AtomExplorer: Microscopio de sonda de barrido (SPM/AFM) de alta precisión

Descripción del Producto:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de tipo Básico es un microscopio a nanoescala de vanguardia diseñado para proporcionar imágenes de alta precisión y capacidades de medición multifuncionales para una amplia gama de aplicaciones científicas e industriales. Este instrumento avanzado emplea un método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, lo que permite a los usuarios analizar meticulosamente las superficies de las muestras con una precisión y detalle excepcionales. Ya sea que esté realizando investigaciones en ciencia de materiales, biología o nanotecnología, este microscopio de fuerza atómica ofrece la versatilidad y el rendimiento necesarios para satisfacer sus exigentes requisitos.

Una de las características destacadas de este microscopio a nanoescala es su completa gama de modos de medición multifuncionales. Admite Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM). Esta gama de capacidades permite a los usuarios explorar no solo la topografía de las muestras, sino también sus propiedades eléctricas, piezoeléctricas y magnéticas. La inclusión de la Microscopía de Fuerza Magnética MFM es particularmente valiosa para los investigadores que estudian materiales magnéticos, películas delgadas y nanoestructuras, proporcionando información detallada sobre los dominios magnéticos y las interacciones a nanoescala.

Los modos de funcionamiento disponibles en este microscopio de fuerza atómica mejoran su adaptabilidad y facilidad de uso. Los usuarios pueden seleccionar entre el Modo Tap, el Modo Contacto, el Modo Lift y el Modo de Imagen de Fase, dependiendo de la naturaleza de sus muestras y del tipo de datos requeridos. El Modo Tap es ideal para obtener imágenes de muestras blandas o delicadas con un daño mínimo, mientras que el Modo Contacto ofrece imágenes de alta resolución para superficies más duras. El Modo Lift facilita mediciones sin contacto, como fuerzas magnéticas y electrostáticas, reduciendo el desgaste de la punta y la alteración de la muestra. El Modo de Imagen de Fase proporciona contraste adicional basado en las propiedades del material, lo que permite un mapeo composicional detallado.

Para garantizar la longevidad y la fiabilidad de la sonda del microscopio, el Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico incorpora una innovadora Tecnología de Protección de la Punta conocida como Modo de Inserción Segura de la Aguja. Esta característica minimiza el riesgo de daños en la punta durante la inserción y la configuración, lo cual es crucial para mantener una calidad de imagen consistente y reducir los costos operativos. El proceso de inserción segura de la aguja también simplifica la preparación de la muestra y el funcionamiento del microscopio, haciéndolo accesible tanto para usuarios experimentados como para aquellos que son nuevos en la microscopía de fuerza atómica.

La calidad y la resolución de la imagen son factores críticos en la microscopía a nanoescala, y este instrumento sobresale con un impresionante rango de muestreo de imagen de 32*32 a 4096*4096 puntos. Este amplio rango permite a los usuarios equilibrar la velocidad de escaneo y el detalle de la imagen de acuerdo con sus necesidades específicas, desde escaneos rápidos de visión general hasta imágenes de ultra alta resolución. La capacidad de muestreo de alta densidad asegura que incluso las características y variaciones superficiales más pequeñas se puedan capturar y analizar con precisión.

Para los investigadores y profesionales que buscan comprar un microscopio de fuerza atómica que combine versatilidad, precisión y características fáciles de usar, el Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico es una excelente opción. Su robusto sistema de escaneo, los modos de medición multifuncionales, incluida la Microscopía de Fuerza Magnética MFM, y la avanzada tecnología de protección de la punta ofrecen colectivamente una poderosa plataforma para la investigación a nanoescala. Ya sea que su enfoque esté en la investigación fundamental o en el desarrollo aplicado, este microscopio a nanoescala proporciona las herramientas esenciales para desbloquear nuevos conocimientos e impulsar la innovación.

