AtomExplorer: Hogeprecisie Scanning Probe Microscoop (SPM/AFM)

Productbeschrijving:

De Atomic Force Microscope van het basistype is een geavanceerde microscoop op nanoschaal, ontworpen om zeer nauwkeurige beeldvorming en multifunctionele meetmogelijkheden te bieden voor een breed scala aan wetenschappelijke en industriële toepassingen. Dit geavanceerde instrument maakt gebruik van een XYZ-drie-assige volledige-sample-scanningsmethode, waardoor gebruikers sample-oppervlakken nauwkeurig kunnen analyseren met uitzonderlijke precisie en detail. Of u nu onderzoek doet in de materiaalkunde, biologie of nanotechnologie, deze atomic force microscope biedt de veelzijdigheid en prestaties die nodig zijn om aan uw veeleisende eisen te voldoen.

Een van de opvallende kenmerken van deze microscoop op nanoschaal is de uitgebreide reeks multifunctionele meetmodi. Het ondersteunt Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopie (KPFM), Piëzo-elektrische Kracht Microscopie (PFM) en Magnetische Kracht Microscopie (MFM). Deze reeks mogelijkheden stelt gebruikers in staat om niet alleen de topografie van samples te verkennen, maar ook hun elektrische, piëzo-elektrische en magnetische eigenschappen. De toevoeging van Magnetische Kracht Microscopie MFM is met name waardevol voor onderzoekers die magnetische materialen, dunne films en nanostructuren bestuderen, en biedt gedetailleerde inzichten in magnetische domeinen en interacties op nanoschaal.

De beschikbare werkingsmodi op deze atomic force microscope verbeteren de aanpasbaarheid en het gebruiksgemak. Gebruikers kunnen kiezen uit Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode en Phase Imaging Mode, afhankelijk van de aard van hun samples en het type gegevens dat nodig is. Tap Mode is ideaal voor het afbeelden van zachte of delicate samples met minimale schade, terwijl Contact Mode beeldvorming met hoge resolutie biedt voor hardere oppervlakken. Lift Mode vergemakkelijkt niet-contactmetingen zoals magnetische en elektrostatische krachten, waardoor slijtage van de tip en verstoring van het sample worden verminderd. Phase Imaging Mode biedt extra contrast op basis van materiaaleigenschappen, waardoor gedetailleerde compositie-mapping mogelijk is.

Om de levensduur en betrouwbaarheid van de microscoopsonde te waarborgen, bevat de Atomic Force Microscope van het basistype een innovatieve Tip Protection Technology, bekend als Safe Needle Insertion Mode. Deze functie minimaliseert het risico op schade aan de tip tijdens het inbrengen en instellen, wat cruciaal is voor het handhaven van consistente beeldkwaliteit en het verminderen van operationele kosten. Het veilige naaldinvoerproces vereenvoudigt ook de samplevoorbereiding en de werking van de microscoop, waardoor deze toegankelijk is voor zowel ervaren gebruikers als degenen die nieuw zijn met atomic force microscopie.

Beeldkwaliteit en resolutie zijn kritische factoren in microscopie op nanoschaal, en dit instrument blinkt uit met een indrukwekkend beeldbemonderingsbereik van 32*32 tot 4096*4096 punten. Dit uitgebreide bereik stelt gebruikers in staat om de scansnelheid en de beelddetails in evenwicht te brengen op basis van hun specifieke behoeften, van snelle overzichtsscans tot beeldvorming met ultrahoge resolutie. De samplingmogelijkheid met hoge dichtheid zorgt ervoor dat zelfs de kleinste oppervlaktekenmerken en variaties nauwkeurig kunnen worden vastgelegd en geanalyseerd.

Voor onderzoekers en professionals die een atomic force microscope willen kopen die veelzijdigheid, precisie en gebruiksvriendelijke functies combineert, is de Atomic Force Microscope van het basistype een uitstekende keuze. Het robuuste scanningsysteem, de multifunctionele meetmodi, waaronder Magnetische Kracht Microscopie MFM, en de geavanceerde tipbeschermingstechnologie leveren gezamenlijk een krachtig platform voor onderzoek op nanoschaal. Of uw focus nu ligt op fundamenteel onderzoek of toegepaste ontwikkeling, deze microscoop op nanoschaal biedt de essentiële tools om nieuwe inzichten te ontsluiten en innovatie te stimuleren.

