Geräuscharme Z-Achse für hochpräzise Charakterisierung von Nanomaterialien

Produktbeschreibung:

Das Rasterkraftmikroskop (AFM) ist ein fortschrittliches All-in-One-AFM-System, das entwickelt wurde, um unübertroffene Präzision und Vielseitigkeit für die Nano-Bildgebung und -Messung zu liefern. Unter Verwendung einer XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Abtastmethode ermöglicht dieses AFM eine umfassende und genaue Oberflächenanalyse, indem es vollständige Bewegungsfreiheit über die Probe in allen drei Raumdimensionen ermöglicht. Diese Fähigkeit gewährleistet hochauflösende Bildgebung und detaillierte Charakterisierung komplexer Proben-Topografien und macht es zu einem unverzichtbaren Werkzeug für Forscher und Ingenieure, die in der Nanotechnologie, Materialwissenschaft und Halbleiterindustrie arbeiten.

Eines der herausragenden Merkmale dieses AFM sind seine multifunktionalen Messfähigkeiten. Es integriert mehrere spezialisierte Mikroskopietechniken in einer einzigen Plattform, darunter Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Scanning-Kelvin-Sonden-Kraftmikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Scanning-Kapazitätsmikroskopie (SCM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM). Diese Funktionalitäten ermöglichen es Benutzern, eine breite Palette von physikalischen Eigenschaften wie Oberflächenladungsverteilung, elektrische Potentialvariationen, piezoelektrische Reaktionen, Kapazitätsänderungen und magnetische Domänenstrukturen zu untersuchen. Zusätzlich gibt es ein optionales Modul für leitfähige Rasterkraftmikroskopie (C-AFM), das die Funktionalität des Systems weiter ausbaut, indem es Stromabbildung und elektrische Leitfähigkeitsmessungen im Nanobereich ermöglicht.

Die Bildgebungsleistung dieses AFM ist außergewöhnlich und unterstützt Bildabtastpunkte von 32*32 bis zu 4096*4096. Dieser umfangreiche Bereich ermöglicht flexible Bildauflösungen, die auf die spezifischen Anforderungen verschiedener Anwendungen zugeschnitten sind, von schnellen Übersichts-Scans bis hin zu hochauflösenden Detailanalysen. Die hohe Abtastdichte stellt sicher, dass selbst feinste Oberflächenmerkmale mit bemerkenswerter Klarheit und Genauigkeit erfasst werden können.

Die Aufrechterhaltung extrem niedriger Rauschpegel ist im AFM-Betrieb entscheidend, um präzise Oberflächenmessungen zu erzielen, und dieses System zeichnet sich in dieser Hinsicht mit einem Z-Achsen-Rauschpegel von nur 0,04 nm aus. Solche minimalen Rauschstörungen garantieren, dass vertikale Verschiebungsmessungen hochgenau sind, was zur Zuverlässigkeit und Reproduzierbarkeit der gesammelten Daten beiträgt. Dies ist besonders wichtig für berührungslose AFM-Modi, bei denen die Wechselwirkungen zwischen Spitze und Probe extrem empfindlich auf Umgebungsstörungen reagieren.

Das AFM verfügt außerdem über einen Abtastwinkelbereich von 0 bis 360 Grad und bietet vollständige Rotationsfreiheit während der Bildgebung und Analyse. Diese volle Winkelfähigkeit ermöglicht es Benutzern, Proben aus jeder Richtung auszurichten und zu untersuchen, was eine umfassende Oberflächencharakterisierung erleichtert und die Untersuchung anisotroper Eigenschaften oder gerichteter Phänomene ermöglicht, ohne die Probe manuell neu positionieren zu müssen.

Als berührungsloses AFM minimiert dieses System den Spitzenverschleiß und die Probenschädigung, indem es während der Messungen ohne physischen Kontakt mit der Oberfläche arbeitet. Dieser Modus ist ideal für die Analyse weicher, empfindlicher oder leicht verformbarer Materialien, wobei ihre Integrität erhalten bleibt und dennoch detaillierte Informationen im Nanobereich geliefert werden. Die Kombination aus berührungslosem Betrieb mit multifunktionalen Messmodi macht dieses AFM zu einem vielseitigen und leistungsstarken Werkzeug für ein breites Spektrum wissenschaftlicher Untersuchungen.

Zusammenfassend bietet dieses All-in-One-AFM eine robuste Lösung für hochpräzise Nano-Bildgebung und multifunktionale Eigenschaftsmessungen. Seine XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Abtastmethode, die umfangreiche Suite integrierter Mikroskopietechniken, die hochauflösenden Bildgebungsfähigkeiten, der extrem niedrige Z-Achsen-Rauschpegel und der volle 360-Grad-Abtastwinkel machen es zu einem hochmodernen Instrument, das auf fortschrittliche Forschungs- und Industrieanwendungen zugeschnitten ist. Egal, ob Sie elektrische, magnetische, mechanische oder piezoelektrische Eigenschaften im Nanobereich untersuchen, dieses AFM-System bietet die Leistung und Flexibilität, die erforderlich sind, um die Grenzen der wissenschaftlichen Entdeckung zu erweitern.

