উচ্চ নির্ভুলতার ন্যানোস্কেল উপকরণ চরিত্রায়নের জন্য কম গোলমাল Z- অক্ষ

পণ্যের বর্ণনাঃ

এটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এএফএম) একটি উন্নত, অল-ইন-ওয়ান এএফএম সিস্টেম যা ন্যানোস্কেল ইমেজিং এবং পরিমাপের জন্য অতুলনীয় নির্ভুলতা এবং বহুমুখিতা প্রদানের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে।এক্সওয়াইজেড তিন-অক্ষ পূর্ণ নমুনা স্ক্যান পদ্ধতি ব্যবহার করে, এই এএফএমটি তিনটি স্থানিক মাত্রায় নমুনা জুড়ে চলাচলের সম্পূর্ণ স্বাধীনতা প্রদান করে বিস্তৃত এবং সঠিক পৃষ্ঠ বিশ্লেষণের অনুমতি দেয়।এই ক্ষমতা জটিল নমুনা টপোগ্রাফি উচ্চ রেজোলিউশনের ইমেজিং এবং বিস্তারিত চরিত্রগত নিশ্চিত করেএটি ন্যানোটেকনোলজি, উপাদান বিজ্ঞান এবং অর্ধপরিবাহী শিল্পে কাজ করা গবেষক এবং প্রকৌশলীদের জন্য একটি অপরিহার্য হাতিয়ার।

এই এএফএমের অন্যতম উল্লেখযোগ্য বৈশিষ্ট্য হল এর বহুমুখী পরিমাপ ক্ষমতা। এটি একটি একক প্ল্যাটফর্মে বেশ কয়েকটি বিশেষায়িত মাইক্রোস্কোপি কৌশলকে একীভূত করে।ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (ইএফএম) সহ, স্ক্যানিং কেলভিন প্রোব ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (কেপিএফএম), পাইজো ইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (পিএফএম), স্ক্যানিং ক্যাপাসিটিভ মাইক্রোস্কোপি (এসসিএম), এবং চৌম্বকীয় শক্তি মাইক্রোস্কোপি (এমএফএম) ।এই কার্যকারিতা ব্যবহারকারীদের পৃষ্ঠ চার্জ বন্টন মত শারীরিক বৈশিষ্ট্য বিস্তৃত তদন্ত করতে অনুমতি দেয়, বৈদ্যুতিক সম্ভাব্যতা পরিবর্তন, পাইজো ইলেকট্রিক প্রতিক্রিয়া, ক্যাপাসিটেন্স পরিবর্তন, এবং চৌম্বকীয় ডোমেন কাঠামো। অতিরিক্তভাবে, কন্ডাকটিভ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপির জন্য একটি ঐচ্ছিক মডিউল রয়েছে (সি-এএফএম),যা ন্যানোস্কেল এ বর্তমান ম্যাপিং এবং বৈদ্যুতিক পরিবাহিতা পরিমাপ সক্ষম করে সিস্টেমের কার্যকারিতা আরও প্রসারিত করে।

এই এএফএমের ইমেজিং পারফরম্যান্স ব্যতিক্রমী, 32*32 থেকে 4096*4096 পর্যন্ত ইমেজ স্যাম্পলিং পয়েন্ট সমর্থন করে।এই বিস্তৃত পরিসীমা বিভিন্ন অ্যাপ্লিকেশনের নির্দিষ্ট প্রয়োজনীয়তার জন্য নমনীয় চিত্রের রেজোলিউশনের অনুমতি দেয়উচ্চ নমুনা ঘনত্ব নিশ্চিত করে যে এমনকি সূক্ষ্মতম পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্যগুলিও অসাধারণ স্পষ্টতা এবং নির্ভুলতার সাথে ধরা যেতে পারে।

সুনির্দিষ্ট পৃষ্ঠের পরিমাপ অর্জনের জন্য এএফএম অপারেশনে অতি-নিম্ন গোলমালের স্তর বজায় রাখা অত্যন্ত গুরুত্বপূর্ণ এবং এই সিস্টেমটি এই ক্ষেত্রে Z- অক্ষের গোলমালের মাত্রা 0.04 এনএম হিসাবে কম দিয়ে অসামান্য।এই ধরনের ন্যূনতম গোলমাল হস্তক্ষেপ উল্লম্ব স্থানচ্যুতি পরিমাপ উচ্চ নির্ভুলতা গ্যারান্টি, যা সংগৃহীত তথ্যের নির্ভরযোগ্যতা এবং পুনরুত্পাদনযোগ্যতার ক্ষেত্রে অবদান রাখে। এটি অ-যোগাযোগ এএফএম মোডগুলির জন্য বিশেষভাবে গুরুত্বপূর্ণ,যেখানে পয়েন্ট-প্রোব্লের পারস্পরিক ক্রিয়া শক্তি অত্যন্ত সংবেদনশীল এবং পরিবেশগত ব্যাঘাতের জন্য সংবেদনশীল.

