Veelzijdige AFM-oplossingen voor onderwijs en industrieel onderzoek

Productbeschrijving:

De basis-type atoomkrachtmicroscoop (AFM) is een geavanceerd laboratorium-AFM-apparatuur dat is ontworpen om te voldoen aan de strenge eisen van wetenschappelijk onderzoek.veelzijdigheidMet zijn superieure prestaties en multifunctionele mogelijkheden is het een ideale keuze voor onderzoekers die een gedetailleerde oppervlaktanalyse op nanoschaal nodig hebben.het AFM van het basistype is ontworpen om een uitgebreid inzicht te geven in de materiaal eigenschappen voor een breed scala van toepassingen.

Een van de opvallende kenmerken van deze AFM voor wetenschappelijk onderzoek is het uitzonderlijke geluidsniveau van slechts 0,04 nm.Dit ultralage geluidsniveau zorgt voor zeer nauwkeurige oppervlaktetope-, waardoor onderzoekers zelfs de meest subtiele variaties in de steekproefoppervlakken kunnen vastleggen.die cruciaal is voor geavanceerde nanotechnologische studies en materiaalkarakterisering.

De AFM van het basistype biedt flexibele scanningsafstanden om aan verschillende steekproefgroottes en onderzoeksvereisten te voldoen.100 μm * 100 μm * 10 μm en 30 μm * 30 μm * 5 μm, waardoor gebruikers de optimale schaal voor hun specifieke experiment kunnen kiezen.van grootschalige oppervlaktefuncties tot kleine nanoschaalstructuren, waardoor de toepasbaarheid ervan in meerdere wetenschappelijke disciplines toeneemt.

Veiligheid en de integriteit van monsters zijn van het grootste belang bij elke microscopische techniek, en deze AFM-microscoop is op dit gebied uitstekend met zijn innovatieve Tip Protection-technologie.De veilige naaldinvoegmodus beschermt de kantelspits tijdens de steekproefbenadering en -scanDeze technologie verhoogt de operationele efficiëntie door stilstandstijden en onderhoudskosten tot een minimum te beperken.Dit is vooral gunstig in drukke onderzoekslaboratoria..

Naast de standaard atomaire krachtmicroscopie ondersteunt de AFM van het Basic-type een breed scala aan multifunctionele metingen, waardoor het een veelzijdig hulpmiddel is voor uitgebreide oppervlaktanalyse.Het integreert elektrostatische krachtmicroscopie (EFM) voor het onderzoeken van elektrische eigenschappen, Scanning Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) voor het meten van oppervlaktepotentieel, Piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM) voor het bestuderen van piezo-elektrische materialen,en magnetische krachtmicroscopie (MFM) voor beeldvorming van het magnetisch domeinDeze mogelijkheden stellen onderzoekers in staat om complexe, multi-parameteronderzoeken uit te voeren zonder de noodzaak van meerdere instrumenten.

De afbeeldingspunten van de AFM van het Basic-type variëren van 32 * 32 tot een indrukwekkende 4096 * 4096, met uitzonderlijke resolutie en detail in de vastgelegde beelden.Dit brede scala aan bemonsteringsmogelijkheden stelt wetenschappers in staat om een evenwicht te vinden tussen beeldsnelheid en resolutie volgens hun experimentele behoeftenHoogresolutieafbeeldingen zijn essentieel voor gedetailleerde oppervlaktemorfologieonderzoeken, terwijl lagere resoluties kunnen worden gebruikt voor snelle scanning van grotere gebieden.

