimensioni spaziali, consentendo una copertura estesa e l'imaging dettagliato di campioni fino a una dimensione di Φ 25 mm. La capacità di scansione completa del campione assicura che i ricercatori possano esaminare ampie aree di superfici di materiali senza compromettere la risoluzione o la qualità dei dati, il che è fondamentale per le applicazioni che richiedono sia approfondimenti macroscopici che nanoscopici.

La risoluzione e la qualità delle immagini sono fondamentali nella microscopia a forza atomica, e l'AFM di tipo Base eccelle anche in quest'area. Supporta un'impressionante gamma di punti di campionamento delle immagini da 32*32 fino a 4096*4096 pixel, garantendo agli utenti la flessibilità di bilanciare tra velocità di scansione e dettaglio dell'immagine. Questa elevata densità di pixel consente la cattura di caratteristiche superficiali complesse e dettagli strutturali fini che sono essenziali per un'analisi approfondita dei materiali e applicazioni di ricerca.

Un'altra specifica notevole di questa apparecchiatura AFM da laboratorio è il suo eccezionale livello di rumore sull'asse Z, che è di soli 0,04 nanometri. Questo livello di rumore ultra-basso garantisce misurazioni di altezza altamente stabili e accurate, minimizzando le interferenze e gli artefatti che possono oscurare le vere caratteristiche della superficie. Tale precisione è fondamentale quando si caratterizzano i materiali su scala atomica o molecolare, dove anche minime fluttuazioni possono avere un impatto significativo sull'interpretazione dei dati.

Con il suo design robusto, le capacità di scansione avanzate e le modalità operative versatili, il Microscopio a Forza Atomica di tipo Base si distingue come uno strumento indispensabile per i laboratori impegnati nella ricerca sui materiali all'avanguardia. Che venga utilizzato per studiare polimeri, metalli, semiconduttori, campioni biologici o materiali nanostrutturati, questo AFM fornisce informazioni affidabili e dettagliate sulla morfologia della superficie, sulle proprietà meccaniche e sulla distribuzione di fase di un'ampia gamma di materiali.

In sintesi, il Microscopio a Forza Atomica di tipo Base combina una tecnologia sofisticata con la facilità d'uso per fornire una caratterizzazione precisa e completa della superficie dei materiali. Il suo supporto per più modalità operative, tra cui Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode e Phase Imaging Mode, insieme a un sistema di scansione completo del campione a tre assi XYZ e un'ampia gamma di punti di campionamento delle immagini, lo rende un'apparecchiatura AFM da laboratorio essenziale. Il basso livello di rumore sull'asse Z di 0,04 nm migliora ulteriormente la sua capacità di fornire dati riproducibili e di alta qualità, mentre l'adattamento di campioni fino a Φ 25 mm di dimensioni garantisce flessibilità per varie esigenze di ricerca. Questo modello AFM è un'eccellente scelta per gli scienziati che mirano a far progredire la loro comprensione delle superfici dei materiali attraverso l'imaging e l'analisi dettagliata su scala nanometrica.

Caratteristiche:

• Nome del prodotto: Microscopio a Forza Atomica di tipo Base
• Modalità operative: Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode, Phase Imaging Mode
• Livello di rumore sull'asse Z: 0,04 Nm per misurazioni precise
• Gamma di scansione: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm adatto a varie dimensioni di campioni
• Misurazioni multifunzionali tra cui Microscopio a Forza Elettrostatica (EFM), Microscopio Kelvin a Scansione (KPFM), Microscopio a Forza Piezoelettrica (PFM), Microscopio a Forza Magnetica (MFM)
• Punti di campionamento delle immagini: Regolabili da 32 * 32 fino a 4096 * 4096 per immagini ad alta risoluzione
• Ideale per la caratterizzazione della superficie dei materiali e l'imaging della topografia su scala nanometrica
• Microscopio AFM avanzato progettato per applicazioni di ricerca versatili

Parametri tecnici:

Applicazioni:

Il Microscopio a Forza Atomica (AFM) di tipo Base AtomExplorer di Truth Instruments è un'apparecchiatura AFM da laboratorio versatile e affidabile, progettata per soddisfare le diverse esigenze della ricerca su scala nanometrica e della caratterizzazione dei materiali. Originario della Cina, questo strumento all'avanguardia offre una vasta gamma di funzionalità, rendendolo uno strumento essenziale per laboratori scientifici, istituzioni di ricerca e centri di ricerca e sviluppo industriali focalizzati sull'analisi della superficie e sull'imaging della topografia su scala nanometrica.

Una delle principali occasioni di applicazione per l'AtomExplorer è lo studio dettagliato della morfologia della superficie su scala nanometrica. La sua capacità di acquisire immagini ad alta risoluzione con punti di campionamento delle immagini che vanno da 32*32 a 4096*4096 consente ai ricercatori di indagare le caratteristiche della superficie con eccezionale chiarezza. Questo lo rende prezioso in settori come la scienza dei materiali, la ricerca sui semiconduttori e la nanotecnologia, dove la comprensione della struttura della superficie è fondamentale.

L'AtomExplorer opera in più modalità, tra cui Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode e Phase Imaging Mode, offrendo flessibilità per analizzare un'ampia varietà di campioni. Il suo basso livello di rumore sull'asse Z di 0,04 nm garantisce misurazioni precise e accurate, il che è fondamentale quando si lavora su scala atomica. L'adattamento delle dimensioni del campione fino a Φ 25 mm amplia ulteriormente la gamma di materiali e dispositivi che possono essere esaminati.

Inoltre, l'AtomExplorer supporta misurazioni multifunzionali come la Microscopia a Forza Elettrostatica (EFM), la Microscopia a Forza a Sonda Kelvin a Scansione (KPFM), la Microscopia a Forza Piezoelettrica (PFM) e la Microscopia a Forza Magnetica (MFM). Tra queste, la Microscopia a Forza a Sonda Kelvin è particolarmente significativa per lo studio del potenziale di superficie e delle variazioni della funzione di lavoro, che è essenziale nella fabbricazione di dispositivi a semiconduttore, negli studi sulla corrosione e nell'elettronica organica.

Questo sistema AFM è ideale per i laboratori che mirano ad espandere le proprie capacità nell'imaging su scala nanometrica e nella caratterizzazione della superficie senza compromettere la precisione o la versatilità. Il prezzo è negoziabile e i clienti interessati sono invitati a contattare Truth Instruments per un preventivo dettagliato su misura per le loro specifiche esigenze di ricerca. L'AtomExplorer si distingue come una soluzione conveniente ma potente per far progredire la scienza e la tecnologia su scala nanometrica.