Mikroskop Kekuatan Atom Multifungsi Model produk: AtomEdge Pro Deskripsi produk: Mikroskop kekuatan atom multi-fungsi AtomEdge Pro dapat melakukan pencitraan pemindaian tiga dimensi pada bahan, perangkat elektronik, sampel biologis, dll.Ini memiliki beberapa mode kerja seperti kontak, tap, dan non...

Potensi Nanoscale Dengan Mikroskop Kekuatan Atom Untuk Pencitraan Resolusi Tinggi Deskripsi produk: Salah satu fitur utama AFM adalah rentang pemindaian yang mengesankan, mengukur pada 100 μm X 100 μm X 10 μm. rentang luas ini memungkinkan pencitraan dan analisis rinci dari berbagai sampel,dari ...

Mikroskop Gaya Atom Lanjutan Untuk Pencitraan Resolusi Tinggi Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom adalah alat canggih yang dirancang untuk pencitraan resolusi tinggi dan analisis skala nano. Dengan rentang pemindaian 100 μm X 100 μm X 10 μm, AFM ini menawarkan kemampuan pencitraan resolusi atom ...

Mikroskop Kerr Magneto-Optik Uji-Putar Multifungsi Model Produk: KMPL-S Deskripsi Peralatan: Instrumen ini memungkinkan pencitraan domain magnetik resolusi tinggi dari bahan magnetik dan chip spintronik, dengan resolusi hingga 250 nm. Dilengkapi dengan sistem kontrol yang sangat cerdas dan stasiun ...

Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah instrumen yang sangat canggih dan serbaguna yang dirancang untuk memberikan karakterisasi permukaan yang presisi melalui berbagai mode operasi. Mikroskop multifungsi ini mengintegrasikan berbagai teknik termasuk Mikroskopi Gaya Elektrostatik (EFM), ...

Deskripsi produk:Mikroskop Kekuatan Atom (AFM) adalah instrumen yang sangat canggih yang dirancang untuk pengukuran multifungsi, menawarkan fleksibilitas dan presisi yang tak tertandingi dalam pencitraan dan analisis skala nano.AFM canggih ini mengintegrasikan berbagai mode pengukuran, termasuk ...

Deskripsi Produk:Mikroskop Gaya Atom tipe-Dasar adalah instrumen canggih yang dirancang untuk memberikan analisis permukaan yang presisi dan resolusi tinggi melalui kemampuan pemindaian tingkat lanjut. Dengan menggunakan metode pemindaian penuh-sampel tiga-sumbu XYZ, mikroskop ini memungkinkan ...

Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) adalah platform karakterisasi skala nano mutakhir yang dirancang untuk memberikan presisi dan keserbagunaan yang tak tertandingi dalam analisis permukaan. Dengan kapasitas ukuran sampel hingga 25 mm, instrumen ini sangat ideal untuk menyelidiki berbagai ...

Deskripsi Produk: Mikroskop Gaya Atom (AFM) tipe Dasar adalah instrumen yang sangat serbaguna dan andal yang dirancang untuk memberikan pencitraan topografi skala nano yang presisi dengan akurasi dan stabilitas yang luar biasa. Didesain untuk peneliti dan profesional yang menuntut kemampuan ...