AtomExplorer: Hogeprecisie Scanning Probe Microscoop (SPM/AFM)

Productbeschrijving:

The Basic-type Atomic Force Microscope is a cutting-edge nanoscale microscope designed to provide high-precision imaging and multifunctional measurement capabilities for a wide range of scientific and industrial applicationsDit geavanceerde instrument maakt gebruik van een XYZ-methode voor het scannen van volledige monsters met drie assen, waardoor gebruikers met uitzonderlijke nauwkeurigheid en detail het oppervlak van monsters nauwkeurig kunnen analyseren.Of u onderzoek doet naar materiaalwetenschappenDeze atomic force microscope biedt de veelzijdigheid en prestaties die nodig zijn om aan uw veeleisende eisen te voldoen.

Een van de opvallende kenmerken van deze microscoop op nanoschaal is het uitgebreide pakket van multifunctionele meetmodi.Scanning Kelvin Probe Microscopy (KPFM)Deze reeks mogelijkheden stelt gebruikers in staat om niet alleen de topografie van monsters te verkennen, maar ook hun elektrische, magnetische en magnetische eigenschappen.piezo-elektrischeDe opname van Magnetic Force Microscopy MFM is bijzonder waardevol voor onderzoekers die magnetische materialen, dunne films en nanostructuren bestuderen.het verstrekken van gedetailleerde inzichten in magnetische domeinen en interacties op nanoschaal.

De werkwijzen die beschikbaar zijn op deze atoomkrachtmicroscoop vergroten de aanpassingsvermogen en gebruiksgemak.en Fase Imaging Mode, afhankelijk van de aard van hun monsters en het type vereiste gegevensDe tapmodus is ideaal voor het opnemen van zachte of delicate monsters met minimale schade, terwijl de contactmodus een hoge resolutie biedt voor harde oppervlakken.Lift Mode vergemakkelijkt niet-contactmetingen zoals magnetische en elektrostatische krachtenFase Imaging Mode zorgt voor extra contrast op basis van de materiaal eigenschappen, waardoor gedetailleerde compositie mapping.

Om de levensduur en betrouwbaarheid van de microscoop te waarborgen, bevat de Atomic Force Microscope van het Basic-type een innovatieve tipbeschermingstechnologie die bekend staat als Safe Needle Insertion Mode.Deze functie vermindert het risico op schade aan de punt tijdens het inbrengen en opzettenHet veilige naaldinvoegproces vereenvoudigt tevens de monsterafwerking en de werking van de microscoop.het toegankelijk te maken voor zowel ervaren gebruikers als nieuwkomers op het gebied van atoomkrachtmicroscopie.

De beeldkwaliteit en -resolutie zijn cruciale factoren in nanoschaalmicroscopie, en dit instrument staat uit met een indrukwekkend beeldmonsteringsbereik van 32*32 tot 4096*4096 punten.Dit uitgebreide bereik stelt gebruikers in staat om de scansnelheid en beelddetails in evenwicht te brengen volgens hun specifieke behoeften, van snelle overzichtsscans tot ultrahoge-resolutie beeldvorming.De capaciteit voor de bemonstering met een hoge dichtheid zorgt ervoor dat zelfs de kleinste oppervlaktefuncties en variaties nauwkeurig kunnen worden vastgelegd en geanalyseerd.

Voor onderzoekers en professionals die een atoomkrachtmicroscoop willen kopen die veelzijdigheid, precisie en gebruiksvriendelijke functies combineert,de Basic-type Atomic Force Microscope is een uitstekende keuzeHet robuuste scansysteem, multifunctionele meetmodi waaronder Magnetic Force Microscopy MFM,en geavanceerde tip bescherming technologie collectief leveren een krachtig platform voor nanoschaal onderzoekOf u zich nu richt op fundamenteel onderzoek of toegepaste ontwikkeling, deze microscoop op nanoschaal biedt de essentiële instrumenten om nieuwe inzichten te ontdekken en innovatie te stimuleren.

Samengevat, de Basic-type Atomic Force Microscope onderscheidt zich als een betrouwbaar en multifunctionele instrument uitgerust met XYZ drie-assige full-sample scanning, een verscheidenheid van werkwijzen,De Commissie is van mening dat de in de richtlijn bedoelde maatregelen moeten worden toegepast.De veiligheidsmodus voor het inbrengen van de naald zorgt voor de bescherming van de sonde en het brede beeldsamplagebereik garandeert gedetailleerde en nauwkeurige afbeeldingen.Als je atoomkracht microscoop technologie wilt kopen die voldoet aan de hoogste normen van nanoschaal analyse, is dit product ontworpen om uw verwachtingen te overtreffen en uw onderzoeksinspanningen met precisie en vertrouwen te ondersteunen.