En resumen, el Microscopio de Fuerza Atómica de tipo Básico se destaca como un instrumento confiable y multifuncional equipado con escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ, una variedad de modos de funcionamiento y capacidades de medición especializadas como EFM, KPFM, PFM y MFM. Su Modo de Inserción Segura de la Aguja garantiza la protección de la sonda, y el amplio rango de muestreo de imagen garantiza imágenes detalladas y precisas. Si desea comprar tecnología de microscopio de fuerza atómica que cumpla con los más altos estándares de análisis a nanoescala, este producto está diseñado para superar sus expectativas y respaldar sus esfuerzos de investigación con precisión y confianza.

Características:

• Nombre del producto: Microscopio de fuerza atómica de tipo básico
• AFM de resolución subnanométrica para un análisis preciso de la superficie
• Rango de escaneo: 100 µm * 100 µm * 10 µm / 30 µm * 30 µm * 5 µm
• Mediciones multifuncionales que incluyen Microscopio de fuerza electrostática (EFM), Microscopía de fuerza de sonda Kelvin (KPFM), Microscopio de fuerza piezoeléctrica (PFM) y Microscopio de fuerza magnética (MFM)
• Puntos de muestreo de imagen: de 32 * 32 hasta 4096 * 4096 para imágenes de alta resolución
• Método de escaneo de muestra completa de tres ejes XYZ para una cobertura completa de la superficie
• Modos de funcionamiento: Modo Tap, Modo Contacto, Modo Lift y Modo de Imagen de Fase
• AFM ideal para la investigación científica y la caracterización avanzada de la superficie de materiales

Parámetros técnicos:

Aplicaciones:

El Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) de tipo Básico AtomExplorer de Truth Instruments, originario de China, es un instrumento de medición multifuncional avanzado diseñado para una amplia gama de aplicaciones científicas e industriales. Con sus versátiles capacidades, que incluyen Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM), Microscopía de Sonda Kelvin (KPFM), Microscopía de Fuerza Piezoeléctrica (PFM) y Microscopía de Fuerza Magnética (MFM), este modelo de AFM ofrece soluciones integrales para la caracterización y el análisis de superficies a nanoescala.

El AtomExplorer es particularmente adecuado para laboratorios de investigación y desarrollo dedicados al análisis de nanoestructuras. Su AFM de resolución subnanométrica permite a los investigadores visualizar y medir la topografía de la superficie con una precisión excepcional, capturando puntos de muestreo de imagen que van desde 32*32 hasta 4096*4096. Esta alta resolución es esencial para estudiar nanomateriales delicados, películas delgadas y conjuntos moleculares complejos donde la información detallada de la superficie es crítica.

Además de las imágenes topográficas, la función de Microscopía de Fuerza Electroestática (EFM) del AtomExplorer permite a los científicos investigar las propiedades eléctricas a nanoescala, como la distribución de carga y las variaciones del potencial de la superficie. Esto lo convierte en una herramienta invaluable para la ciencia de materiales, la investigación de semiconductores y la nanoelectrónica, donde la comprensión de las interacciones electrostáticas es clave para el rendimiento y la innovación de los dispositivos.

Las opciones de rango de escaneo del instrumento de 100 µm*100 µm*10 µm y 30 µm*30 µm*5 µm se adaptan a una variedad de tamaños de muestra y necesidades de medición, con un tamaño máximo de muestra de Φ 25 mm. El bajo nivel de ruido del eje Z de 0,04 nm mejora aún más la precisión de la medición, lo que garantiza la adquisición de datos estable y confiable incluso en condiciones experimentales desafiantes.

El diseño compacto y la multifuncionalidad del AtomExplorer también lo hacen ideal para instituciones educativas y entornos de control de calidad donde se requiere versatilidad y precisión. El precio es negociable, lo que lo hace accesible a un amplio espectro de usuarios que buscan tecnología AFM de alto rendimiento sin comprometer las consideraciones presupuestarias.

En general, el AFM de tipo Básico AtomExplorer de Truth Instruments es una herramienta potente y flexible para cualquier persona involucrada en el análisis de nanoestructuras, la microscopía de fuerza electrostática (EFM) y otras técnicas avanzadas de sonda de escaneo. Permite a los usuarios explorar y cuantificar los fenómenos a nanoescala con confianza y claridad.