AtomExplorer: AFM personalizable para mediciones magnéticas y eléctricas avanzadas

Descripción del producto:

The Basic-type Atomic Force Microscope (AFM) is a versatile and high-performance instrument designed to deliver precise nanoscale topography imaging for a wide range of research and industrial applicationsDiseñado con tecnología avanzada,Este modelo AFM ofrece capacidades de imagen excepcionales que permiten a los usuarios explorar estructuras superficiales a escala nanométrica con notable claridad y precisiónSu diseño robusto admite soluciones AFM personalizables para satisfacer las diversas necesidades de científicos, ingenieros e investigadores de materiales.

Una de las características más destacadas del AFM de tipo básico es su punto de muestreo de imagen flexible, que va desde 32*32 hasta un impresionante 4096*4096.Este amplio rango permite a los usuarios ajustar la resolución y el campo de visión de acuerdo con sus necesidades específicas, que permite el análisis detallado de las características de las superficies a nanoescala.el AFM proporciona un rendimiento óptimo de la imagen sin comprometer la velocidad o la precisión.

El método de escaneo empleado por este AFM es una sofisticada técnica de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ.Este enfoque garantiza una cobertura completa de la superficie de la muestra mediante el control preciso del movimiento en las tres dimensiones espaciales.La capacidad de escaneo de muestra completa facilita un mapeo exhaustivo de la superficie, capturando cada matiz de la topografía a nanoescala.Esto hace que el AFM de tipo básico sea una opción ideal para aplicaciones que requieren una caracterización meticulosa de la superficie.

Los modos operativos son cruciales para adaptar la funcionalidad del AFM a diferentes tipos de muestras y objetivos experimentales.Modo de contactoEl modo Tap es particularmente útil para muestras blandas o delicadas, minimizando el daño mientras se mantiene la imagen de alta resolución.Modo de contacto ofrece interacción directa con la superficie de la muestra para mediciones robustas, mientras que el modo de elevación permite el escaneo sin contacto para analizar las fuerzas superficiales sin interferencias.mejora de la capacidad de distinguir entre los diferentes componentes de la superficie.

Más allá de la toma de imágenes topográficas, el AFM de tipo Basic está equipado con capacidades de medición multifuncionales, lo que amplía significativamente su utilidad.Incluye técnicas avanzadas como la microscopía de fuerzas electrostáticas (EFM)., la microscopía de fuerza de sonda de escaneo de Kelvin (KPFM), la microscopía de fuerza piezoeléctrica (PFM) y la microscopía de fuerza magnética (MFM).piezoeléctricos, y propiedades magnéticas a nanoescala, facilitando la caracterización integral del material.Esta versatilidad multifuncional hace del AFM de tipo Basic una herramienta indispensable para la investigación y el desarrollo multidisciplinar.

Otro parámetro de rendimiento crítico es el nivel de ruido del eje Z, que afecta directamente a la sensibilidad y precisión de las mediciones verticales.El AFM de tipo básico cuenta con un nivel de ruido del eje Z impresionantemente bajo de 0Este umbral de ruido bajo mejora la fiabilidad de las imágenes de topografía a nanoescala y el análisis cuantitativo de la superficie,permitir a los usuarios confiar en los datos generados por el microscopio.

En resumen, el microscopio de fuerza atómica de tipo básico ofrece una poderosa combinación de imágenes topográficas a nanoescala de alta resolución, técnicas de escaneo avanzadas y modos operativos versátiles.Sus soluciones AFM personalizables atienden a un amplio espectro de investigaciones científicas, proporcionando información fiable y detallada sobre la morfología de la superficie y las propiedades de los materiales.Este modelo AFM está diseñado para ofrecer un rendimiento y una adaptabilidad excepcionales..