Kenmerken:

• Productnaam: Atomic Force Microscope van basistype
• AFM met een resolutie onder de nanometer voor nauwkeurige oppervlaktanalyse
• Scanningbereik: 100 μm * 100 μm * 10 μm / 30 μm * 30 μm * 5 μm
• Multifunctionele metingen, waaronder elektrostatische krachtimicroscoop (EFM), scanning Kelvin sonde krachtimicroscoop (KPFM), piezo-elektrische krachtimicroscoop (PFM) en magnetische krachtimicroscoop (MFM)
• Beeldmonsteringsplaatsen: van 32 * 32 tot 4096 * 4096 voor beeldvorming met hoge resolutie
• XYZ-methode voor het scannen met drie-assige volledige monsters voor een uitgebreide oppervlakte
• Werkwijzen: tikmodus, contactmodus, liftmodus en fasebeeldvorming
• Ideale AFM voor wetenschappelijk onderzoek en geavanceerde materiaaloppervlakkenkarakterisering

Technische parameters:

Toepassingen:

The Truth Instruments AtomExplorer Basic-type Atomic Force Microscope (AFM), van oorsprong uit China,is een geavanceerd multifunctioneel meetinstrument dat is ontworpen voor een breed scala aan wetenschappelijke en industriële toepassingenMet zijn veelzijdige mogelijkheden, waaronder Elektrostatische Kracht Microscopie (EFM), Scanning Kelvin Probe Microscopie (KPFM), Piezo-elektrische Kracht Microscopie (PFM), en Magnetische Kracht Microscopie (MFM),dit AFM-model biedt uitgebreide oplossingen voor nanoschaal oppervlakkenkarakterisering en analyse.

De AtomExplorer is bijzonder geschikt voor onderzoeks- en ontwikkelingslaboratoria die zich bezighouden met nano-structurenanalyse.Met zijn AFM met een resolutie van minder dan een nanometer kunnen onderzoekers de topografie van het oppervlak met uitzonderlijke precisie visualiseren en metenDeze hoge resolutie is van essentieel belang voor het bestuderen van delicate nanomaterialen, dunne films,en complexe moleculaire assemblages waarbij gedetailleerde oppervlaktinformatie cruciaal is.

Naast topografische beeldvorming kan de functie Elektrostatische Krachtmicroscopie (EFM) van de AtomExplorer wetenschappers elektrische eigenschappen op nanoschaal onderzoeken.zoals ladingverdeling en oppervlaktepotentiële variatiesDit maakt het een waardevol hulpmiddel voor materiaalwetenschappen, halfgeleideronderzoek en nano-elektronica, waar het begrijpen van elektrostatische interacties de sleutel is tot de prestaties en innovatie van apparaten.

De scanningbereikopties van het instrument van 100 μm*100 μm*10 μm en 30 μm*30 μm*5 μm zijn geschikt voor een verscheidenheid aan steekproefgroottes en meetbehoeften, met een maximale steekproefgrootte van Φ 25 mm.Het lage geluidsniveau op de Z-as van 0.04 nm verbetert de meetnauwkeurigheid verder en zorgt voor een stabiele en betrouwbare gegevensopname, zelfs onder moeilijke experimentele omstandigheden.

Het compacte ontwerp en de multifunctionaliteit van de AtomExplorer maken hem ook ideaal voor onderwijsinstellingen en kwaliteitscontroleomgevingen waar veelzijdigheid en precisie vereist zijn.De prijs is onderhandelbaar., waardoor het toegankelijk is voor een breed scala van gebruikers die op zoek zijn naar een hoogwaardige AFM-technologie zonder afbreuk te doen aan budgetoverwegingen.

Over het algemeen is de Truth Instruments AtomExplorer Basic-type AFM een krachtig en flexibel hulpmiddel voor iedereen die betrokken is bij nano structuur analyse, elektrostatische krachtimicroscopie (EFM),en andere geavanceerde scanningsprobe-techniekenHet stelt gebruikers in staat om nanoschaalverschijnselen met vertrouwen en duidelijkheid te verkennen en te kwantificeren.