Kortom, de Atomic Force Microscope is een krachtige en betrouwbare laboratorium AFM-apparatuur ontworpen voor geavanceerd wetenschappelijk onderzoek.veelzijdige scanbereiken, innovatieve puntbescherming, multifunctionele meetmodi en hoge-resolutieafbeeldingsmogelijkheden maken het gezamenlijk een onmisbaar hulpmiddel voor nanoscience- en materiaalwetenschapslaboratoria.Of u nu elektrische eigenschappen onderzoekt, magnetische domeinen, piezo-elektrische effecten, of gewoon het in kaart brengen van de oppervlaktetopeografie, deze AFM Microscoop biedt de precisie en flexibiliteit die nodig is om uw onderzoek te bevorderen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope van basistype
• AFM met hoge stabiliteit voor betrouwbare en nauwkeurige metingen
• Multifunctionele metingen, waaronder elektrostatische krachtimicroscoop (EFM), scanning Kelvin microscoop (KPFM), piezo-elektrische krachtimicroscoop (PFM) en magnetische krachtimicroscoop (MFM)
• Technologie voor het beschermen van de punt met veilige naaldinvoeging om schade te voorkomen
• Laag geluidsniveau op de Z-as van 0,04 Nm dat zorgt voor nauwkeurige nano-schaal topografiebeelden
• XYZ Drie-assige volledige-monster-scanmethode voor uitgebreide oppervlaktanalyse
• Ondersteunt monstergroottes tot Φ 25 mm
• Ideale laboratorium-AFM-apparatuur voor geavanceerd onderzoek en ontwikkeling

Technische parameters:

Toepassingen:

De Basic Atomic Force Microscope, model AtomExplorer, van Truth Instruments, is een geavanceerd en toch gebruiksvriendelijk instrument dat is ontworpen voor een breed scala aan wetenschappelijke en industriële toepassingen.van oorsprong uit China, is deze Atomic Force Microscope ideaal voor onderzoekers, ingenieurs en professionals in kwaliteitscontrole die een nauwkeurige oppervlakkenkarakterisering op nanoschaal nodig hebben.Met een veelzijdig scanbereik van 100 μm*100 μm*10 μm en 30 μm*30 μm*5 μmHet is geschikt voor het bestuderen van diverse materialen, waaronder halfgeleiders, polymeren, biologische monsters en nanostructuren.

Een van de opvallende kenmerken van de AtomExplorer Basic Atomic Force Microscope is de tip protection technologie, met name de Safe Needle Insertion Mode.Deze technologie zorgt voor de levensduur en betrouwbaarheid van de AFM-spits tijdens de steekproefbenadering en -scan, waardoor het risico op beschadiging wordt verminderd en stabiele metingen over langere perioden mogelijk worden gemaakt.Dit maakt het een uitstekende keuze voor gevoelige monsters of omgevingen waar precisie en monsternegteheid van het grootste belang zijn.

De multifunctionele meetmogelijkheden van deze atoomkrachtmicroscoop vergroten de bruikbaarheid ervan tot buiten de standaard topografische beeldvorming.Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM)Met behulp van de nieuwe technologieën, zoals piezo-elektrische krachtmicroscopie (PFM) en magnetische krachtmicroscopie (MFM), kunnen gebruikers uitgebreide oppervlaktepotentialen, piezo-elektrische en magnetische eigenschappen analyseren.Deze multifunctionaliteit positioneert de AtomExplorer als een veelzijdig instrument voor materiaalwetenschappen, nanotechnologieonderzoek en ontwikkeling van elektronische apparaten.

Met zijn flexibele beeldsampelingpunten, variërend van 32*32 tot 4096*4096, kunnen gebruikers de resolutie en de scansnelheid aanpassen aan specifieke onderzoeksbehoeften.het leveren van gedetailleerde afbeeldingen met een hoge nauwkeurigheidDe gebruiksgemak van de Basic Atomic Force Microscope, gecombineerd met zijn geavanceerde functies, maakt het geschikt voor academische laboratoria, industriële onderzoeks- en ontwikkelingscentra,en kwaliteitsbewakingsdiensten die op zoek zijn naar betrouwbare nanoschaal oppervlakkencharakterisatie.

Aangezien de prijs onderhandelbaar is, worden potentiële kopers aangemoedigd om contact op te nemen met Truth Instruments voor een gedetailleerde offerte die is afgestemd op hun specifieke behoeften.productontwikkeling, of voor educatieve doeleinden, biedt de AtomExplorer Atomic Force Microscope een overtuigende oplossing die prestaties, betaalbaarheid en veelzijdigheid in evenwicht brengt.