AtomExplorer: AFM personnalisable pour les mesures magnétiques et électriques avancées

Description du produit :

Le microscope à force atomique (AFM) de type basique est un instrument polyvalent et hautes performances conçu pour fournir une imagerie topographique précise à l'échelle nanométrique pour un large éventail d'applications de recherche et industrielles. Conçu avec une technologie de pointe, ce modèle AFM offre des capacités d'imagerie exceptionnelles qui permettent aux utilisateurs d'explorer les structures de surface à l'échelle nanométrique avec une clarté et une précision remarquables. Sa conception robuste prend en charge des solutions AFM personnalisables pour répondre aux divers besoins des scientifiques, des ingénieurs et des chercheurs en matériaux.

L'une des caractéristiques les plus remarquables de l'AFM de type Basic réside dans ses points d'échantillonnage d'image flexibles, allant de 32*32 jusqu'à un impressionnant 4096*4096. Cette gamme étendue permet aux utilisateurs d'ajuster la résolution et le champ de vision en fonction de leurs besoins spécifiques, permettant ainsi une analyse détaillée des caractéristiques de surface à l'échelle nanométrique. Qu'il s'agisse d'enquêtes rapides ou d'examens approfondis, l'AFM offre des performances d'imagerie optimales sans compromettre la vitesse ou la précision.

La méthode de balayage utilisée par cet AFM est une technique sophistiquée de balayage d'échantillon complet à trois axes XYZ. Cette approche garantit une couverture complète de la surface de l’échantillon en contrôlant avec précision le mouvement dans les trois dimensions spatiales. La capacité de numérisation d’échantillons complets facilite une cartographie approfondie des surfaces, capturant chaque nuance de la topographie à l’échelle nanométrique. Cela fait de l’AFM de type Basic un choix idéal pour les applications nécessitant une caractérisation méticuleuse des surfaces.

Les modes de fonctionnement sont cruciaux pour adapter les fonctionnalités de l’AFM aux différents types d’échantillons et objectifs expérimentaux. L'AFM de type basique prend en charge plusieurs modes de fonctionnement, notamment le mode Tap, le mode Contact, le mode Lift et le mode d'imagerie de phase. Le mode Tap est particulièrement utile pour les échantillons mous ou délicats, minimisant les dommages tout en conservant une imagerie haute résolution. Le mode Contact offre une interaction directe avec la surface de l'échantillon pour des mesures robustes, tandis que le mode Lift permet un balayage sans contact pour analyser les forces de surface sans interférence. Le mode d'imagerie de phase fournit un contraste supplémentaire basé sur les propriétés des matériaux, améliorant ainsi la capacité de distinguer les différents composants de surface.

Au-delà de l’imagerie topographique, l’AFM de type Basic est équipé de capacités de mesure multifonctionnelles, élargissant considérablement son utilité. Il intègre des techniques avancées telles que la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à force à sonde Kelvin (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM) et la microscopie à force magnétique (MFM). Ces fonctionnalités permettent aux chercheurs d’étudier les propriétés électriques, piézoélectriques et magnétiques à l’échelle nanométrique, facilitant ainsi la caractérisation complète des matériaux. Cette polyvalence multifonctionnelle fait de l’AFM de type Basic un outil indispensable pour la recherche et le développement multidisciplinaire.

Un autre paramètre de performance critique est le niveau de bruit sur l’axe Z, qui a un impact direct sur la sensibilité et la précision des mesures verticales. L'AFM de type Basic présente un niveau de bruit incroyablement faible sur l'axe Z de 0,04 nm, garantissant que les variations infimes de la hauteur de la surface sont détectées avec précision. Ce faible seuil de bruit améliore la fiabilité de l’imagerie topographique à l’échelle nanométrique et de l’analyse quantitative de surface, permettant aux utilisateurs de faire confiance aux données générées par le microscope.

En résumé, le microscope à force atomique de type basique offre une puissante combinaison d’imagerie topographique à haute résolution à l’échelle nanométrique, de techniques de numérisation avancées et de modes de fonctionnement polyvalents. Ses solutions AFM personnalisables répondent à un large éventail de recherches scientifiques, fournissant des informations fiables et détaillées sur la morphologie des surfaces et les propriétés des matériaux. Que ce soit pour la recherche universitaire, le contrôle qualité industriel ou le développement de matériaux innovants, ce modèle AFM est conçu pour offrir des performances et une adaptabilité exceptionnelles.