Al integrar muestras de imagen precisas, métodos de escaneo integrales, modos de medición multifuncionales y niveles de ruido ultrabajos,el AFM de tipo Basic se destaca como el principal instrumento para la caracterización de superficies a nanoescalaSu capacidad para proporcionar imágenes topográficas detalladas a nanoescala y análisis multifuncional lo convierte en una herramienta vital para ampliar los límites de la nanotecnología y la ciencia de materiales.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica de tipo básico
• Puntos de muestreo de imágenes: 32*32 a 4096*4096
• Tamaño de la muestra: Φ 25 mm
• Método de escaneo: escaneo de muestra completa en tres ejes XYZ
• Nivel de ruido del eje Z: 0,04 Nm
• Modo de funcionamiento: Modo de toque, Modo de contacto, Modo de elevación, Modo de imagen de fase
• Apoya el análisis de la textura de la superficie para la caracterización detallada del material
• Con capacidad para microscopía de fuerzas electrostáticas (EFM) para el mapeo de propiedades eléctricas
• Incluye la funcionalidad de microscopía de la fuerza de la sonda de Kelvin para la medición del potencial de superficie

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El Truth Instruments AtomExplorer es un microscopio de fuerza atómica (AFM) de tipo básico diseñado para una amplia gama de ocasiones y escenarios de aplicación.Este microscopio avanzado ofrece un rendimiento excepcional para los profesionales que se dedican al análisis de la nanoestructura y la toma de imágenes de topografía a nanoescala.Con su nivel de ruido preciso del eje Z de sólo 0,04 Nm y la innovadora tecnología de protección de punta con modo de inserción segura de la aguja,el AtomExplorer garantiza un funcionamiento fiable y sin daños durante mediciones sensibles.

En los entornos industriales de investigación y desarrollo, el AtomExplorer sirve como un poderoso microscopio industrial de I+D,permitiendo a los científicos e ingenieros explorar materiales a nanoescala con confianzaSus amplias opciones de rango de escaneo de 100 μm * 100 μm * 10 μm y 30 μm * 30 μm * 5 μm se adaptan a diversos tamaños y resoluciones de muestras.lo que lo hace ideal para aplicaciones que van desde la inspección de semiconductores hasta la ciencia avanzada de materiales.

El microscopio admite múltiples modos operativos, incluidos el modo Tap, el modo Contact, el modo Lift y el modo Phase Imaging.proporcionar flexibilidad para adaptar las técnicas de imagen a las características específicas de las muestrasAdemás, las capacidades de medición multifuncionales del AtomExplorer mejoran su utilidad al integrar la microscopía de fuerza electrostática (EFM), la microscopía de sonda de escaneo Kelvin (KPFM), la microscopía de fuerza electrostática (EFM) y la microscopía de sonda de escaneo (KPFM).Microscopía de fuerza piezoeléctrica (PFM)Estos modos avanzados permiten un análisis exhaustivo de las propiedades superficiales más allá de la mera topografía, como la eléctrica, piezoeléctrica,y comportamientos magnéticos a nanoescala.

Las ocasiones de aplicación típicas para el AtomExplorer incluyen laboratorios de investigación académica enfocados en nanotecnología, control de calidad industrial para la fabricación de componentes a nanoescala,Investigaciones en ciencias de los materiales que requieren una caracterización detallada de la superficieEs igualmente adecuado para la investigación farmacéutica para analizar los sistemas de administración de medicamentos y para los estudios del sector energético que involucran nuevos nanomateriales.Se anima a los usuarios potenciales a ponerse en contacto con Truth Instruments para obtener un presupuesto detallado adaptado a sus necesidades específicas..

En resumen,El microscopio de fuerza atómica de tipo básico de Truth Instruments AtomExplorer es una herramienta indispensable para cualquier entorno que requiera análisis de nanoestructura de alta precisión e imágenes topográficas a nanoescalaSus características robustas, modos de operación flexibles y capacidades de medición multifuncionales lo convierten en una excelente opción para la I+D industrial y más allá.