高精度ナノスケール材料特性評価用低ノイズZ軸

製品説明:

原子間力顕微鏡 (AFM) は、ナノスケールでのイメージングと測定に比類のない精度と汎用性を提供するように設計された、高度なオールインワンAFMシステムです。XYZ 3軸フルサンプルスキャン方式を採用し、このAFMは、3つの空間次元すべてでサンプル全体を自由に移動できるため、包括的かつ正確な表面分析を可能にします。この機能により、高解像度イメージングと複雑なサンプルのトポグラフィーの詳細な特性評価が可能になり、ナノテクノロジー、材料科学、半導体産業の研究者やエンジニアにとって不可欠なツールとなっています。

このAFMの際立った特徴の1つは、その多機能測定能力です。静電フォース顕微鏡 (EFM)、走査ケルビンプローブフォース顕微鏡 (KPFM)、圧電フォース顕微鏡 (PFM)、走査容量顕微鏡 (SCM)、磁気フォース顕微鏡 (MFM) など、いくつかの特殊な顕微鏡技術を単一のプラットフォームに統合しています。これらの機能により、ユーザーは表面電荷分布、電位変動、圧電応答、容量変化、磁気ドメイン構造など、幅広い物理的特性を調査できます。さらに、オプションの導電性原子間力顕微鏡 (C-AFM) モジュールがあり、ナノスケールでの電流マッピングと電気伝導率測定を可能にすることで、システムの機能をさらに拡張します。

このAFMのイメージング性能は優れており、32*32から4096*4096までのイメージサンプリングポイントをサポートしています。この広範な範囲により、高速概要スキャンから超高解像度の詳細分析まで、さまざまなアプリケーションの特定の要件に合わせて柔軟なイメージング解像度が可能になります。高いサンプリング密度により、最も微細な表面の特徴でさえ、驚くほどの鮮明さと精度で捉えることができます。

正確な表面測定を実現するには、AFM操作において超低ノイズレベルを維持することが不可欠であり、このシステムは、0.04 nmという低さのZ軸ノイズレベルでこの点で優れています。このような最小限のノイズ干渉により、垂直変位測定が非常に正確になり、収集されたデータの信頼性と再現性に貢献します。これは、チップとサンプルの相互作用力が非常にデリケートで環境の乱れに敏感な非接触AFMモードにとって特に重要です。

AFMはまた、0〜360度の走査角度範囲を備えており、イメージングと分析中に完全な回転の自由度を提供します。この完全な角度機能により、ユーザーはあらゆる方向からサンプルを向きを変えて検査できるため、包括的な表面特性評価が容易になり、サンプルを手動で再配置することなく異方性特性または方向性現象の研究が可能になります。

このシステムは非接触AFMとして、測定中に表面に物理的に触れることなく動作することにより、チップの摩耗とサンプルの損傷を最小限に抑えます。このモードは、柔らかく、デリケートで、変形しやすい材料の分析に最適であり、詳細なナノスケール情報を提供しながら、その完全性を維持します。非接触操作と多機能測定モードの組み合わせにより、このAFMは、幅広い科学的調査に役立つ、用途が広く強力なツールとなっています。

要約すると、このオールインワンAFMは、高精度ナノスケールイメージングと多機能特性測定のための堅牢なソリューションを提供します。そのXYZ 3軸フルサンプルスキャン方式、統合された顕微鏡技術の広範なスイート、高解像度イメージング機能、超低Z軸ノイズレベル、および完全な360度走査角度により、高度な研究および産業用途向けに調整された最先端の機器となっています。ナノスケールで電気的、磁気的、機械的、または圧電的特性を研究しているかどうかにかかわらず、このAFMシステムは、科学的発見の限界を押し広げるために必要なパフォーマンスと柔軟性を提供します。

特徴:

• 製品名: 原子間力顕微鏡 (オールインワンAFM)
• Z軸ノイズレベル: 0.04 Nm (高精度測定用)
• 静電フォース顕微鏡 (EFM)、走査ケルビン顕微鏡 (KPFM)、圧電フォース顕微鏡 (PFM)、走査容量原子間力顕微鏡 (SCM)、磁気フォース顕微鏡 (MFM) を含む多機能測定
• オプションの導電性原子間力顕微鏡 (C-AFM) モードが利用可能
• 走査角度: 0〜360° (多様なサンプル分析用)
• 走査速度: 0.1 Hz〜30 Hz (さまざまなイメージング速度に対応)
• 走査方法: XYZ 3軸フルサンプルスキャン (包括的な表面特性評価を保証)
• マルチモード測定機能を備えたナノスケール特性評価プラットフォームとして機能

技術的パラメータ:

アプリケーション:

中国発のTruth Instruments AtomEdge Pro原子間力顕微鏡 (AFM) は、原子分解能イメージングとナノメカニカル試験機能を提供するように設計された、最先端の科学機器です。0.1 Hzから30 Hzまでの高度な走査速度と完全な0〜360°の走査角度により、非常に正確で柔軟なサンプル分析が可能になります。AtomEdge Proは、直径25 mmまでのサンプルに対応しており、幅広い研究および産業用途に適しています。

この多用途AFMモデルは、静電フォース顕微鏡 (EFM)、走査ケルビン探針顕微鏡 (KPFM)、圧電フォース顕微鏡 (PFM)、走査容量顕微鏡 (SCM)、磁気フォース顕微鏡 (MFM) を提供する多機能測定に優れています。さらに、オプションの導電性原子間力顕微鏡 (C-AFM) をサポートしているため、詳細な電気的特性分析に最適です。これらの機能により、AtomEdge Proは、材料科学、半導体技術、ナノテクノロジー開発に焦点を当てた研究環境に非常に適しています。

学術研究室および産業研究室では、AtomEdge Proは、ナノスケールでの機械的特性を非常に高い精度で探求できるナノメカニカル試験によく利用されています。XY方向 (0.02%) およびZ方向 (0.08%) の低非線形性により、信頼性が高く再現性のある測定が保証され、生体材料研究、ポリマー分析、表面工学などの高精度アプリケーションに不可欠です。原子分解能イメージング機能により、詳細な表面特性評価が可能になり、新しい材料の開発と製造プロセスの改善に不可欠です。

AFMの多機能測定オプションと適応性により、詳細な表面電位と磁気特性マッピングが必要なエレクトロニクスにおいても同様に価値があります。たとえば、KPFMおよびEFMモードは、マイクロ電子部品の電荷分布と静電力を研究しやすくし、デバイスの最適化と故障分析に役立ちます。一方、PFMおよびMFMモードは、圧電材料および磁性材料の研究をサポートし、センサーおよびメモリデバイスの進歩に貢献します。

全体として、Truth Instruments AtomEdge Pro原子間力顕微鏡は、ナノサイエンスの基礎研究から産業界の実用的なアプリケーションまで、幅広いアプリケーションシナリオ向けに設計された、強力で柔軟なツールです。原子分解能、多機能測定機能、堅牢な設計の組み合わせにより、最新のナノメカニカル試験および表面特性評価タスクの厳しいニーズを満たすことが保証されます。