En intégrant un échantillonnage d'images précis, des méthodes de numérisation complètes, des modes de mesure multifonctionnels et des niveaux de bruit ultra-faibles, l'AFM de type basique se distingue comme un instrument de premier plan pour la caractérisation des surfaces à l'échelle nanométrique. Sa capacité à fournir une imagerie topographique détaillée à l’échelle nanométrique et une analyse multifonctionnelle en fait un outil essentiel pour repousser les limites de la nanotechnologie et de la science des matériaux.

Caractéristiques:

• Nom du produit : microscope à force atomique de type basique.
• Points d'échantillonnage d'image : 32*32 à 4096*4096
• Taille de l'échantillon : Φ 25 mm
• Méthode de numérisation : numérisation d'un échantillon complet à trois axes XYZ
• Niveau de bruit sur l'axe Z : 0,04 Nm
• Modes de fonctionnement : mode Tap, mode Contact, mode Lift, mode d'imagerie de phase
• Prend en charge l'analyse de la texture de la surface pour une caractérisation détaillée des matériaux
• Capable de microscopie à force électrostatique (EFM) pour la cartographie des propriétés électriques
• Inclut la fonctionnalité Kelvin Probe Force Microscopy pour la mesure du potentiel de surface

Paramètres techniques :

Applications :

L'AtomExplorer de Truth Instruments est un microscope à force atomique (AFM) polyvalent de type basique conçu pour un large éventail d'occasions et de scénarios d'application. Originaire de Chine, ce microscope avancé offre des performances exceptionnelles aux professionnels engagés dans l’analyse de nanostructures et l’imagerie topographique à l’échelle nanométrique. Avec son niveau de bruit précis sur l'axe Z de seulement 0,04 Nm et sa technologie innovante de protection de la pointe avec mode d'insertion sécurisée de l'aiguille, l'AtomExplorer garantit un fonctionnement fiable et sans dommage lors des mesures sensibles.

Dans les environnements de recherche et développement industriels, l'AtomExplorer sert de puissant microscope de R&D industriel, permettant aux scientifiques et aux ingénieurs d'explorer les matériaux à l'échelle nanométrique en toute confiance. Ses options complètes de plage de numérisation de 100 μm * 100 μm * 10 μm et 30 μm * 30 μm * 5 μm s'adaptent à diverses tailles d'échantillons et résolutions, ce qui le rend idéal pour les applications allant de l'inspection des semi-conducteurs à la science avancée des matériaux.

Le microscope prend en charge plusieurs modes de fonctionnement, notamment le mode Tap, le mode Contact, le mode Lift et le mode d'imagerie de phase, offrant ainsi la flexibilité d'adapter les techniques d'imagerie aux caractéristiques spécifiques de l'échantillon. De plus, les capacités de mesure multifonctionnelles de l'AtomExplorer améliorent son utilité en intégrant la microscopie à force électrostatique (EFM), la microscopie à sonde Kelvin à balayage (KPFM), la microscopie à force piézoélectrique (PFM) et la microscopie à force magnétique (MFM). Ces modes avancés permettent une analyse complète des propriétés de surface au-delà de la simple topographie, comme les comportements électriques, piézoélectriques et magnétiques à l'échelle nanométrique.

Les applications typiques d'AtomExplorer incluent les laboratoires de recherche universitaires axés sur la nanotechnologie, le contrôle de qualité industriel pour la fabrication de composants à l'échelle nanométrique et les recherches en science des matériaux nécessitant une caractérisation détaillée des surfaces. Il convient également à la recherche pharmaceutique pour analyser les systèmes d'administration de médicaments et aux études du secteur de l'énergie impliquant de nouveaux nanomatériaux. Le prix de cet AFM de pointe est négociable et les utilisateurs potentiels sont encouragés à contacter Truth Instruments pour un devis détaillé adapté à leurs besoins spécifiques.

En résumé, le microscope à force atomique de type Basic AtomExplorer de Truth Instruments est un outil indispensable pour tout environnement exigeant une analyse de nanostructure de haute précision et une imagerie topographique à l'échelle nanométrique. Ses fonctionnalités robustes, ses modes de fonctionnement flexibles et ses capacités de mesure multifonctionnelles en font un excellent choix pour la R&D industrielle et au-delà.