এএফএম এছাড়াও 0 থেকে 360 ডিগ্রি পর্যন্ত স্ক্যানিং কোণ পরিসীমা বৈশিষ্ট্য, ইমেজিং এবং বিশ্লেষণের সময় সম্পূর্ণ ঘূর্ণন স্বাধীনতা প্রদান করে।এই পূর্ণ কৌণিক ক্ষমতা ব্যবহারকারীদের যে কোন দিক থেকে নমুনা নির্দেশ এবং পরীক্ষা করতে পারবেন, যা ম্যানুয়ালি নমুনা পুনরায় স্থাপন করার প্রয়োজন ছাড়াই বিস্তৃত পৃষ্ঠের চরিত্রগতকরণ এবং অ্যানিসোট্রপিক বৈশিষ্ট্য বা দিকনির্দেশক ঘটনাগুলির অধ্যয়নকে সক্ষম করে।

যোগাযোগহীন এএফএম হিসাবে, এই সিস্টেমটি পরিমাপের সময় শারীরিকভাবে পৃষ্ঠকে স্পর্শ না করে কাজ করে পিনের পরিধান এবং নমুনার ক্ষতি হ্রাস করে। এই মোডটি নরম, সূক্ষ্ম,অথবা সহজে বিকৃত উপাদান, তাদের অখণ্ডতা বজায় রেখে এখনও বিস্তারিত ন্যানোস্কেল তথ্য প্রদান করে।যোগাযোগহীন অপারেশন এবং মাল্টিফাংশনাল পরিমাপ মোডের সমন্বয় এই এএফএমকে বৈজ্ঞানিক গবেষণার বিস্তৃত পরিসরের জন্য একটি বহুমুখী এবং শক্তিশালী সরঞ্জাম করে তোলে.

সংক্ষেপে, এই অল-ইন-ওয়ান এএফএম উচ্চ-নির্ভুল ন্যানোস্কেল ইমেজিং এবং মাল্টিফাংশনাল সম্পত্তি পরিমাপের জন্য একটি শক্তিশালী সমাধান সরবরাহ করে। এর XYZ তিন-অক্ষ পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং পদ্ধতি,ইন্টিগ্রেটেড মাইক্রোস্কোপি কৌশল বিস্তৃত স্যুট, উচ্চ-রেজোলিউশনের ইমেজিং ক্ষমতা, অতি-নিম্ন Z- অক্ষ শব্দ স্তর,এবং সম্পূর্ণ ৩৬০ ডিগ্রি স্ক্যানিং কোণ এটিকে উন্নত গবেষণা এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশনের জন্য তৈরি একটি অত্যাধুনিক যন্ত্র করে তোলে।আপনি ন্যানো স্কেল এ বৈদ্যুতিক, চৌম্বকীয়, যান্ত্রিক, বা piezoelectric বৈশিষ্ট্য অধ্যয়ন করা হয় কিনা,এই এএফএম সিস্টেম বৈজ্ঞানিক আবিষ্কারের সীমানা প্রসারিত করার জন্য প্রয়োজনীয় কর্মক্ষমতা এবং নমনীয়তা প্রদান করে.

বৈশিষ্ট্যঃ

• পণ্যের নামঃ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (অল ইন ওয়ান এএফএম)
• Z-Axis Noise Level: উচ্চ নির্ভুলতার পরিমাপের জন্য 0.04 Nm
• ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (ইএফএম), স্ক্যানিং কেলভিন মাইক্রোস্কোপ (কেপিএফএম), পাইজো ইলেক্ট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (পিএফএম), স্ক্যানিং ক্যাপাসিটিভ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এসসিএম) সহ মাল্টিফাংশনাল পরিমাপ,চৌম্বকীয় শক্তি মাইক্রোস্কোপ (এমএফএম)
• অপশনাল কন্ডাক্টিভ অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (সি-এএফএম) মোড উপলব্ধ
• স্ক্যানিং কোণঃ 0 ~ 360 ° বহুমুখী নমুনা বিশ্লেষণের জন্য
• স্ক্যানিং রেটঃ বিভিন্ন ইমেজিং গতির জন্য 0.1 Hz থেকে 30 Hz
• স্ক্যানিং পদ্ধতিঃ এক্সওয়াইজেড ত্রি-অক্ষ পূর্ণ নমুনা স্ক্যানিং যা বিস্তৃত পৃষ্ঠের বৈশিষ্ট্য নিশ্চিত করে
• মাল্টি-মোড পরিমাপের ক্ষমতা সহ ন্যানোস্কেল চরিত্রায়ন প্ল্যাটফর্ম হিসাবে কাজ করে

