Microscope à force atomique multifonctionnel Modèle du produit : AtomEdge Pro Description du produit : Le microscope à force atomique multifonctionnel AtomEdge Pro peut effectuer une imagerie par balayage tridimensionnel sur des matériaux, des dispositifs électroniques, des échantillons biologiques, ...

Potentiel à l'échelle nanométrique avec microscope à force atomique pour l'imagerie haute résolution Description du produit: L'une des caractéristiques clés de l'AFM est sa portée de balayage impressionnante, mesurant à 100 μm X 100 μm X 10 μm. Cette large portée permet une imagerie et une analyse d...

Microscope à force atomique avancé pour l'imagerie haute résolution Description du produit : Le microscope à force atomique est un outil de pointe conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse à l'échelle nanométrique. Avec une plage de balayage de 100 µm x 100 µm x 10 µm, ce AFM offre des ...

Microscope magnéto-optique de Kerr à test de spin multifonctionnel Modèle du produit : KMPL-S Description de l'équipement : Cet instrument permet l'imagerie à haute résolution des domaines magnétiques des matériaux magnétiques et des puces spintroniques, avec une résolution allant jusqu'à 250 nm. Il ...

Description du produit : Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument très avancé et polyvalent conçu pour fournir une caractérisation précise des surfaces grâce à de multiples modes de fonctionnement. Ce microscope multifonctionnel intègre une gamme de techniques, notamment la microscopie ...

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est un instrument hautement avancé conçu pour la mesure multifonctionnelle, offrant une polyvalence et une précision inégalées dans l'imagerie et l'analyse à l'échelle nanométrique.Cet AFM de pointe intègre une variété de modes de mesure, y ...

Description du produit:Le microscope de force atomique de type Basic est un instrument de pointe conçu pour fournir une analyse de surface précise et haute résolution grâce à des capacités de balayage avancées.Utilisation d'une méthode de balayage à échantillon complet XYZ à trois axes, ce ...

Description du produit:Le microscope à force atomique (AFM) est une plateforme de caractérisation à l'échelle nanométrique de pointe conçue pour fournir une précision et une polyvalence inégalées dans l'analyse de surface.d'une capacité de taille d'échantillon maximale de 25 mm, cet instrument est ...

Description du produit: Le microscope de force atomique de type basique (AFM) est un instrument très polyvalent et fiable conçu pour fournir des images topographiques précises à l'échelle nanométrique avec une précision et une stabilité exceptionnelles.Conçu pour les chercheurs et les professionnels ...