Found
29
products for "scanning probe microscope
"-
Малошумная Z-ось для высокоточной характеризации наноматериалов
Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современная универсальная система АСМ, разработанная для обеспечения беспрецедентной точности и универсальности при наноразмерном изображении и измерениях. Используя метод сканирования образца по трем осям XYZ, этот АСМ обеспечивает всесторонни... -
Режимы касания/касания для наноразмерного анализа субнанометровых материалов
Описание продукта:Микроскоп атомной силы (AFM) - это передовой микроскоп с помощью сканирования, предназначенный для обеспечения исключительных возможностей изображения и измерения в наномасштабе.Проектировано для точности и универсальности, эта модель AFM поддерживает широкий диапазон частот сканир... -
Режимы MFM/KPFM для высокоточной характеристики материалов на наномасштабе
Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) - это современный сканирующий силовой микроскоп, разработанный для обеспечения непревзойденных возможностей получения изображений и измерений в наномасштабе. Благодаря усовершенствованному трехкоординатному методу сканирования образца по осям XYZ, эт... -
Атомно-силовой микроскоп для точного анализа поверхности и нанометрового масштабирования в научных исследованиях и промышленных применениях
Многофункциональный микроскоп атомной силы - AtomEdge Pro Введение продукта Многофункциональный микроскоп атомной силы AtomEdge Pro может выполнять трехмерное сканирование материалов, электронных устройств, биологических образцов и т.д.Он имеет несколько режимов работы, таких как контактКроме того, ... -
Надежный анализ текстуры поверхности: Атомный исследователь Basic-type AFM
Описание продукта: Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это современное лабораторное оборудование АСМ, предназначенное для обеспечения точной и надежной характеристики поверхности широкого спектра материалов. Разработанный с использованием технологии АСМ с высокой стабильностью, этот прибо... -
Мастер наноразмерной характеризации поверхности с помощью AFM AtomExplorer
Описание продукта:Микроскоп атомной силы базового типа (AFM) является очень универсальным и надежным сканирующим зондовым микроскопом, разработанным специально для лабораторий, ищущих современное, но удобное для использования оборудование AFM.Эта модель обеспечивает всесторонние возможности для хара... -
Высокостабильный АСМ с режимами МСМ/ЭФМ для научных исследований
Описание продукта:The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed specifically for advanced nano structure analysis in both industrial R&D environments and laboratory settingsСочетая в себе точность, гибкость и простоту использования, эта модель ... -
AtomExplorer: Инструмент прецизионной топографии для чипов и наноматериалов
Описание продукта:Атомно-силовой микроскоп (АСМ) базового типа - это универсальный и высокопроизводительный прибор, разработанный для удовлетворения разнообразных потребностей научных исследований и промышленных НИОКР. Этот многофункциональный АСМ оснащен передовыми режимами измерений, включая микро... -
Многофункциональные решения AFM для образования и промышленных исследований
Описание продукта: Микроскоп атомной силы базового типа (AFM) - это современное лабораторное оборудование, предназначенное для удовлетворения требований научных исследований.универсальность, и надежность, что делает его идеальным выбором для исследователей, которым необходим подробный анализ поверхн...