টেকনিক্যাল প্যারামিটারঃ

অ্যাপ্লিকেশনঃ

ট্রুথ ইনস্ট্রুমেন্টস অ্যাটম এজ প্রো অ্যাটমিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপ (এএফএম), চীন থেকে,এটি একটি আধুনিক বৈজ্ঞানিক যন্ত্র যা পারমাণবিক রেজোলিউশনের ইমেজিং এবং ন্যানোমেকানিকাল পরীক্ষার ক্ষমতা প্রদানের জন্য ডিজাইন করা হয়েছেএর উন্নত স্ক্যানিং রেট 0.1 Hz থেকে 30 Hz পর্যন্ত এবং একটি পূর্ণ 0 ~ 360 ° স্ক্যানিং কোণ অত্যন্ত সুনির্দিষ্ট এবং নমনীয় নমুনা বিশ্লেষণ সক্ষম করে।AtomEdge Pro ব্যাসার্ধ 25 মিমি পর্যন্ত নমুনার সাথে সামঞ্জস্যপূর্ণ, যা এটিকে বিভিন্ন ধরণের গবেষণা এবং শিল্প অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্য উপযুক্ত করে তোলে।

এই বহুমুখী এএফএম মডেলটি মাল্টিফাংশনাল পরিমাপে অসামান্য, ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (ইএফএম), স্ক্যানিং কেলভিন প্রোব মাইক্রোস্কোপি (কেপিএফএম), পাইজো ইলেকট্রিক ফোর্স মাইক্রোস্কোপি (পিএফএম),স্ক্যানিং ক্যাপাসিটিভ মাইক্রোস্কোপ (এসসিএম)এছাড়াও, এটি ঐচ্ছিক পরিবাহী পারমাণবিক শক্তি মাইক্রোস্কোপ (সি-এএফএম) সমর্থন করে, এটি গভীর বৈদ্যুতিক বৈশিষ্ট্য বিশ্লেষণের জন্য আদর্শ করে তোলে।এই বৈশিষ্ট্যগুলি অ্যাটম এজ প্রোকে উপাদান বিজ্ঞানকে কেন্দ্র করে গবেষণা পরিবেশের জন্য অত্যন্ত উপযুক্ত করে তোলে, অর্ধপরিবাহী প্রযুক্তি, এবং ন্যানো প্রযুক্তি উন্নয়ন।

একাডেমিক এবং শিল্প গবেষণাগারে, AtomEdge Pro প্রায়শই ন্যানোমেকানিক্যাল পরীক্ষার জন্য ব্যবহার করা হয়, যা বিজ্ঞানীদের ব্যতিক্রমী নির্ভুলতার সাথে ন্যানোস্কেল এ যান্ত্রিক বৈশিষ্ট্যগুলি অন্বেষণ করতে দেয়.এক্সওয়াই দিকের (0.02%) এবং জেড দিকের (0.08%) এর নিম্ন অ-রৈখিকতা নির্ভরযোগ্য এবং পুনরুত্পাদনযোগ্য পরিমাপ নিশ্চিত করে, যা বায়োমেটরিয়াল গবেষণার মতো উচ্চ-নির্ভুল অ্যাপ্লিকেশনগুলির জন্য গুরুত্বপূর্ণ,পলিমার বিশ্লেষণপারমাণবিক রেজোলিউশনের ইমেজিং ক্ষমতা নতুন উপকরণ বিকাশ এবং উত্পাদন প্রক্রিয়া উন্নত করার জন্য অপরিহার্য, বিস্তারিত পৃষ্ঠ বৈশিষ্ট্যাবলী সক্ষম।

এএফএম এর বহুমুখী পরিমাপের বিকল্প এবং অভিযোজনযোগ্যতা এটিকে ইলেকট্রনিক্সের ক্ষেত্রে সমানভাবে মূল্যবান করে তোলে, যেখানে বিস্তারিত পৃষ্ঠের সম্ভাব্যতা এবং চৌম্বকীয় বৈশিষ্ট্য মানচিত্রের প্রয়োজন হয়। উদাহরণস্বরূপ,কেপিএফএম এবং ইএফএম মোডগুলি মাইক্রো ইলেকট্রনিক উপাদানগুলির উপর চার্জ বিতরণ এবং ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক বাহিনী অধ্যয়নকে সহজ করে তোলে, ডিভাইস অপ্টিমাইজেশান এবং ব্যর্থতা বিশ্লেষণে সহায়তা করে। এদিকে, পিএফএম এবং এমএফএম মোডগুলি পিজো ইলেকট্রিক এবং চৌম্বকীয় উপকরণগুলির তদন্তকে সমর্থন করে,সেন্সর এবং মেমরি ডিভাইসের অগ্রগতিতে অবদান.

সামগ্রিকভাবে, the Truth Instruments AtomEdge Pro Atomic Force Microscope is a powerful and flexible tool designed for a broad range of application scenarios—from fundamental research in nanoscience to practical applications in industryএর পরমাণু রেজোলিউশন, মাল্টিফাংশনাল পরিমাপ ক্ষমতা,এবং শক্তিশালী নকশা এটি আধুনিক nanomechanical পরীক্ষা এবং পৃষ্ঠ চরিত্রগতকরণ কাজগুলির চাহিদা পূরণ করে তা নিশ্চিত করে.