Samenvattend onderscheidt de Atomic Force Microscope van het basistype zich als een betrouwbaar en multifunctioneel instrument, uitgerust met XYZ-drie-assige volledige-sample-scanning, een verscheidenheid aan werkingsmodi en gespecialiseerde meetmogelijkheden zoals EFM, KPFM, PFM en MFM. De Safe Needle Insertion Mode zorgt voor bescherming van de sonde en het brede beeldbemonderingsbereik garandeert gedetailleerde en nauwkeurige beeldvorming. Als u atomic force microscopietechnologie wilt kopen die voldoet aan de hoogste normen van nano-schaalanalyse, is dit product ontworpen om uw verwachtingen te overtreffen en uw onderzoeksinspanningen met precisie en vertrouwen te ondersteunen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope van het basistype
• Sub-nanometer resolutie AFM voor precieze oppervlakteanalyse
• Scannen bereik: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Multifunctionele metingen inclusief Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Kracht Microscopie (KPFM), Piëzo-elektrische Kracht Microscopie (PFM) en Magnetische Kracht Microscopie (MFM)
• Beeld bemonsteringspunten: van 32 * 32 tot 4096 * 4096 voor beeldvorming met hoge resolutie
• XYZ-drie-assige volledige-sample-scanningsmethode voor uitgebreide oppervlaktebedekking
• Werkingsmodi: Tap Mode, Contact Mode, Lift Mode en Phase Imaging Mode
• Ideale AFM voor wetenschappelijk onderzoek en geavanceerde karakterisering van materiaaloppervlakken

Technische parameters:

Toepassingen:

De Truth Instruments AtomExplorer Atomic Force Microscope (AFM) van het basistype, afkomstig uit China, is een geavanceerd multifunctioneel meetinstrument dat is ontworpen voor een breed scala aan wetenschappelijke en industriële toepassingen. Met zijn veelzijdige mogelijkheden, waaronder Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopie (KPFM), Piëzo-elektrische Kracht Microscopie (PFM) en Magnetische Kracht Microscopie (MFM), biedt dit AFM-model uitgebreide oplossingen voor karakterisering en analyse van oppervlakken op nanoschaal.

De AtomExplorer is bijzonder geschikt voor onderzoeks- en ontwikkelingslaboratoria die zich bezighouden met nanostructuuranalyse. De sub-nanometer resolutie AFM stelt onderzoekers in staat om oppervlakte topografie met uitzonderlijke precisie te visualiseren en te meten, waarbij beeld bemonsteringspunten worden vastgelegd variërend van 32*32 tot 4096*4096. Deze hoge resolutie is essentieel voor het bestuderen van delicate nanomaterialen, dunne films en complexe moleculaire samenstellingen waar gedetailleerde oppervlakte-informatie cruciaal is.

Naast topografische beeldvorming stelt de Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM)-functie van de AtomExplorer wetenschappers in staat om elektrische eigenschappen op nanoschaal te onderzoeken, zoals ladingsverdeling en variaties in het oppervlaktepotentieel. Dit maakt het een onschatbaar hulpmiddel voor materiaalkunde, onderzoek naar halfgeleiders en nano-elektronica, waar het begrijpen van elektrostatische interacties essentieel is voor de prestaties en innovatie van apparaten.

De scanningsbereikopties van het instrument van 100 μm*100 μm*10 μm en 30 μm*30 μm*5 μm zijn geschikt voor een verscheidenheid aan samplematen en meetbehoeften, met een maximale samplegrootte van Φ 25 mm. Het lage Z-as ruisniveau van 0,04 nm verbetert de meetnauwkeurigheid verder en zorgt voor een stabiele en betrouwbare gegevensverzameling, zelfs onder uitdagende experimentele omstandigheden.

Het compacte ontwerp en de multifunctionaliteit van de AtomExplorer maken het ook ideaal voor onderwijsinstellingen en kwaliteitscontroleomgevingen waar veelzijdigheid en precisie vereist zijn. De prijs is bespreekbaar, waardoor het toegankelijk is voor een breed spectrum aan gebruikers die op zoek zijn naar hoogwaardige AFM-technologie zonder concessies te doen aan budgetoverwegingen.

Over het algemeen is de Truth Instruments AtomExplorer Atomic Force Microscope (AFM) van het basistype een krachtig en flexibel hulpmiddel voor iedereen die betrokken is bij nanostructuuranalyse, elektrostatische krachtmicroscopie (EFM) en andere geavanceerde scanning probe-technieken. Het stelt gebruikers in staat om verschijnselen op nanoschaal met vertrouwen en duidelijkheid te verkennen en te kwantificeren.