Merkmale:

• Produktname: Rasterkraftmikroskop (All-in-One AFM)
• Z-Achsen-Rauschpegel: 0,04 Nm für hochpräzise Messungen
• Multifunktionale Messungen einschließlich Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Scanning-Kelvin-Mikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Scanning-Kapazitäts-Rasterkraftmikroskopie (SCM), Magnetkraftmikroskopie (MFM)
• Optionaler Modus für leitfähige Rasterkraftmikroskopie (C-AFM) verfügbar
• Abtastwinkel: 0~360° für vielseitige Probenanalyse
• Abtastrate: 0,1 Hz bis 30 Hz zur Anpassung an verschiedene Bildgebungsgeschwindigkeiten
• Abtastmethode: XYZ-Drei-Achsen-Vollproben-Abtastung, die eine umfassende Oberflächencharakterisierung gewährleistet
• Dient als Nano-Charakterisierungsplattform mit Multi-Mode-Messfähigkeiten

Technische Parameter:

Anwendungen:

Das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop (AFM) aus China ist ein hochmodernes wissenschaftliches Instrument, das entwickelt wurde, um Bildgebung mit atomarer Auflösung und nanomechanische Testfähigkeiten bereitzustellen. Seine fortschrittliche Abtastrate von 0,1 Hz bis 30 Hz und ein voller 0~360°-Abtastwinkel ermöglichen eine hochpräzise und flexible Probenanalyse. Das AtomEdge Pro ist mit Proben bis zu 25 mm Durchmesser kompatibel und eignet sich daher für eine Vielzahl von Forschungs- und Industrieanwendungen.

Dieses vielseitige AFM-Modell zeichnet sich durch multifunktionale Messungen aus und bietet Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Scanning-Kelvin-Sonden-Mikroskopie (KPFM), Piezoelektrische Kraftmikroskopie (PFM), Scanning-Kapazitätsmikroskopie (SCM) und Magnetkraftmikroskopie (MFM). Darüber hinaus unterstützt es die optionale leitfähige Rasterkraftmikroskopie (C-AFM), wodurch es sich ideal für die detaillierte Analyse elektrischer Eigenschaften eignet. Diese Funktionen machen das AtomEdge Pro sehr gut geeignet für Forschungsumgebungen, die sich auf Materialwissenschaft, Halbleitertechnologie und Nanotechnologieentwicklung konzentrieren.

In akademischen und industriellen Labors wird das AtomEdge Pro häufig für nanomechanische Tests eingesetzt, wodurch Wissenschaftler mechanische Eigenschaften im Nanobereich mit außergewöhnlicher Genauigkeit untersuchen können. Seine geringe Nichtlinearität in der XY-Richtung (0,02 %) und Z-Richtung (0,08 %) gewährleistet zuverlässige und reproduzierbare Messungen, die für hochpräzise Anwendungen wie Biomaterialforschung, Polymeranalyse und Oberflächentechnik entscheidend sind. Die Bildgebungsfähigkeit mit atomarer Auflösung ermöglicht eine detaillierte Oberflächencharakterisierung, die für die Entwicklung neuer Materialien und die Verbesserung von Herstellungsprozessen unerlässlich ist.

Die multifunktionalen Messoptionen und die Anpassungsfähigkeit des AFM machen es gleichermaßen wertvoll in der Elektronik, wo detaillierte Oberflächenpotential- und magnetische Eigenschaftsabbildungen erforderlich sind. Beispielsweise erleichtern die KPFM- und EFM-Modi die Untersuchung der Ladungsverteilung und der elektrostatischen Kräfte auf mikroelektronischen Bauteilen und unterstützen die Geräteoptimierung und Fehleranalyse. Inzwischen unterstützen PFM- und MFM-Modi Untersuchungen an piezoelektrischen und magnetischen Materialien und tragen zu Fortschritten bei Sensoren und Speichergeräten bei.

Insgesamt ist das Truth Instruments AtomEdge Pro Rasterkraftmikroskop ein leistungsstarkes und flexibles Werkzeug, das für ein breites Spektrum von Anwendungsszenarien entwickelt wurde – von der Grundlagenforschung in der Nanowissenschaft bis hin zu praktischen Anwendungen in der Industrie. Seine Kombination aus atomarer Auflösung, multifunktionalen Messfähigkeiten und robustem Design stellt sicher, dass es die anspruchsvollen Anforderungen moderner nanomechanischer Tests und Oberflächencharakterisierungsaufgaben erfüllt.